一种多层薄膜材料空间充放电效应模拟试验方法

    公开(公告)号:CN111913083B

    公开(公告)日:2023-07-21

    申请号:CN202010786658.5

    申请日:2020-08-07

    Abstract: 本发明公开了一种多层薄膜材料空间充放电效应模拟试验方法,针对热控等薄膜材料中导电层/介质层相结合的结构特点,综合考虑了薄膜材料导电层对空间低能电子屏蔽效应、以及高能电子强穿透特性,采用蒙特卡洛方法计算获得介质层的电子沉积最小能量和最大能量值,并以此为依据分析现有的空间电子能谱环境,构建影响介质层充放电效应的有效电子能谱,最终获得模拟试验中的辐照电子能量和束流密度,采用电流探头与示波器相结合方法测试薄膜材料静电放电特性,从而建立多层薄膜材料空间充放电效应模拟试验方法,解决了多层薄膜材料空间充放电效应的模拟试验参数的选取问题,为其空间环境适应性评价提供了一种有效方法。

    一种用于卫星结构电位控制的防护装置与方法

    公开(公告)号:CN112319865A

    公开(公告)日:2021-02-05

    申请号:CN202011326619.3

    申请日:2020-11-24

    Abstract: 一种用于卫星结构电位控制的防护装置与方法,所述用于卫星结构电位控制的防护装置包括金属层和附着于金属层上的介质材料层,介质材料层上通过刻蚀形成若干镂空区域,镂空区域暴露出裸露金属层,裸露金属层、介质材料层和太空中真空环境三者结合处形成三电极结构;得到所述防护装置。具有结构简单、质量轻、零功耗等优点,为从根本上解决卫星高压太阳电池阵静电放电问题提供了一条低成本、高效率的途径。

    深层带电效应诱发静电放电对器件影响的试验装置和方法

    公开(公告)号:CN117991010A

    公开(公告)日:2024-05-07

    申请号:CN202410047967.9

    申请日:2024-01-12

    Applicant: 许昌学院

    Abstract: 本发明公开了一种深层带电效应诱发静电放电对器件影响的试验装置和方法,包括商用ESD发生器控制单元和RLC电路,商用ESD发生器控制单元的放电电极电连接金属平板,ESD发生器放电电极应与金属平板表面保持垂直;所述RLC电路由电阻R、电感L、电容C依次串联构成,所述金属平板同时与RLC电路中电感L和电容C的接点连接,RLC电路中电阻R和电容C的接点通过一导线连接到滑动开关,滑动开关连接待测试器件的不同管脚,所述导线置于示波器的电流探头中,由示波器测试放电脉冲波形,解决了深层带电效应产生放电脉冲特征有效模拟的问题,且脉冲参数具有很好的可控性和重复性,为定量研究深层带电效应诱发静电放电对电子器件影响提供了一种方便、经济的方法。

    一种温度对空间介质材料电导率影响的测试方法

    公开(公告)号:CN109188086B

    公开(公告)日:2021-01-15

    申请号:CN201811090707.0

    申请日:2018-09-19

    Applicant: 许昌学院

    Abstract: 本发明公开了一种温度对空间介质材料电导率影响的测试方法,将两个完全相同的测试样品置于温控试验台上,一个样品用于电导率测试,另一个样品用于温度测试,从而实现温度对空间介质材料电导率影响的测试。本发明提出采用两个完全相同的试验样品置于温控试验台,使其处于相同温度状态,一个样品用于电导率测试,另一个样品用于温度测试,解决了介质材料电导率和温度测试信号相互干扰问题,从而为不同温度下介质材料电导率测试提供一条更为方便、易实现的试验方法。

    一种多层薄膜材料空间充放电效应模拟试验方法

    公开(公告)号:CN111913083A

    公开(公告)日:2020-11-10

    申请号:CN202010786658.5

    申请日:2020-08-07

    Abstract: 本发明公开了一种多层薄膜材料空间充放电效应模拟试验方法,针对热控等薄膜材料中导电层/介质层相结合的结构特点,综合考虑了薄膜材料导电层对空间低能电子屏蔽效应、以及高能电子强穿透特性,采用蒙特卡洛方法计算获得介质层的电子沉积最小能量和最大能量值,并以此为依据分析现有的空间电子能谱环境,构建影响介质层充放电效应的有效电子能谱,最终获得模拟试验中的辐照电子能量和束流密度,采用电流探头与示波器相结合方法测试薄膜材料静电放电特性,从而建立多层薄膜材料空间充放电效应模拟试验方法,解决了多层薄膜材料空间充放电效应的模拟试验参数的选取问题,为其空间环境适应性评价提供了一种有效方法。

    一种温度对空间介质材料电导率影响的测试方法

    公开(公告)号:CN109188086A

    公开(公告)日:2019-01-11

    申请号:CN201811090707.0

    申请日:2018-09-19

    Applicant: 许昌学院

    CPC classification number: G01R27/02

    Abstract: 本发明公开了一种温度对空间介质材料电导率影响的测试方法,将两个完全相同的测试样品置于温控试验台上,一个样品用于电导率测试,另一个样品用于温度测试,从而实现温度对空间介质材料电导率影响的测试。本发明提出采用两个完全相同的试验样品置于温控试验台,使其处于相同温度状态,一个样品用于电导率测试,另一个样品用于温度测试,解决了介质材料电导率和温度测试信号相互干扰问题,从而为不同温度下介质材料电导率测试提供一条更为方便、易实现的试验方法。

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