公开(公告)号：CN102316670A

公开(公告)日：2012-01-11

申请号：CN201110206213.6

申请日：2011-07-22

Applicant: 西安电子科技大学

Inventor： 来新泉 ,  史凌峰 ,  张颖 ,  肖垣明 ,  毕明路

IPC: H05K1/02

Abstract: 本发明公开了一种具有多周期平面电磁带隙的电路板，主要解决现有平面电磁带隙电路板的阻带宽度窄的问题。该电路板由电源平面(1)、地平面(2)和介质层(3)组成。其中电源平面(1)，包括多个小周期平面电磁带隙单元(101)、多个大周期平面电磁带隙单元(102)和多条级联桥接连线(103)，两种平面电磁带隙单元(101)和(102)分别位于电源平面的左侧和右侧，均以方阵形式排列，且通过级联桥接连线(103)连接，构成多周期电源平面结构。本发明在抑制深度为-30dB时，其阻带范围为0.7GHz～8.4GHz，阻带宽度为7.7GHz，相比于单一周期平面电磁带隙单元的电路板，其带隙宽度明显展宽，能够有效抑制同步开关噪声，可用于高速电路和宽带器件。

公开(公告)号：CN102169156B

公开(公告)日：2013-02-27

申请号：CN201110127449.0

申请日：2011-05-18

Applicant: 西安电子科技大学

Inventor： 来新泉 ,  姜建国 ,  甄立冬 ,  肖垣明 ,  臧明相 ,  刘春艳 ,  闫国虹 ,  李军政

IPC: G01R31/02 ,  G01N21/956

Abstract: 本发明提供一种应用EMScan技术对高密度电子电路故障的检测方法，用于非接触式快速检测电子电路的物理和电气缺陷。利用EMScan扫描仪对标准电路板和待测电路板频谱的扫描，将两者的频谱图和基本信息存入数据库；通过标准板和待测板频谱图作差，得频谱差图，设频率对比阈值，得异常频率点；依此异常频点完成上述两板云图扫描及云图对比，得云图差图；选择云图差图阈值得到阈值图像，确定问题区域元器件列表，以便进一步查对。本发明提高了高密度电子电路组装工艺的可控性，保证了其产品质量和可靠性，同时降低了检测工作量，提高了检测效率，缩短了电子装备生产周期。可用于电装行业的高密度电子电路组装过程中检测和其它的故障检测。

公开(公告)号：CN102169156A

公开(公告)日：2011-08-31

申请号：CN201110127449.0

申请日：2011-05-18

Applicant: 西安电子科技大学

Inventor： 来新泉 ,  姜建国 ,  甄立冬 ,  肖垣明 ,  臧明相 ,  刘春艳 ,  闫国虹 ,  李军政

IPC: G01R31/02 ,  G01N21/956

Abstract: 本发明提供一种应用EMScan技术对高密度电子电路故障的检测方法，用于非接触式快速检测电子电路的物理和电气缺陷。利用EMScan扫描仪对标准电路板和待测电路板频谱的扫描，将两者的频谱图和基本信息存入数据库；通过标准板和待测板频谱图作差，得频谱差图，设频率对比阈值，得异常频率点；依此异常频点完成上述两板云图扫描及云图对比，得云图差图；选择云图差图阈值得到阈值图像，确定问题区域元器件列表，以便进一步查对。本发明提高了高密度电子电路组装工艺的可控性，保证了其产品质量和可靠性，同时降低了检测工作量，提高了检测效率，缩短了电子装备生产周期。可用于电装行业的高密度电子电路组装过程中检测和其它的故障检测。