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公开(公告)号：CN109794856A
公开(公告)日：2019-05-24
申请号：CN201910092965.0
申请日：2019-01-30
Applicant: 西安交通大学
IPC: B24B53/065 , B24B49/12 , B24B41/06
Abstract: 本发明公开了一种基于多轴联动精密测量系统的成型模砂轮修整数据获取方法，该方法将复杂型线零件的试制件安装于多轴联动精密测量系统，并将基本数据输入多轴联动精密测量系统的配套软件中后，采用分段两轴联动的测量路径规划运动控制方案，对测量数据采用等弧长微分采样方式实施采集，然后拟合理论设计点确定各点法矢，以各理论设计点为移动窗插值中心，采用移动窗拉个朗日插值多项式，确定测得数据在设计点处局部曲线函数，根据各设计点、法矢、局部曲线计算理论设计点到局部曲线的距离，该距离即为砂轮各理论设计点的法向误差值，即砂轮的二次修整参考数据。本发明通过对成形磨加工获得的复杂型线零件轮廓误差结果的检测，即可获得砂轮的二次修整数据。
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公开(公告)号：CN109782815A
公开(公告)日：2019-05-21
申请号：CN201811614389.3
申请日：2018-12-27
Applicant: 西安交通大学
IPC: G05D3/12
Abstract: 本发明公开了一种基于多轴联动系统的复杂型面自适应测量路径规划方法，该方法基于移动窗样条插值算法，以及定位移恒测力模式的随动控制方法，实现复杂型线型面误差精密测量。在复杂型面连续自动扫描检测过程中，待测的目标点位置由已测点推算获得；在测头由已测点向待测点扫描运动的过程中，软件与硬件控制其与工件保持接触状态，保证测头处于预置变形状态附近，从而使测针球心的运动轨迹尽可能与被测表面变化吻合，实现测头沿工件实际表面的仿形测量。测头的位置采样数据中包含其实际轨迹数据，结合空间几何分析方法即可完成对工件实际模型的提取，进而可基于理论模型完成工件的误差分析，实现复杂型线型面误差精密测量。
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公开(公告)号：CN108663520A
公开(公告)日：2018-10-16
申请号：CN201810281720.8
申请日：2018-04-02
Applicant: 西安交通大学 , 苏州拜恩翰斯生物医药有限公司
IPC: G01N33/574 , G01N33/68
CPC classification number: G01N33/574 , G01N33/68
Abstract: 本发明公开了一种肿瘤耐药性相关蛋白的免疫印迹检测方法，包括以下步骤：S1、提取目的蛋白及电泳：提取目标蛋白样品，制备凝胶，进行电泳；S2、转膜：电泳结束后切下目的蛋白凝胶，按照滤纸、PVDF膜、胶、滤纸由下往上顺序排列，放入半干转膜仪中恒压25V、转印40min；S3、封闭：转膜结束后加入适量封闭液室温振摇孵育30min；S4、抗体孵育：加入稀释后的一抗室温振摇孵育2h，加入稀释后的二抗室温孵育1h；S5、显色：放入凝胶成像仪器中采集信号。本发明针对肿瘤耐药性相关蛋白P-糖蛋白采用半干转转膜方法，可以节省缓冲液和时间；采用室温静置进行变性处理检测效果更好；采用的一抗和二抗稀释比例能获得较好的蛋白检测信号。
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公开(公告)号：CN101776730B
公开(公告)日：2012-07-04
申请号：CN201010103360.6
申请日：2010-01-29
Applicant: 西安交通大学
IPC: G01R31/3183
Abstract: 本发明涉及集成电路测试领域，公开了一种集成电路的测试图形生成器及其测试方法。该测试图形生成器包括可重构的单个位变化的循环码线性反馈移位寄存器，基于本原多项式的线性反馈移位寄存器，二维异或门阵列；与传统的测试图形生成器相比，硬件开销较小，重复的测试图形数量少，测试时间短，生成的测试图形均匀分布，能够获得较高的故障覆盖率；并且所生成的单跳变测试序列降低了被测电路输入端的转换次数，从而大大降低被测集成电路的测试功耗。
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公开(公告)号：CN101614789B
公开(公告)日：2012-07-04
申请号：CN200910023396.0
申请日：2009-07-21
Applicant: 西安交通大学
IPC: G01R31/3183
Abstract: 本发明涉及集成电路测试领域，公开了一种集成电路的低功耗测试图形生成器及其测试方法。该集成电路的低功耗测试图形生成器基于可重构Johnson计数器，与传统的测试图形生成器相比，所生成的测试序列可在空间域和时间域同时减少测试图形转换次数，在空间域测试图形生成频率低，在时间域对每条扫描链生成不相同的单输入变化序列，从而大大降低被测集成电路的组合逻辑电路部分的功耗和扫描链的扫描功耗。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101614789A
公开(公告)日：2009-12-30
申请号：CN200910023396.0
申请日：2009-07-21
Applicant: 西安交通大学
IPC: G01R31/3183
Abstract: 本发明涉及集成电路测试领域，公开了一种集成电路的低功耗测试图形生成器及其测试方法。该集成电路的低功耗测试图形生成器基于可重构Johnson计数器，与传统的测试图形生成器相比，所生成的测试序列可在空间域和时间域同时减少测试图形转换次数，在空间域测试图形生成频率低，在时间域对每条扫描链生成不相同的单输入变化序列，从而大大降低被测集成电路的组合逻辑电路部分的功耗和扫描链的扫描功耗。
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公开(公告)号：CN109299515B
公开(公告)日：2021-08-13
申请号：CN201810988796.4
申请日：2018-08-28
Applicant: 西安交通大学 , 西安秦川思源测量仪器有限公司
IPC: G06F30/17 , G06F30/20 , G01B21/00 , G01B21/20 , G06F111/10
Abstract: 本发明提供了一种基于安装误差提取及修正的工件加工误差分析方法。该方法基于四轴联动测量平台，根据工件参数建立其数学模型，采用随动轨迹路径规划采集工件测量数据；获取工件安装基准相对于测量平台回转轴的安装误差，基于坐标变化原理分析得出工件的安装误差矩阵，量化安装误差；将机器坐标系下所采集的测量数据经安装误差补偿后变换到工件坐标系下，完成安装误差修正；与数学模型进行最优匹配，消除系统误差；利用匹配后的数据进行误差分析，从而提高误差分析精度。
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公开(公告)号：CN109794856B
公开(公告)日：2021-02-09
申请号：CN201910092965.0
申请日：2019-01-30
Applicant: 西安交通大学
IPC: B24B53/065 , B24B49/12 , B24B41/06
Abstract: 本发明公开了一种成型磨砂轮修整数据获取方法，该方法将复杂型面零件的安装于多轴联动精密测量系统，并将基本数据输入多轴联动精密测量系统的配套软件中后，采用分段两轴联动的测量路径规划运动控制方案，对测量数据采用等弧长微分采样方式实施采集，然后拟合理论数据点确定各点法矢，以各理论数据点为移动窗插值中心，采用移动窗拉格朗日插值多项式，确定测得数据在设计点处局部曲线函数，根据各设计点、法矢、局部曲线计算理论数据点到局部曲线的距离，该距离即为砂轮各理论数据点的法向误差值，即砂轮的二次修整参考数据。本发明通过对成形磨加工获得的复杂型面零件轮廓误差结果的检测，即可获得砂轮的二次修整数据。
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公开(公告)号：CN109782815B
公开(公告)日：2020-06-19
申请号：CN201811614389.3
申请日：2018-12-27
Applicant: 西安交通大学
IPC: G05D3/12
Abstract: 本发明公开了一种基于多轴联动系统的复杂型面自适应测量路径规划方法，该方法基于移动窗样条插值算法，以及定位移恒测力模式的随动控制方法，实现复杂型线型面误差精密测量。在复杂型面连续自动扫描检测过程中，待测的目标点位置由已测点推算获得；在测头由已测点向待测点扫描运动的过程中，软件与硬件控制其与工件保持接触状态，保证测头处于预置变形状态附近，从而使测针球心的运动轨迹尽可能与被测表面变化吻合，实现测头沿工件实际表面的仿形测量。测头的位置采样数据中包含其实际轨迹数据，结合空间几何分析方法即可完成对工件实际模型的提取，进而可基于理论模型完成工件的误差分析，实现复杂型线型面误差精密测量。
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公开(公告)号：CN101937056B
公开(公告)日：2012-07-18
申请号：CN201010256212.8
申请日：2010-08-18
Applicant: 西安交通大学
IPC: G01R31/3183 , G01R31/3185 , H03M7/30
Abstract: 本发明公开了一种数字集成电路测试数据的压缩生成方法，与传统测试方法不同，该方法首先解析出一类具有线性关系的单输入变化测试序列，通过故障模拟的方法确认测试序列中具有新的故障检测能力的测试图形集，测试图形集经线性关系压缩后的一小部分位的值则为压缩后的测试图形集，可存储在自动测试设备ATE中。在测试施加时，压缩后的测试图形集按预先定义的线性关系由硬件电路解压，还原出实际的测试图形集，并施加给被测电路。ATE中存储的数据量比实际的测试图形集的数据量小得多，该测试方法具有压缩率高、易于实现、功耗低和覆盖率高的特点。
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