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公开(公告)号：CN112152610B
公开(公告)日：2023-06-16
申请号：CN202011003332.7
申请日：2020-09-22
Applicant: 西安交通大学
Abstract: 本发明提供一种具有宽带快速跳频功能的锁相环，以解决跳频时间长的问题。包括模拟高速计数单元、数字处理单元和窄带压控振荡组；窄带压控振荡器组，由多个窄带压控振荡器组成，窄带压控振荡器输出频率信号；模拟高速计数单元，用于快速计数窄带压控振荡器输出的频率信号中的高频信号，完成高频信号计数后得到的计数脉冲和计数值转换为低频信号传给数字处理单元；数字处理单元，用于接收来自模拟高速计数单元的计数脉冲和计数值，利用计数脉冲和计数值计算当前窄带压控振荡器的频率，并寻找输出目标频率的窄带压控振荡器及窄带压控振荡器的频段。本发明能够在不影响锁相环性能的条件下，减少锁相环的跳频时间。
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公开(公告)号：CN114429099B
公开(公告)日：2024-01-19
申请号：CN202210101247.7
申请日：2022-01-27
Applicant: 西安交通大学
IPC: G06F30/373 , G06F30/367 , G06N5/01 , G06N7/01 , G06N3/126 , G06F111/04 , G06F111/06 , G06F111/08
Abstract: 本发明公开了一种模拟集成电路参数优化方法及系统，所述方法包括以下步骤：获取待参数优化的模拟集成电路的电路结构、性能指标要求、基于gm/ID设计方法学的电路设计参数及其取值范围、ID/W‑gm/ID查找表、迭代停止条件；根据获取的所述基于gm/ID设计方法学的电路设计参数及其取值范围，采样得到训练样本集；将所述训练样本集中的每个样本分别输入电路仿真器进行仿真，获得对应的训练响应集；基于所述训练样本集和训练响应集进行迭代处理，实现模拟集成电路参数优化。本发明的方法相当于在电路的特征空间对电路进行优化，能够显著提高算法的优化效果与加速收敛速度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111190452A
公开(公告)日：2020-05-22
申请号：CN202010010397.8
申请日：2020-01-06
Applicant: 西安交通大学
IPC: G05F1/567
Abstract: 本发明公开了一种基准电路芯片温度系数的测试方法，包括以下步骤：步骤1，将保护二极管反偏设置，使得基准电路芯片正常工作；在室温下测试基准电路芯片的输出电压；步骤2，将保护二极管正偏设置，通过保护二极管加热基准电路芯片至预设温度；将保护二极管反偏设置，使得基准电路芯片正常工作，测试预设温度下基准电路芯片的输出电压，绘制获得输出电压温度系数曲线；其中，预设温度的取值范围为27℃～85℃。本发明测试方法简单，对测试仪器要求较低，测试结果可靠性高。
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公开(公告)号：CN114492279B
公开(公告)日：2024-01-19
申请号：CN202210101249.6
申请日：2022-01-27
Applicant: 西安交通大学
IPC: G06F30/373 , G06N7/01 , G06F18/243 , G06F18/27 , G06F111/04 , G06F111/08
Abstract: 本发明公开了一种模拟集成电路的参数优化方法及系统，所述方法包括以下步骤：获取待参数优化的模拟集成电路的电路结构、性能指标要求、设计参数及其取值范围、迭代停止条件；基于获取的设计参数及其取值范围，采样获得训练样本集；将所述训练样本集中的每个样本分别输入电路仿真器进行仿真，获得对应的训练响应集；基于所述训练样本集和训练响应集进行迭代，实现模拟集成电路的参数优化。本发明为缓解维数灾难的问题，使算法具有处理高维优化问题的能力，提出了一种基于互信息分析的逐步优化策略；在每次迭代中，仅选取部分设计变量进行优化，能够缓解维数灾难。
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公开(公告)号：CN114429099A
公开(公告)日：2022-05-03
申请号：CN202210101247.7
申请日：2022-01-27
Applicant: 西安交通大学
IPC: G06F30/373 , G06F30/367 , G06N7/00 , G06N3/12 , G06F111/04 , G06F111/06 , G06F111/08
Abstract: 本发明公开了一种模拟集成电路参数优化方法及系统，所述方法包括以下步骤：获取待参数优化的模拟集成电路的电路结构、性能指标要求、基于gm/ID设计方法学的电路设计参数及其取值范围、ID/W‑gm/ID查找表、迭代停止条件；根据获取的所述基于gm/ID设计方法学的电路设计参数及其取值范围，采样得到训练样本集；将所述训练样本集中的每个样本分别输入电路仿真器进行仿真，获得对应的训练响应集；基于所述训练样本集和训练响应集进行迭代处理，实现模拟集成电路参数优化。本发明的方法相当于在电路的特征空间对电路进行优化，能够显著提高算法的优化效果与加速收敛速度。
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公开(公告)号：CN112152610A
公开(公告)日：2020-12-29
申请号：CN202011003332.7
申请日：2020-09-22
Applicant: 西安交通大学
Abstract: 本发明提供一种具有宽带快速跳频功能的锁相环，以解决跳频时间长的问题。包括模拟高速计数单元、数字处理单元和窄带压控振荡组；窄带压控振荡器组，由多个窄带压控振荡器组成，窄带压控振荡器输出频率信号；模拟高速计数单元，用于快速计数窄带压控振荡器输出的频率信号中的高频信号，完成高频信号计数后得到的计数脉冲和计数值转换为低频信号传给数字处理单元；数字处理单元，用于接收来自模拟高速计数单元的计数脉冲和计数值，利用计数脉冲和计数值计算当前窄带压控振荡器的频率，并寻找输出目标频率的窄带压控振荡器及窄带压控振荡器的频段。本发明能够在不影响锁相环性能的条件下，减少锁相环的跳频时间。
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公开(公告)号：CN114492279A
公开(公告)日：2022-05-13
申请号：CN202210101249.6
申请日：2022-01-27
Applicant: 西安交通大学
IPC: G06F30/373 , G06N7/00 , G06K9/62 , G06F111/04 , G06F111/08
Abstract: 本发明公开了一种模拟集成电路的参数优化方法及系统，所述方法包括以下步骤：获取待参数优化的模拟集成电路的电路结构、性能指标要求、设计参数及其取值范围、迭代停止条件；基于获取的设计参数及其取值范围，采样获得训练样本集；将所述训练样本集中的每个样本分别输入电路仿真器进行仿真，获得对应的训练响应集；基于所述训练样本集和训练响应集进行迭代，实现模拟集成电路的参数优化。本发明为缓解维数灾难的问题，使算法具有处理高维优化问题的能力，提出了一种基于互信息分析的逐步优化策略；在每次迭代中，仅选取部分设计变量进行优化，能够缓解维数灾难。
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