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公开(公告)号：CN112985603B
公开(公告)日：2024-07-02
申请号：CN202110242820.1
申请日：2016-08-29
Applicant: 苹果公司
Abstract: 本公开涉及用于非接触式感测物质的基准开关架构。本发明涉及用于在采样界面处测量样本(620)中的物质的浓度和类型的系统(600)和方法。所述系统(600)包括光源(602)、一个或多个光学器件(606,610,612)、一个或多个调制器(634,636)、基准(608)、检测器(630)以及控制器(640)。所公开的所述系统和所述方法能够通过在不同的测量光路之间共享一个或多个部件来考虑源自所述光源、一个或多个光学器件和所述检测器的漂移。另外，通过在所述光源与所述样本或基准之间放置一个或多个调制器，所述系统能够区分不同类型的漂移并且消除因杂散光导致的错误测量。此外，通过将检测器像素和微光学器件映射到所述样本中的位置和深度，所述系统能够沿着所述样本内的各种位置和深度检测所述物质。
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公开(公告)号：CN116113808A
公开(公告)日：2023-05-12
申请号：CN202180058238.8
申请日：2021-07-29
Applicant: 苹果公司
IPC: G01J1/04
Abstract: 一种电磁辐射检测器包括：InP基板，该InP基板具有与第二表面相对的第一表面；第一InGaAs电磁辐射吸收器，该第一InGaAs电磁辐射吸收器堆叠在该第一表面上并被配置为吸收第一组电磁辐射波长；一组一个或多个缓冲层，该一组一个或多个缓冲层堆叠在该第一InGaAs电磁辐射吸收器上并且被配置为吸收该第一组电磁辐射波长中的至少一些电磁辐射波长；第二InGaAs电磁辐射吸收器，该第二InGaAs电磁辐射吸收器堆叠在该一组一个或多个缓冲层上并且被配置为吸收第二组电磁辐射波长；以及浸没式聚光透镜，该浸没式聚光透镜形成在该第二表面上并被配置为引导电磁辐射穿过该InP基板并将其导向该第一InGaAs电磁辐射吸收器和该第二InGaAs电磁辐射吸收器。
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公开(公告)号：CN109073462A
公开(公告)日：2018-12-21
申请号：CN201780025015.5
申请日：2017-04-13
Applicant: 苹果公司
Abstract: 提供了用于测量样本的一个或多个属性的方法和系统。所述方法和系统可以包括与多个波长相关联的信号的多路复用测量，而不添加任何信号无关噪声并且不增加所述总测量时间。一个或多个编码级别，其中在一些示例中，某个编码级别可以嵌套在一个或多个其他编码级别内。多路复用可包括波长、位置和检测器状态多路复用。在一些示例中，可以基于一个或多个属性，包括但不限于信号强度、漂移属性、检测到的光功率、波长、一个或多个部件内的位置、所述光源的材料属性和电功率将一个或多个信号分组，从而增强SNR。在一些示例中，所述系统可以被配置为基于给定组的所述属性分别优化每个组的所述条件。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113899452B
公开(公告)日：2024-04-19
申请号：CN202111169984.2
申请日：2017-04-13
Applicant: 苹果公司
Abstract: 本公开涉及用于参考切换的多路复用和编码。提供了用于测量样本的一个或多个属性的方法和系统。所述方法和系统可以包括与多个波长相关联的信号的多路复用测量，而不添加任何信号无关噪声并且不增加所述总测量时间。一个或多个编码级别，其中在一些示例中，某个编码级别可以嵌套在一个或多个其他编码级别内。多路复用可包括波长、位置和检测器状态多路复用。在一些示例中，可以基于一个或多个属性，包括但不限于信号强度、漂移属性、检测到的光功率、波长、一个或多个部件内的位置、所述光源的材料属性和电功率将一个或多个信号分组，从而增强SNR。在一些示例中，所述系统可以被配置为基于给定组的所述属性分别优化每个组的所述条件。
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公开(公告)号：CN109073462B
公开(公告)日：2021-09-24
申请号：CN201780025015.5
申请日：2017-04-13
Applicant: 苹果公司
Abstract: 提供了用于测量样本的一个或多个属性的方法和系统。所述方法和系统可以包括与多个波长相关联的信号的多路复用测量，而不添加任何信号无关噪声并且不增加所述总测量时间。一个或多个编码级别，其中在一些示例中，某个编码级别可以嵌套在一个或多个其他编码级别内。多路复用可包括波长、位置和检测器状态多路复用。在一些示例中，可以基于一个或多个属性，包括但不限于信号强度、漂移属性、检测到的光功率、波长、一个或多个部件内的位置、所述光源的材料属性和电功率将一个或多个信号分组，从而增强SNR。在一些示例中，所述系统可以被配置为基于给定组的所述属性分别优化每个组的所述条件。
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公开(公告)号：CN108449957A
公开(公告)日：2018-08-24
申请号：CN201680049893.6
申请日：2016-08-29
Applicant: 苹果公司
Abstract: 本发明涉及用于在采样界面处测量样本(620)中的物质的浓度和类型的系统(600)和方法。所述系统(600)包括光源(602)、一个或多个光学器件(606,610,612)、一个或多个调制器(634,636)、基准(608)、检测器(630)以及控制器(640)。所公开的所述系统和所述方法能够通过在不同的测量光路之间共享一个或多个部件来考虑源自所述光源、一个或多个光学器件和所述检测器的漂移。另外，通过在所述光源与所述样本或基准之间放置一个或多个调制器，所述系统能够区分不同类型的漂移并且消除因杂散光导致的错误测量。此外，通过将检测器像素和微光学器件映射到所述样本中的位置和深度，所述系统能够沿着所述样本内的各种位置和深度检测所述物质。
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公开(公告)号：CN116057866A
公开(公告)日：2023-05-02
申请号：CN202180053402.6
申请日：2021-09-22
Applicant: 苹果公司
IPC: H04J14/02
Abstract: 本文公开了涉及在光学复用系统中对光进行解复用和复用的方法和系统。光学复用系统可以包括多个光发射器和多个相关联的波导。从该多个光发射器中的每个光发射器发射的光可以行进通过该相关联的波导并且可以进入复用器，在该复用器处可以发生复用操作。该多个光发射器中的至少一个光发射器可以被配置为发射具有多个波长的光。这样的光发射器还可以与解复用器相关联，以在该具有多个波长的光到达该复用器之前对该光进行解复用。在解复用操作之后，经解复用的光可以被引导到多个波导，并且该多个波导可以将该经解复用的光引导到该复用器。
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公开(公告)号：CN109073460B
公开(公告)日：2022-08-23
申请号：CN201780024955.2
申请日：2017-04-13
Applicant: 苹果公司
Abstract: 本发明公开了用于确定样本的一个或多个属性的系统和方法。所公开的系统和方法可能够沿多个位置进行测量，并且可将样本内的多个光学路径重新成像并解析。所述系统可配置有适用于紧凑型系统的一层或两层光学器件。可以简化所述光学器件以减少经涂覆的光学表面的数量和复杂性、标准具效应、制造公差叠加问题，以及基于干涉的光谱误差。所述光学器件的大小、数量和位置可在整个所述样本上和所述样本内的各个位置处实现多个同时或非同时测量。此外，所述系统可配置有位于所述样本和所述光学器件之间的光学间隔件窗口，并且本发明公开了考虑由于包含所述光学间隔件窗口而导致的光学路径变化的方法。
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