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公开(公告)号：CN108027317B
公开(公告)日：2021-03-16
申请号：CN201680053017.0
申请日：2016-08-29
Applicant: 苹果公司
IPC: G01N21/27
Abstract: 本发明公开了用于参考方案的测量时间分布(1276,1277,1278)的方法和系统。本公开的方法和系统能够基于样本信号、参考对象信号、噪声水平和SNR动态地改变测量时间分布。该方法和系统被配置有多个测量状态，包括样本测量状态(1282)、参考对象测量状态(1284)和暗场测量状态(1286)。在一些示例中，测量时间分布方案可基于工作波长、采样界面处的测量位置和/或目标SNR。本发明的示例还包括用于同时测量不同测量状态的系统和方法。然而，系统和方法可包括高频检测器以消除或减小会降低SNR的去相关噪声波动。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109073462A
公开(公告)日：2018-12-21
申请号：CN201780025015.5
申请日：2017-04-13
Applicant: 苹果公司
Abstract: 提供了用于测量样本的一个或多个属性的方法和系统。所述方法和系统可以包括与多个波长相关联的信号的多路复用测量，而不添加任何信号无关噪声并且不增加所述总测量时间。一个或多个编码级别，其中在一些示例中，某个编码级别可以嵌套在一个或多个其他编码级别内。多路复用可包括波长、位置和检测器状态多路复用。在一些示例中，可以基于一个或多个属性，包括但不限于信号强度、漂移属性、检测到的光功率、波长、一个或多个部件内的位置、所述光源的材料属性和电功率将一个或多个信号分组，从而增强SNR。在一些示例中，所述系统可以被配置为基于给定组的所述属性分别优化每个组的所述条件。
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公开(公告)号：CN113899452B
公开(公告)日：2024-04-19
申请号：CN202111169984.2
申请日：2017-04-13
Applicant: 苹果公司
Abstract: 本公开涉及用于参考切换的多路复用和编码。提供了用于测量样本的一个或多个属性的方法和系统。所述方法和系统可以包括与多个波长相关联的信号的多路复用测量，而不添加任何信号无关噪声并且不增加所述总测量时间。一个或多个编码级别，其中在一些示例中，某个编码级别可以嵌套在一个或多个其他编码级别内。多路复用可包括波长、位置和检测器状态多路复用。在一些示例中，可以基于一个或多个属性，包括但不限于信号强度、漂移属性、检测到的光功率、波长、一个或多个部件内的位置、所述光源的材料属性和电功率将一个或多个信号分组，从而增强SNR。在一些示例中，所述系统可以被配置为基于给定组的所述属性分别优化每个组的所述条件。
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公开(公告)号：CN109073462B
公开(公告)日：2021-09-24
申请号：CN201780025015.5
申请日：2017-04-13
Applicant: 苹果公司
Abstract: 提供了用于测量样本的一个或多个属性的方法和系统。所述方法和系统可以包括与多个波长相关联的信号的多路复用测量，而不添加任何信号无关噪声并且不增加所述总测量时间。一个或多个编码级别，其中在一些示例中，某个编码级别可以嵌套在一个或多个其他编码级别内。多路复用可包括波长、位置和检测器状态多路复用。在一些示例中，可以基于一个或多个属性，包括但不限于信号强度、漂移属性、检测到的光功率、波长、一个或多个部件内的位置、所述光源的材料属性和电功率将一个或多个信号分组，从而增强SNR。在一些示例中，所述系统可以被配置为基于给定组的所述属性分别优化每个组的所述条件。
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公开(公告)号：CN113899452A
公开(公告)日：2022-01-07
申请号：CN202111169984.2
申请日：2017-04-13
Applicant: 苹果公司
Abstract: 本公开涉及用于参考切换的多路复用和编码。提供了用于测量样本的一个或多个属性的方法和系统。所述方法和系统可以包括与多个波长相关联的信号的多路复用测量，而不添加任何信号无关噪声并且不增加所述总测量时间。一个或多个编码级别，其中在一些示例中，某个编码级别可以嵌套在一个或多个其他编码级别内。多路复用可包括波长、位置和检测器状态多路复用。在一些示例中，可以基于一个或多个属性，包括但不限于信号强度、漂移属性、检测到的光功率、波长、一个或多个部件内的位置、所述光源的材料属性和电功率将一个或多个信号分组，从而增强SNR。在一些示例中，所述系统可以被配置为基于给定组的所述属性分别优化每个组的所述条件。
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公开(公告)号：CN108027317A
公开(公告)日：2018-05-11
申请号：CN201680053017.0
申请日：2016-08-29
Applicant: 苹果公司
IPC: G01N21/27
Abstract: 本发明公开了用于参考方案的测量时间分布(1276,1277,1278)的方法和系统。本公开的方法和系统能够基于样本信号、参考对象信号、噪声水平和SNR动态地改变测量时间分布。该方法和系统被配置有多个测量状态，包括样本测量状态(1282)、参考对象测量状态(1284)和暗场测量状态(1286)。在一些示例中，测量时间分布方案可基于工作波长、采样界面处的测量位置和/或目标SNR。本发明的示例还包括用于同时测量不同测量状态的系统和方法。然而，系统和方法可包括高频检测器以消除或减小会降低SNR的去相关噪声波动。
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