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公开(公告)号：CN112985603B
公开(公告)日：2024-07-02
申请号：CN202110242820.1
申请日：2016-08-29
Applicant: 苹果公司
Abstract: 本公开涉及用于非接触式感测物质的基准开关架构。本发明涉及用于在采样界面处测量样本(620)中的物质的浓度和类型的系统(600)和方法。所述系统(600)包括光源(602)、一个或多个光学器件(606,610,612)、一个或多个调制器(634,636)、基准(608)、检测器(630)以及控制器(640)。所公开的所述系统和所述方法能够通过在不同的测量光路之间共享一个或多个部件来考虑源自所述光源、一个或多个光学器件和所述检测器的漂移。另外，通过在所述光源与所述样本或基准之间放置一个或多个调制器，所述系统能够区分不同类型的漂移并且消除因杂散光导致的错误测量。此外，通过将检测器像素和微光学器件映射到所述样本中的位置和深度，所述系统能够沿着所述样本内的各种位置和深度检测所述物质。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108449957A
公开(公告)日：2018-08-24
申请号：CN201680049893.6
申请日：2016-08-29
Applicant: 苹果公司
Abstract: 本发明涉及用于在采样界面处测量样本(620)中的物质的浓度和类型的系统(600)和方法。所述系统(600)包括光源(602)、一个或多个光学器件(606,610,612)、一个或多个调制器(634,636)、基准(608)、检测器(630)以及控制器(640)。所公开的所述系统和所述方法能够通过在不同的测量光路之间共享一个或多个部件来考虑源自所述光源、一个或多个光学器件和所述检测器的漂移。另外，通过在所述光源与所述样本或基准之间放置一个或多个调制器，所述系统能够区分不同类型的漂移并且消除因杂散光导致的错误测量。此外，通过将检测器像素和微光学器件映射到所述样本中的位置和深度，所述系统能够沿着所述样本内的各种位置和深度检测所述物质。
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公开(公告)号：CN107580673A
公开(公告)日：2018-01-12
申请号：CN201680005163.6
申请日：2016-01-08
Applicant: 苹果公司
CPC classification number: G01J5/0825 , G01J4/04 , G01J5/0225 , G01J5/0846 , G01J5/0853 , G01J5/20 , G01J2005/202
Abstract: 本发明涉及被配置为选择性地检测光的一个或多个频率或偏振，能够以宽动态范围进行操作的传感器系统、检测器、成像器和读出集成电路(ROIC)、或其任何组合。在一些示例中，该检测器可包括一个或多个光吸收器；可基于期望的测量波长范围和/或偏振方向来对光吸收器的图案和/或属性进行配置。在一些示例中，该检测器可包括多个至少部分地重叠的光吸收器，以用于增强的动态范围检测。在一些示例中，该检测器可能够通过改变响应时间或灵敏度以考虑各种通量水平来对一个或多个通量水平进行静电调谐。在一些示例中，该ROIC可能够动态地调整帧速率积分电容、以及照明源的功率中的至少一者。
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公开(公告)号：CN117015731A
公开(公告)日：2023-11-07
申请号：CN202180072473.0
申请日：2021-10-22
Applicant: 苹果公司
IPC: G02B6/30
Abstract: 本发明提供了一种光子封装，该光子封装可包括衬底、悬挂式连接器和快轴准直器(“FAC”)。该悬挂式连接器通常固定到该衬底的一侧，而不是发射光输出所穿过的那侧。该悬挂式连接器的横截面可以是L形的，从而具有基底部分和从该基底部分突出的延伸部分。该基底部分固定到该衬底，而该延伸部分固定到该FAC，使得该FAC沿着该衬底的该发射器表面向下延伸；该FAC的顶点与输出该光输出的发射器共面。
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公开(公告)号：CN112985603A
公开(公告)日：2021-06-18
申请号：CN202110242820.1
申请日：2016-08-29
Applicant: 苹果公司
Abstract: 本公开涉及用于非接触式感测物质的基准开关架构。本发明涉及用于在采样界面处测量样本(620)中的物质的浓度和类型的系统(600)和方法。所述系统(600)包括光源(602)、一个或多个光学器件(606,610,612)、一个或多个调制器(634,636)、基准(608)、检测器(630)以及控制器(640)。所公开的所述系统和所述方法能够通过在不同的测量光路之间共享一个或多个部件来考虑源自所述光源、一个或多个光学器件和所述检测器的漂移。另外，通过在所述光源与所述样本或基准之间放置一个或多个调制器，所述系统能够区分不同类型的漂移并且消除因杂散光导致的错误测量。此外，通过将检测器像素和微光学器件映射到所述样本中的位置和深度，所述系统能够沿着所述样本内的各种位置和深度检测所述物质。
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公开(公告)号：CN108449957B
公开(公告)日：2021-03-09
申请号：CN201680049893.6
申请日：2016-08-29
Applicant: 苹果公司
Abstract: 本发明涉及用于在采样界面处测量样本(620)中的物质的浓度和类型的系统(600)和方法。所述系统(600)包括光源(602)、一个或多个光学器件(606,610,612)、一个或多个调制器(634,636)、基准(608)、检测器(630)以及控制器(640)。所公开的所述系统和所述方法能够通过在不同的测量光路之间共享一个或多个部件来考虑源自所述光源、一个或多个光学器件和所述检测器的漂移。另外，通过在所述光源与所述样本或基准之间放置一个或多个调制器，所述系统能够区分不同类型的漂移并且消除因杂散光导致的错误测量。此外，通过将检测器像素和微光学器件映射到所述样本中的位置和深度，所述系统能够沿着所述样本内的各种位置和深度检测所述物质。
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