一种功率器件的老化测试装置、老化测试方法、计算机装置和计算机可读存储介质

    公开(公告)号:CN110333434A

    公开(公告)日:2019-10-15

    申请号:CN201910755999.3

    申请日:2019-08-15

    Abstract: 本发明提供一种功率器件的老化测试装置、老化测试方法、计算机装置和计算机可读存储介质,包括电容、可控开关器件、功率器件测试位、两个二极管和电感,电容连接在电压接入端口和接地端之间,可控开关器件的第一端、第一二极管的正极与电压接入端口连接,可控开关器件的第二端、第二二极管的正极与电感的第一端连接,电感的第二端、第一二极管的负极与功率器件测试位的第一端连接,第二二极管的负极、功率器件测试位的第二端与接地端连接。使得电感充电过程输入电源注入到电感的能量与电感回馈能量过程电感回馈到输入电源的能量相等,老化试验基本没有损耗,同时避免长时间老化试验中消耗大量电能,节约能源和降低试验成本。

    用于驱动多相交流电机的氮化物基装置及其实现方法

    公开(公告)号:CN118696494A

    公开(公告)日:2024-09-24

    申请号:CN202280087667.2

    申请日:2022-11-29

    Abstract: 一种用于驱动多相交流电机的氮化物基装置,包括:主开关元件;氮化物基逆变器,具有与主开关元件的第二导电端子电连接的输入端子、分别与交流电机的多个相绕组电连接的多个输出端子、与地电连接的接地端子和多个支路。每个支路包括:氮化物基低侧开关元件和氮化物基高侧开关元件。当要初始化交流电机的操作时,控制器被配置为在接通主开关元件之前,将低侧开关元件和高侧开关元件关闭一段时间。所提供的装置使电机系统具有高电流容量和效率以及简单易行的驱动控制。

    变压器电路和具有其的电子器件
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117424457A

    公开(公告)日:2024-01-19

    申请号:CN202311733443.7

    申请日:2023-12-18

    Abstract: 本发明公开了一种变压器电路和具有其的电子器件。变压器电路包括:原边输入电路,原边同名端与第一开关管的第一极连接,原边非同名端与电源第一输入端连接,第一开关管的第二极与电源第二输入端连接;副边反激整流电路,副边反激整流电路包括电源第一输出端、电源第二输出端、第一副边绕组和第二开关管,第一副边绕组具有第一副边同名端和第一副边非同名端,第二开关管具有第一极和第二极,第一副边同名端与第二开关管的第一极连接,第一副边非同名端与电源第二输出端连接,第二开关管的第二极与电源第一输出端连接。本发明的变压器电路产生的共模噪音能够相互抵消,允许更大的等效电容,损耗小,能够减少变压器屏蔽层,优化变压器的设计。

    量测高电子移动率晶体管之装置及方法

    公开(公告)号:CN110824322B

    公开(公告)日:2022-02-15

    申请号:CN201911045298.7

    申请日:2019-10-30

    Abstract: 本申请涉及了一种量测高电子移动率晶体管之装置及方法。所提出的装置包含控制器、保护电路、负载电路及电连接于所述负载电路与所述保护电路之间的切换电路。所述控制器经组态以在第一时间点提供具有第一值的第一控制讯号至所述半导体组件及在第二时间点提供具有第二值的第二控制讯号至所述切换电路。所述半导体组件藉由所述第一控制讯号的所述第一值开启,且所述切换电路藉由所述第二控制讯号的所述第二值开启。所述第二时间点晚于所述第一时间点。

    量测高电子移动率晶体管之装置

    公开(公告)号:CN114414977B

    公开(公告)日:2023-12-19

    申请号:CN202210062968.1

    申请日:2019-10-30

    Abstract: 一种用于量测半导体组件的装置,包括控制器、控制器、保护电路、负载电路及切换电路。切换电路电连接于负载电路与保护电路之间。保护电路的输入阻抗大于切换电路开启时的阻抗。保护电路的输入阻抗小于切换电路关闭时的阻抗。控制器经组态以在第一时间点提供第一控制讯号至半导体组件及在第二时间点提供第二控制讯号至切换电路。半导体组件藉由第一控制讯号开启。切换电路藉由第二控制讯号开启。第一时间点早于第二时间点,使得半导体组件的开通时间点早于切换电路的开通时间点。切换电路的开通状态的维持时间与半导体组件的开通状态的维持时间重迭。半导体组件的开通状态的维持时间大于切换电路的开通状态的维持时间。

    电子电路和具有所述电子电路的半导体装置

    公开(公告)号:CN112204844B

    公开(公告)日:2023-12-19

    申请号:CN202080002823.1

    申请日:2020-07-15

    Abstract: 本公开涉及电子电路和具有所述电子电路的半导体装置。所述电子电路包含:第一晶体管,其包含与输入电压耦合的第一电极和第二电极;第二晶体管,其包含与所述第一晶体管的所述第二电极耦合的第一电极和耦合到接地的第二电极;第一电容器,其耦合在所述第一晶体管的所述第一电极与所述第二晶体管的所述第二电极之间;第一二极管,其包含与所述第一晶体管的所述第一电极耦合的第一端子和第二端子;第二二极管,其包含与所述第一二极管的所述第二端子耦合的第一端子和与所述第二晶体管的所述第二电极耦合的第二端子;第二电容器,其耦合在所述第一晶体管的所述第一电极与所述第一二极管的所述第二端子之间;以及第三电容器,其耦合在所述第一二极管的所述第二端子与所述第二晶体管的所述第二电极之间。

    用于测试半导体装置的装置和方法

    公开(公告)号:CN112154337B

    公开(公告)日:2023-10-27

    申请号:CN202080002670.0

    申请日:2020-08-06

    Abstract: 本公开涉及一种测试电路及其操作方法。所述测试电路包含第一电路和第二电路。所述第一电路具有第一电容器和第二电容器。所述第一电路被配置成将跨所述第一电容器的第一电压的至少一部分传递到所述第二电容器。所述第二电路具有所述第一电容器和所述第二电容器。所述第二电路被配置成将跨所述第二电容器的第二电压的至少一部分传递到所述第一电容器。

    量测高电子移动率晶体管之装置

    公开(公告)号:CN114414977A

    公开(公告)日:2022-04-29

    申请号:CN202210062968.1

    申请日:2019-10-30

    Abstract: 一种用于量测半导体组件的装置,包括控制器、控制器、保护电路、负载电路及切换电路。切换电路电连接于负载电路与保护电路之间。保护电路的输入阻抗大于切换电路开启时的阻抗。保护电路的输入阻抗小于切换电路关闭时的阻抗。控制器经组态以在第一时间点提供第一控制讯号至半导体组件及在第二时间点提供第二控制讯号至切换电路。半导体组件藉由第一控制讯号开启。切换电路藉由第二控制讯号开启。第一时间点早于第二时间点,使得半导体组件的开通时间点早于切换电路的开通时间点。切换电路的开通状态的维持时间与半导体组件的开通状态的维持时间重迭。半导体组件的开通状态的维持时间大于切换电路的开通状态的维持时间。

    一种功率器件的老化测试装置、老化测试方法、计算机装置和计算机可读存储介质

    公开(公告)号:CN110333434B

    公开(公告)日:2024-08-20

    申请号:CN201910755999.3

    申请日:2019-08-15

    Abstract: 本发明提供一种功率器件的老化测试装置、老化测试方法、计算机装置和计算机可读存储介质,包括电容、可控开关器件、功率器件测试位、两个二极管和电感,电容连接在电压接入端口和接地端之间,可控开关器件的第一端、第一二极管的正极与电压接入端口连接,可控开关器件的第二端、第二二极管的正极与电感的第一端连接,电感的第二端、第一二极管的负极与功率器件测试位的第一端连接,第二二极管的负极、功率器件测试位的第二端与接地端连接。使得电感充电过程输入电源注入到电感的能量与电感回馈能量过程电感回馈到输入电源的能量相等,老化试验基本没有损耗,同时避免长时间老化试验中消耗大量电能,节约能源和降低试验成本。

    一种多端口充电电路及多端口快速充电器

    公开(公告)号:CN117081222A

    公开(公告)日:2023-11-17

    申请号:CN202310809542.2

    申请日:2023-07-03

    Inventor: 欧善贵 林文杰

    Abstract: 本发明提供一种多端口充电电路及多端口快速充电器,涉及多端口充电领域,所述电路包括:第一整流调压模块,第一整流调压模块包括主绕组、第一副绕组和第二副绕组;第二整流调压模块;驱动模块,驱动模块的输入端与第二副绕组连接;双向阻断晶体管,双向阻断晶体管的受控端与驱动模块的输出端连接,双向阻断晶体管分别与第一副绕组以及第二整流调压模块的输出端连接;第一控制模块,第一控制模块与驱动模块的受控端连接。第一控制模块通过驱动模块控制双向阻断晶体管的导通和截止,无需采用自举电路,从第二副绕组获取满足需求的电压,实现降低对第一控制模块,即降低对控制芯片的耐压性能要求,有利于降低生产难度、降低生产成本以及库存再利用。

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