一种氮化硅薄膜的沉积方法

    公开(公告)号:CN106504979B

    公开(公告)日:2019-05-24

    申请号:CN201610933466.6

    申请日:2016-10-24

    Inventor: 袁中存 党继东

    CPC classification number: Y02P70/521

    Abstract: 本发明公开了一种氮化硅薄膜的沉积方法,本发明的方法采用等离子体增强化学气相沉积设备进行氮化硅薄膜的沉积,沉积过程中,硅片依次经过进料腔、预热腔、工艺腔、冷却腔和出料腔,进料腔、预热腔和工艺腔的温度均分别随时间而升高,记进料腔的最低温度、进料腔的最高温度、预热腔的最低温度、预热腔的最高温度、工艺腔的最低温度、工艺腔的最高温度分别为T1、T1’、T2、T2’、T3和T3’,且200℃≤T1’≤250℃,T2=T1’,硅片离开预热腔的温度与硅片进入工艺腔的温度相同,且硅片进入工艺腔后工艺腔升温至T3’。本发明的方法降低了功率输出及硅片的隐裂几率,提升了氢钝化效果,得到的太阳能电池的EFF相对于现有技术中的产品提高了0.08%,Uoc和Isc上也均有提升。

    一种硅电池片的标记方法

    公开(公告)号:CN107622962B

    公开(公告)日:2019-11-15

    申请号:CN201710812469.9

    申请日:2017-09-11

    Abstract: 本发明公开了一种硅电池片的标记方法,包括如下步骤;设计出N2种不同类型的便于标记的石墨舟卡点;在每个硅电池片的所对应的电池片仓位周边加工有N1数量个安装孔;且每个安装孔内安装有一个所述便于标记的石墨舟卡点;将石墨舟在进行镀膜工艺;将识别得到的当前所述硅电池片的电池片仓位周边的且按照安装孔周向位置分布顺序排列的N1数量个安装孔所对应的卡点类型所代表的阿拉伯数字,依次再按照从数学计数单位一端至另一端的数位顺序进行排列,进而得到当前所述硅电池片的一个N2进制表示的N1位数的编号数字;将所述编号数字作为当前所述硅电池片的标记编号。该硅电池片的标记方法,为硅电池片进行问题排查和优化分析提供了帮助。

    一种采用PECVD镀设减反膜的方法

    公开(公告)号:CN107086250B

    公开(公告)日:2019-06-14

    申请号:CN201710330442.6

    申请日:2017-05-11

    Inventor: 袁中存 党继东

    CPC classification number: Y02P70/521

    Abstract: 本发明公开了一种采用PECVD镀设减反膜的方法,包括如下步骤:(1)将待处理的硅片放入PECVD设备的石英管内,抽真空、升温,通入反应气体,使石英管内形成反应气体的气氛氛围;将PECVD设备的电源功率调整到P1,对待处理的硅片表面进行间接法镀膜,在硅片表面沉积底层减反膜;所述P1大于40KHZ;(2)然后将PECVD设备的电源功率调整到P2,进行直接法镀膜,在所述底层减反膜上继续沉积减反膜;所述P2小于等于40KHZ;关闭电源,同时停止通入反应气体,即可完成减反膜的镀设。实验证明,采用本发明得到的减反膜的膜厚均匀性较好,且可以降低表面少子复合速率,提高少子寿命,提高电池片的光电转换效率。

    一种硅电池片的标记方法

    公开(公告)号:CN107622962A

    公开(公告)日:2018-01-23

    申请号:CN201710812469.9

    申请日:2017-09-11

    Abstract: 本发明公开了一种硅电池片的标记方法,包括如下步骤;设计出N2种不同类型的便于标记的石墨舟卡点;在每个硅电池片的所对应的电池片仓位周边加工有N1数量个安装孔;且每个安装孔内安装有一个所述便于标记的石墨舟卡点;将石墨舟在进行镀膜工艺;将识别得到的当前所述硅电池片的电池片仓位周边的且按照安装孔周向位置分布顺序排列的N1数量个安装孔所对应的卡点类型所代表的阿拉伯数字,依次再按照从数学计数单位一端至另一端的数位顺序进行排列,进而得到当前所述硅电池片的一个N2进制表示的N1位数的编号数字;将所述编号数字作为当前所述硅电池片的标记编号。该硅电池片的标记方法,为硅电池片进行问题排查和优化分析提供了帮助。

    一种氮化硅薄膜的沉积方法

    公开(公告)号:CN106504979A

    公开(公告)日:2017-03-15

    申请号:CN201610933466.6

    申请日:2016-10-24

    Inventor: 袁中存 党继东

    Abstract: 本发明公开了一种氮化硅薄膜的沉积方法,本发明的方法采用等离子体增强化学气相沉积设备进行氮化硅薄膜的沉积,沉积过程中,硅片依次经过进料腔、预热腔、工艺腔、冷却腔和出料腔,进料腔、预热腔和工艺腔的温度均分别随时间而升高,记进料腔的最低温度、进料腔的最高温度、预热腔的最低温度、预热腔的最高温度、工艺腔的最低温度、工艺腔的最高温度分别为T1、T1’、T2、T2’、T3和T3’,且200℃≤T1’≤250℃,T2=T1’,硅片离开预热腔的温度与硅片进入工艺腔的温度相同,且硅片进入工艺腔后工艺腔升温至T3’。本发明的方法降低了功率输出及硅片的隐裂几率,提升了氢钝化效果,得到的太阳能电池的EFF相对于现有技术中的产品提高了0.08%,Uoc和Isc上也均有提升。

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