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公开(公告)号：CN119828359A
公开(公告)日：2025-04-15
申请号：CN202510181337.5
申请日：2025-02-19
Applicant: 苏州明世光学科技有限公司 , 苏州大学
IPC: G02C7/02
Abstract: 本发明属于眼视光学技术领域，涉及一种可矫正人眼高阶像差的镜片设计方法及镜片。调整基础眼模型的参数得到目标基础眼模型；对目标基础眼模型中晶状体前表面的面型和角膜前表面的面型进行优化，得到拟合眼模型；在拟合眼模型前表面放置近轴面，调整拟合眼模型的玻璃体深度，得到目标拟合眼模型并去除近轴面；改变目标拟合眼模型中眼球的转动角度，得到不同转动角度下的目标眼模型；以光线经过待优化镜片后在不同转动角度下的目标眼模型上成像时的高阶像差值均小于等于第二预设阈值为目标，优化待优化镜片的参数得到可矫正人眼高阶像差镜片。本方案提供的可矫正人眼高阶像差镜片能够有效对远轴光线以及光轴视场范围外光线产生的高阶像差进行矫正。
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公开(公告)号：CN115793282A
公开(公告)日：2023-03-14
申请号：CN202310005040.4
申请日：2023-01-04
Applicant: 苏州大学 , 苏州明世光学科技有限公司
Abstract: 本申请属于眼视光学技术领域，公开了一种高阶像差与近视离焦并存的眼镜片及其设计方法，该眼镜片包含前表面和后表面；其中前表面和后表面用于提供近视矫正的光焦度；前表面上设置有第二成像单元、第三成像单元，其中第三成像单元由分布于若干个同心环上的环曲面微透镜阵列组成，任意同心环上的相邻环曲面微透镜之间均设置有圆形微透镜，圆形微透镜表面的最高点高于相邻环曲面微透镜表面的最高点，所有圆形微透镜共同组成第二成像单元；第二成像单元用于提供近视离焦区域，第三成像单元用于提供高阶像差光学信号调制区域，通过环曲面微透镜结构参数调控以泽尼克多项式标准项系数为表述形式的三阶以上的高阶像差。
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公开(公告)号：CN115373122A
公开(公告)日：2022-11-22
申请号：CN202210656850.1
申请日：2022-06-10
Applicant: 苏州大学
Abstract: 本申请公开一种激光发射与成像共孔径的光学系统及设计方法。该系统包括前置扩束望远组、二向色镜和后置成像组组成，其中扩束望远组为离轴两反无焦卡塞格林系统，主镜和次镜均为抛物面，两镜焦点重合且无中间像点；成像系统为光路折叠的离轴三反射成像系统，主镜、次镜和三镜均为自由曲面，次镜后的中间像点处插入平面反射镜以折叠光路；系统采用全反射的设计形式，对色差不敏感，可满足不同波长激光的扩束及宽波段成像需求，具有相当的通用性。扩束系统和成像系统均采用了体积压缩的结构，成像系统采用自由曲面面型，共孔径的设计，结合反射式系统重量轻的优点，使得最终系统具有较小的体量、较大的视场和较好的像质，可用于小型移动平台。
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公开(公告)号：CN108775875B
公开(公告)日：2020-05-22
申请号：CN201811014689.8
申请日：2018-08-31
Applicant: 苏州大学
IPC: G01B11/25
Abstract: 本发明公开了一种基于色散光谱编码的微结构形貌测量方法及其装置。它利用复色正弦条纹平行光经过轴向色散型光学系统后沿轴向依次色散并一一对应地聚焦于不同的轴向深度位置、以及轴向色散的各单色正弦条纹的调制度随轴向深度变化且在其焦面位置附近达到极大值，建立了测量所需的“光谱—调制度—深度”三者之间的唯一性编码，仅需多帧（如三帧）相移（或单帧）色散光谱编码图像，即可实现对被测元件三维形貌分布的无机械式扫描、全场非接触、快速（动态甚至瞬态）高精度测量。
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公开(公告)号：CN108844492B
公开(公告)日：2020-04-03
申请号：CN201811013435.4
申请日：2018-08-31
Applicant: 苏州大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明公开了一种基于光谱调制度深度编码的微结构形貌测量方法及其装置。被测元件与空间光调制器在测量所采用光谱范围的中心波长下呈物像共轭；光束折转耦合器、空间光调制器、准直扩束镜头、分束器、轴向非消色差显微物镜、成像镜头和彩色相机之间呈共光路结构。测量时，先对系统装置进行“光谱—深度”对应关系的预标定，再经测量装置采集被测元件反射的各帧单色移相条纹图，得到与被测件面形相关的各单色光条纹图的调制度分布，获取编码图像；采用高斯、类高斯或样条模型拟合确定待测面上各点的“光谱—调制度”关系曲线，解调得到对应的待测面上各点的深度信息，完成被测元件三维形貌分布微结构形貌的无机械式扫描、全场非接触的快速高精度测量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109143562A
公开(公告)日：2019-01-04
申请号：CN201811059962.9
申请日：2018-09-12
Applicant: 苏州大学
CPC classification number: G02B21/06 , G02B27/0966
Abstract: 本发明属于显微成像技术领域，具体涉及一种基于变焦原理的可变光片照明系统；从激光光源发出的光经过扩束系统出射为准直光束；准直光束经过柱透镜，在其有光焦度的方向被会聚，在柱透镜后焦面处被压缩成线聚焦光束，而在无光焦度的方向仍平行出射；再借助变焦照明物镜的焦距的变化在其像方后焦面附近得到不同厚度和不同长度的光片；实现了光片厚度和长度的连续变化，适合于不同尺寸样本的观察，简化了操作程序，降低了使用成本；系统总长固定；系统总长较短；避免了较高激光能量损伤镜片的技术效果。
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公开(公告)号：CN108844492A
公开(公告)日：2018-11-20
申请号：CN201811013435.4
申请日：2018-08-31
Applicant: 苏州大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明公开了一种基于光谱调制度深度编码的微结构形貌测量方法及其装置。被测元件与空间光调制器在测量所采用光谱范围的中心波长下呈物像共轭；光束折转耦合器、空间光调制器、准直扩束镜头、分束器、轴向非消色差显微物镜、成像镜头和彩色相机之间呈共光路结构。测量时，先对系统装置进行“光谱—深度”对应关系的预标定，再经测量装置采集被测元件反射的各帧单色移相条纹图，得到与被测件面形相关的各单色光条纹图的调制度分布，获取编码图像；采用高斯、类高斯或样条模型拟合确定待测面上各点的“光谱—调制度”关系曲线，解调得到对应的待测面上各点的深度信息，完成被测元件三维形貌分布微结构形貌的无机械式扫描、全场非接触的快速高精度测量。
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公开(公告)号：CN108775875A
公开(公告)日：2018-11-09
申请号：CN201811014689.8
申请日：2018-08-31
Applicant: 苏州大学
IPC: G01B11/25
Abstract: 本发明公开了一种基于色散光谱编码的微结构形貌测量方法及其装置。它利用复色正弦条纹平行光经过轴向色散型光学系统后沿轴向依次色散并一一对应地聚焦于不同的轴向深度位置、以及轴向色散的各单色正弦条纹的调制度随轴向深度变化且在其焦面位置附近达到极大值，建立了测量所需的“光谱—调制度—深度”三者之间的唯一性编码，仅需多帧（如三帧）相移（或单帧）色散光谱编码图像，即可实现对被测元件三维形貌分布的无机械式扫描、全场非接触、快速（动态甚至瞬态）高精度测量。
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公开(公告)号：CN115585887A
公开(公告)日：2023-01-10
申请号：CN202211139717.5
申请日：2022-09-19
Applicant: 苏州大学
Abstract: 本申请属于光谱仪器技术领域，公开了一种Czerny‑Turner光谱仪光学系统及设计方法。该光学系统包括狭缝、柱面反射镜、准直球面反射镜、衍射光栅、聚焦球面反射镜、探测器组成；设计时根据系统体积要求，确定柱面反射镜的入射角和与狭缝的距离，利用光学成像和消像散原理，推导并计算出柱面反射镜的半径，实现中心波段系统像散的抑制；然后结合一阶消像散条件，对子午像距和弧矢像距求微分获得衍射光栅、聚焦球面反射镜、探测器之间的距离以及探测器的倾斜角度，实现宽波段下系统像散的抑制。本申请能有效抑制系统的像散，在不增大系统体积的基础上，保持较低的加工成本和装调难度，具有使系统同时具有便携化、高分辨率和消像散等优点。
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公开(公告)号：CN108981606B
公开(公告)日：2020-10-09
申请号：CN201811082777.1
申请日：2018-09-17
Applicant: 苏州大学
Abstract: 本发明公开了一种快照式全场白光干涉显微测量方法及其装置。它是在白光干涉显微测量法和快照式光谱成像探测术的基础上，利用复色平行光经过轴向色散型干涉光学系统后沿轴向依次色散并一一对应地聚焦于不同的轴向深度位置、以及光谱域上的白光干涉信号强度随波长变化且在轴向色散的某一单色光焦面位置附近达到极大值，建立了测量所需的“白光干涉信号—光谱—深度”三者之间的唯一性编码，仅需多帧或单帧快照式色散光谱编码白光干涉图像，即可实现对被测元件三维形貌分布的无机械式扫描、全场非接触、快速（动态甚至瞬态）高精度测量。
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