公开(公告)号：CN115082643A

公开(公告)日：2022-09-20

申请号：CN202210565325.9

申请日：2022-05-23

Applicant: 苏州大学

Inventor： 杨湛 ,  房梁 ,  瞿志 ,  卞卫国 ,  张略 ,  陈涛 ,  孙立宁

IPC: G06T19/00 ,  G06T17/00 ,  G06T5/00 ,  G06T7/13 ,  G06N3/04 ,  G06N3/08

Abstract: 本发明涉及一种应用于纳米线组装的微纳操作视觉引导方法，包括使用卷积神经网络模型对图像进行降噪处理得到纯净的图像；对图像进行Canny检测得到其二值图，使用霍夫变换识别出目标的边缘轮廓及空间位置信息；获得图像的掩模图像和估计光源投影形状，将纯净的图像、掩模图像和估计光源投影形状输入至SFS算法进行三维重建，得到目标与基底的相对深度值；根据目标与基底的相对深度值控制微纳操作机器人在目标拾取后搬运到电极上方后缓慢下降逐渐向电极表面接近直至目标与基底接触完成组装操作。本发明能够对纳米线的放置操作进行定量的指导，不仅可大大降低操作的难度，节省大量的时间，而且在装配精度和效率上同样也有大幅度提高。

公开(公告)号：CN114693871A

公开(公告)日：2022-07-01

申请号：CN202210277934.4

申请日：2022-03-21

Applicant: 苏州大学

Inventor： 杨湛 ,  房梁 ,  卞卫国 ,  瞿志 ,  张略 ,  陈涛 ,  孙立宁

IPC: G06T17/00 ,  G06T7/55 ,  G06T5/00 ,  G06T7/33 ,  G06T7/00 ,  G06T7/80 ,  G06T3/40 ,  G06N3/04 ,  G06N3/08

Abstract: 本发明涉及一种计算基于扫描电镜的双探测器三维成像深度的方法，包括标定具有第一探测器和第二探测器的扫描电镜的参数；使用扫描电镜拍摄样品图像，对得到的第一原始图像和第二原始图像进行去噪，对第一原始图像和第二原始图像进行训练学习，输出第一图像和第二图像；分别提取第一图像和第二图像的特征点并对其进行匹配；将第一图像和第二图像上的对应点约束到同一水平线上，得到第一校准图像和第二校准图像；计算第一校准图像和第二校准图像的视差；根据视差结果和两个探测器的夹角建立视差‑深度的映射关系并计算得到深度信息。本发明结合SEM内部的双探测器拍摄图像，计算出图像的深度，降低操作的难度，节省时间，且能够提高装配精度和效率。

公开(公告)号：CN115082643B

公开(公告)日：2024-12-27

申请号：CN202210565325.9

申请日：2022-05-23

Applicant: 苏州大学

Inventor： 杨湛 ,  房梁 ,  瞿志 ,  卞卫国 ,  张略 ,  陈涛 ,  孙立宁

IPC: G06T19/00 ,  G06T17/00 ,  G06T5/70 ,  G06T7/13 ,  G06N3/0464 ,  G06N3/048 ,  G06N3/082

Abstract: 本发明涉及一种应用于纳米线组装的微纳操作视觉引导方法，包括使用卷积神经网络模型对图像进行降噪处理得到纯净的图像；对图像进行Canny检测得到其二值图，使用霍夫变换识别出目标的边缘轮廓及空间位置信息；获得图像的掩模图像和估计光源投影形状，将纯净的图像、掩模图像和估计光源投影形状输入至SFS算法进行三维重建，得到目标与基底的相对深度值；根据目标与基底的相对深度值控制微纳操作机器人在目标拾取后搬运到电极上方后缓慢下降逐渐向电极表面接近直至目标与基底接触完成组装操作。本发明能够对纳米线的放置操作进行定量的指导，不仅可大大降低操作的难度，节省大量的时间，而且在装配精度和效率上同样也有大幅度提高。