具有三个晶体管和两个电阻式存储器元件的电阻式随机存取存储器单元

    公开(公告)号:CN110050305B

    公开(公告)日:2021-05-11

    申请号:CN201780060161.1

    申请日:2017-05-09

    Abstract: 一种ReRAM单元阵列具有行和列,并且包括用于每一行的第一和第二互补位线,用于每一列的第一、第二和第三字线以及用于每一行的源极位线。位于每一行和每一列的ReRAM单元包括:第一电阻式存储器元件,其第一端连接到其行的第一互补位线;p沟道晶体管,其源极连接到第一电阻式存储器元件的第二端、其漏极连接到开关节点、其栅极连接到其列的第一字线;第二电阻式存储器元件,其第一端连接到其行的第二互补位线;n沟道晶体管,其源极连接到所述第二电阻式存储器元件的第二端、其漏极连接到所述开关节点、其栅极连接到其列的第二字线;以及编程晶体管,具有连接到开关节点的漏极、连接到其行的源极位线的源极以及连接到其列的第三字线的栅极。

    防止基于ReRAM的存储单元的过度编程

    公开(公告)号:CN109791790B

    公开(公告)日:2020-09-08

    申请号:CN201780060379.7

    申请日:2017-09-28

    Inventor: V·赫克特

    Abstract: 本发明公开了一种防止电阻随机存取(ReRAM)的存储器阵列中基于ReRAM的存储器单元的过度编程的方法,包括:在编程电路路径中施加编程电压,所述编程电路路径包括待编程的ReRAM存储器单元;在所述编程电压施加于所述存储器单元上时,感测由所述ReRAM单元消耗的编程电流;以及根据编程电流的上升而减小所述编程电流。

    具有三个晶体管和两个电阻式存储器元件的电阻式随机存取存储器单元

    公开(公告)号:CN110050305A

    公开(公告)日:2019-07-23

    申请号:CN201780060161.1

    申请日:2017-05-09

    Abstract: 一种ReRAM单元阵列具有行和列,并且包括用于每一行的第一和第二互补位线,用于每一列的第一、第二和第三字线以及用于每一行的源极位线。位于每一行和每一列的ReRAM单元包括:第一电阻式存储器元件,其第一端连接到其行的第一互补位线;p沟道晶体管,其源极连接到第一电阻式存储器元件的第二端、其漏极连接到开关节点、其栅极连接到其列的第一字线;第二电阻式存储器元件,其第一端连接到其行的第二互补位线;n沟道晶体管,其源极连接到所述第二电阻式存储器元件的第二端、其漏极连接到所述开关节点、其栅极连接到其列的第二字线;以及编程晶体管,具有连接到开关节点的漏极、连接到其行的源极位线的源极以及连接到其列的第三字线的栅极。

    防止基于ReRAM的存储单元的过度编程

    公开(公告)号:CN109791790A

    公开(公告)日:2019-05-21

    申请号:CN201780060379.7

    申请日:2017-09-28

    Inventor: V·赫克特

    Abstract: 本发明公开了一种防止电阻随机存取(ReRAM)的存储器阵列中基于ReRAM的存储器单元的过度编程的方法,包括:在编程电路路径中施加编程电压,所述编程电路路径包括待编程的ReRAM存储器单元;在所述编程电压施加于所述存储器单元上时,感测由所述ReRAM单元消耗的编程电流;以及根据编程电流的上升而减小所述编程电流。

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