公开(公告)号：CN119695788A

公开(公告)日：2025-03-25

申请号：CN202411316783.4

申请日：2024-09-20

Applicant: 罗伯特·博世有限公司

Inventor： D·施韦克 ,  J·沃尔特

IPC: H02H7/085 ,  H02P27/08

Abstract: 本发明涉及一种用于运行至少一个半桥以控制电流的方法，包括检测至少一个半桥中的电流的至少一个电流实际值(210)，将所述电流实际值与预先给定的正阈值和/或负阈值(220、320、230、330)进行比较，当所述电流实际值(210)超过预先给定的正阈值(220、320)和/或低于负阈值(230、330)时执行措施，以及根据至少一个半桥中的电流的当前电流额定值来预先给定正阈值和/或负阈值(220、320、230、330)。

公开(公告)号：CN118743156A

公开(公告)日：2024-10-01

申请号：CN202280091965.9

申请日：2022-12-14

Applicant: 罗伯特·博世有限公司

Inventor： D·施韦克 ,  D·A·劳夫 ,  J·格佩特 ,  M·伯辛 ,  M·S·科斯塔 ,  M·维尔德 ,  P·埃格斯

IPC: H03K17/12

Abstract: 具有栅极驱动级(101)、脱耦电路(102、202)和半导体开关(103)的设备(100)，其中，所述半导体开关(103)具有至少一个第一半导体晶体管(104)和第二半导体晶体管(105)，其中，所述第一半导体晶体管(104)和所述第二半导体晶体管(105)彼此并联连接，其特征在于，所述脱耦电路(102、202)在输入端侧与所述栅极驱动级(101)的输出端电连接并且在输出端侧与所述半导体开关(103)电连接，其中，所述脱耦电路(102、202)具有第一脱耦路径(106、206)和第二脱耦路径(107、207)，其中，所述第一脱耦路径(106、206)与所述第一半导体晶体管(104)的第一栅极附接端电连接，并且所述第二脱耦路径(107、207)与所述第二半导体晶体管(105)的第二栅极附接端电连接，并且，所述第一脱耦路径(106、206)和所述第二脱耦路径(107、207)彼此并联连接，并且所述第一脱耦路径(106、206)和所述第二脱耦路径(107、207)构造得相同，其中，所述脱耦电路(102、202)在所述第一半导体晶体管(104)的或者所述第二半导体晶体管(105)的故障情况下保证所述半导体开关(103)的功能能力。

公开(公告)号：CN114667680A

公开(公告)日：2022-06-24

申请号：CN202080081417.9

申请日：2020-08-28

Applicant: 罗伯特·博世有限公司

Inventor： C·普卡雷亚 ,  T·里希特尔 ,  M·伯辛 ,  T·布鲁克豪斯 ,  D·施韦克

IPC: H03K17/0812 ,  H03K17/12

Abstract: 本发明涉及一种用于操控多个并联连接的半导体开关的电路装置（200），所述电路装置具有接通端子（213）和关断端子（214），并且具有多个操控端子（220），所述操控端子分别被设置用于连接到所述多个半导体开关中的一个半导体开关的操控端子（123）上，其中所述接通端子（213）和所述关断端子（214）分别与多个操控端子（220）中的每一个操控端子连接，并且其中在所述接通端子（213）和所述操控端子（220）中的至少一个操控端子之间设置有隔离开关（230），此外所述电路装置具有至少一个探测和操控装置，所述探测和操控装置被设立用于检测流入所述操控端子（220）中的至少一个操控端子中的电流，并且如果根据所述电流识别到短路，则操控所述隔离开关（230）断开。