测距系统
    2.
    发明公开
    测距系统 审中-实审

    公开(公告)号:CN115210600A

    公开(公告)日:2022-10-18

    申请号:CN202180018582.4

    申请日:2021-01-29

    Inventor: 中村仁

    Abstract: 本技术的目的是提供能够提高距离的测量精度的测距系统。根据本技术的一方面的测距系统(1)包括:能够输出具有不同波长的光的两个光源(第一光源11和第二光源12);光源侧光学构件(13),其被构造为改变从两个光源分别输出的光的一部分的方向;基准时间侧光接收单元(第一光接收元件44),由两个光源中的一者输出并由光源侧光学构件改变方向的光入射到该基准时间侧光接收单元上;距离计算侧光接收单元(第二光接收元件45),由两个光源中的另一者输出、透过光源侧光学构件并被目标物(Obj)反射的光入射到该距离计算侧光接收单元上;基准时间计算单元(33),其被构造为根据从两个光源输出光的时间点到该光入射到基准时间侧光接收单元的时间点的经过时间,计算基准时间;以及距离计算单元(34),其被构造为根据从两个光源输出光的时间点到该光入射到距离计算侧光接收单元的时间点的经过时间以及由基准时间计算单元计算的基准时间来计算到目标物的距离。

    发光装置及发光装置制造方法
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116324529A

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN202180067983.9

    申请日:2021-10-29

    Abstract: 本发明提供了能够以适当的方式将透镜或发光元件设置在基板上的发光装置以及发光装置制造方法。本发明的发光装置包括:第一基板;设置于所述第一基板的下表面上的发光元件;设置于所述第一基板的上表面上的透镜;设置于所述第一基板的上表面上的第一凸部;和设置于所述第一基板的上表面上的第一膜,所述第一膜包括布置于所述透镜上或用于形成所述透镜的第一部分及布置于所述第一凸部上或用于形成所述第一凸部的第二部分,而且,所述第一部分的最上部的高度等于或低于所述第二部分的最上部的高度。

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