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公开(公告)号：CN119861076A
公开(公告)日：2025-04-22
申请号：CN202510078974.X
申请日：2025-01-17
Applicant: 福州大学
Abstract: 本发明提供一种基于光强型弱测量双工作区间的高精度面阵旋光性检测系统及检测方法，所检测的是具有旋光性的物质，属于光学高精度检测领域。在光强型弱测量理论U型曲线变化图中，存在两段光强随旋光度变化相反的区间，其中一个区间内光强随着物质旋光度的增加而增强，另一个区间内光强随着物质旋光度的增加而减弱。因此通过综合调节旋光度调制模块和后选择模块设置两个具有不同初始工作点的测量光路，让系统同时处于这两个工作区间内，随后对两个工作区间内的对应光强值进行相减/相除操作，可以获得比单工作区间更高的灵敏度和检测精度。本发明采用面阵探测方式，面阵的每个像素都是一个测量点，可以对物质的旋光度进行面成像，提高了检测通量。
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