非接触结构微振动监测装置

    公开(公告)号:CN101907485A

    公开(公告)日:2010-12-08

    申请号:CN201010261380.6

    申请日:2010-08-25

    Applicant: 福州大学

    Abstract: 本发明涉及一种非接触结构微振动监测装置,其特征在于:包括热光源、透镜、小孔、分光镜、参考镜、待检测的振动结构、光纤、光谱仪和带有数据采集和处理系统的电脑,热光源、透镜、小孔、透镜、分光镜、待检测的振动结构成一直线排列,其垂直方向上排列有参考镜、分光镜、透镜;透镜的光路信号连接到光纤的一端,光纤的另一端连接到光谱仪的输入端,光谱仪的输出端通过通讯总线与带有数据采集和处理系统的电脑相连接。该装置能实现高精度实时在线监测结构的振动,特别是微米级的振动检测。该装置直接测量结构的振动位移,检测精度可以达到亚微米级。

    非接触结构微振动监测装置

    公开(公告)号:CN101907485B

    公开(公告)日:2012-07-25

    申请号:CN201010261380.6

    申请日:2010-08-25

    Applicant: 福州大学

    Abstract: 本发明涉及一种非接触结构微振动监测装置,其特征在于:包括热光源、透镜、小孔、分光镜、参考镜、待检测的振动结构、光纤、光谱仪和带有数据采集和处理系统的电脑,热光源、透镜、小孔、透镜、分光镜、待检测的振动结构成一直线排列,其垂直方向上排列有参考镜、分光镜、透镜;透镜的光路信号连接到光纤的一端,光纤的另一端连接到光谱仪的输入端,光谱仪的输出端通过通讯总线与带有数据采集和处理系统的电脑相连接。该装置能实现高精度实时在线监测结构的振动,特别是微米级的振动检测。该装置直接测量结构的振动位移,检测精度可以达到亚微米级。

    一种结构微振动线域测量装置及方法

    公开(公告)号:CN109000781B

    公开(公告)日:2023-08-25

    申请号:CN201811106194.8

    申请日:2018-09-21

    Applicant: 福州大学

    Abstract: 本发明涉及一种结构微振动线域测量装置及方法。该装置包括钨卤素灯光源模块,用于振动探测;迈克尔逊干涉仪模块,包括第一柱透镜将平行光束聚焦为焦线,分光镜将光束分束为强度相等的两束光线,作为参考光、探测光分别汇聚于参考镜、待测微振动结构件表面,反射后重合发生干涉,并经第二柱透镜变为平行光束出射;二维光谱仪模块,包括反射镜、反射式光栅、第三柱透镜、面阵高速COMS相机,干涉光束经反射式光栅按波长在空间分光后由第三柱透镜汇聚成干涉谱线,由面阵高速COMS相机采集获得二维干涉条纹,由此经计算机及图像处理软件计算即可获得线域二维振动信息。本发明可实现对一定振动幅值范围内微振动的线域非接触测量,测量速度快,精度高。

    基于改进多次反射全聚焦成像算法的界面型缺陷检测方法

    公开(公告)号:CN109212032B

    公开(公告)日:2021-11-26

    申请号:CN201811245799.5

    申请日:2018-10-25

    Applicant: 福州大学

    Abstract: 本发明涉及一种基于改进多次反射全聚焦成像算法的界面型缺陷检测方法,包括以下步骤:步骤S1:根据界面深度S及接收P次回波所需的时长,设置仪器参数;步骤S2:采用全矩阵捕获技术对待测工件进行回波捕获;步骤S3:对待测区域离散的每一个目标成像点采用改进多次反射全聚焦算法进行虚拟聚焦,得到待测区域界面型缺陷检测结果。本发明基于改进多次反射全聚焦成像算法,采集多次回波,将每一次回波中所包含的目标成像点信息都进行深度累加,从而突出了界面缺陷的特征,大大提高了脱粘缺陷的检出率。

    一种结构微振动线域测量装置及方法

    公开(公告)号:CN109000781A

    公开(公告)日:2018-12-14

    申请号:CN201811106194.8

    申请日:2018-09-21

    Applicant: 福州大学

    Abstract: 本发明涉及一种结构微振动线域测量装置及方法。该装置包括钨卤素灯光源模块,用于振动探测;迈克尔逊干涉仪模块,包括第一柱透镜将平行光束聚焦为焦线,分光镜将光束分束为强度相等的两束光线,作为参考光、探测光分别汇聚于参考镜、待测微振动结构件表面,反射后重合发生干涉,并经第二柱透镜变为平行光束出射;二维光谱仪模块,包括反射镜、反射式光栅、第三柱透镜、面阵高速COMS相机,干涉光束经反射式光栅按波长在空间分光后由第三柱透镜汇聚成干涉谱线,由面阵高速COMS相机采集获得二维干涉条纹,由此经计算机及图像处理软件计算即可获得线域二维振动信息。本发明可实现对一定振动幅值范围内微振动的线域非接触测量,测量速度快,精度高。

    基于表面等离子体共振的太赫兹发射器

    公开(公告)号:CN102157883A

    公开(公告)日:2011-08-17

    申请号:CN201010596150.5

    申请日:2010-12-20

    Applicant: 福州大学

    Inventor: 钟舜聪 沈耀春

    Abstract: 本发明涉及一种基于表面等离子体共振的太赫兹发射器,包括砷化镓基板,其特征在于:所述砷化镓基板朝向飞秒激光脉冲的一侧面两端设有正、负极镀金薄膜,在飞秒激光脉冲入射方向的两旁分别设有用于产生等离子体共振的圆柱形金属杆和具有锥形头部的锥形头金属杆,所述锥形头金属杆的锥形头部与圆柱形金属杆之间设有纳米级或微米级间隙。

    基于光学相干层析的全深式曲面轮廓测量装置及控制方法

    公开(公告)号:CN109297434B

    公开(公告)日:2024-04-16

    申请号:CN201811467510.4

    申请日:2018-12-03

    Applicant: 福州大学

    Abstract: 本发明涉及一种基于光学相干层析的全深式曲面轮廓测量装置,包括:SLD光源、凸透镜、第一柱透镜、第一分光镜、参考镜、待测曲面轮廓件、第二柱透镜、反射镜、反射式光栅、柱透镜和面阵CCD相机;所述SLD光源发出的点光源经过凸透镜准直为平行光束;该平行光束通过第一柱透镜聚焦为焦线光束,第一分光镜将焦线光束分为强度相等的两束光线,一束为参考光汇聚于参考镜,一束为探测光汇聚于待测曲面轮廓件;两束光线经反射后重合发生干涉,干涉光束经反射式光栅按波长在空间分光后由柱透镜汇聚成干涉谱线,由面CCD相机采集获得二维干涉光谱条纹。本发明可以实现对曲面轮廓的高精度、非接触、无损伤的精密检测。

    基于光学相干层析的全深式曲面轮廓测量装置及控制方法

    公开(公告)号:CN109297434A

    公开(公告)日:2019-02-01

    申请号:CN201811467510.4

    申请日:2018-12-03

    Applicant: 福州大学

    Abstract: 本发明涉及一种基于光学相干层析的全深式曲面轮廓测量装置,包括:SLD光源、凸透镜、第一柱透镜、第一分光镜、参考镜、待测曲面轮廓件、第二柱透镜、反射镜、反射式光栅、柱透镜和面阵CCD相机;所述SLD光源发出的点光源经过凸透镜准直为平行光束;该平行光束通过第一柱透镜聚焦为焦线光束,第一分光镜将焦线光束分为强度相等的两束光线,一束为参考光汇聚于参考镜,一束为探测光汇聚于待测曲面轮廓件;两束光线经反射后重合发生干涉,干涉光束经反射式光栅按波长在空间分光后由柱透镜汇聚成干涉谱线,由面CCD相机采集获得二维干涉光谱条纹。本发明可以实现对曲面轮廓的高精度、非接触、无损伤的精密检测。

    一种基于悬臂梁模态频率的质量称量装置及方法

    公开(公告)号:CN108917895B

    公开(公告)日:2024-01-09

    申请号:CN201811123207.2

    申请日:2018-09-26

    Applicant: 福州大学

    Abstract: 本发明涉及一种基于悬臂梁模态频率的质量称量装置及方法,包括钨卤素灯光源模块、迈克尔逊干涉仪模块、二维光谱仪模块、悬臂梁模块、以及计算机。本发明在对轻的薄壁结构件的振动检测及模态分析进行了解和研究的基础上,提出一种效率高、精度高、非接触、无损、不引入附加质量及高分辨率的结构模态分析方法,该方法无需知道激振输入信号的信息就可以对梁结构进行实时模态分析,并且无需知道激振输入信号,就能够实现质量称量。

    基于改进多次反射全聚焦成像算法的界面型缺陷检测方法

    公开(公告)号:CN109212032A

    公开(公告)日:2019-01-15

    申请号:CN201811245799.5

    申请日:2018-10-25

    Applicant: 福州大学

    Abstract: 本发明涉及一种基于改进多次反射全聚焦成像算法的界面型缺陷检测方法,包括以下步骤:步骤S1:根据界面深度S及接收P次回波所需的时长,设置仪器参数;步骤S2:采用全矩阵捕获技术对待测工件进行回波捕获;步骤S3:对待测区域离散的每一个目标成像点采用改进多次反射全聚焦算法进行虚拟聚焦,得到待测区域界面型缺陷检测结果。本发明基于改进多次反射全聚焦成像算法,采集多次回波,将每一次回波中所包含的目标成像点信息都进行深度累加,从而突出了界面缺陷的特征,大大提高了脱粘缺陷的检出率。

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