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公开(公告)号：CN105717532B
公开(公告)日：2019-07-26
申请号：CN201610081264.3
申请日：2008-04-09
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor： R·M·斯诺尔仁 , H·施泰因豪泽 , N·J·努尔德霍尔克 , M·西蒙
CPC classification number: G01T1/2018 , G01T1/2928
Abstract: 一种提供与针对初级辐射的闪烁体的空间增益分布有关的信息的方法，其不需要利用初级辐射来照射闪烁体。所述方法包括利用次级辐射照射闪烁体，以为所述次级辐射生成闪烁体的空间次级增益分布的图像。所述空间次级增益分布图像与针对初极辐射的空间初级增益分布的图像相对应。在本发明的一个实施例中，即，在初级辐射是X射线辐射的X射线成像设备中，本发明提供X射线探测器的精确校准而不需要利用X射线辐射来照射X射线探测器。而是，利用UV辐射作为次级辐射的照射提供了可用于校准的所期望的空间次级增益分布图像。
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公开(公告)号：CN101652677A
公开(公告)日：2010-02-17
申请号：CN200880011645.8
申请日：2008-04-09
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor： R·M·斯诺尔仁 , H·施泰因豪泽 , N·J·努尔德霍尔克 , M·西蒙
IPC: G01T1/20
CPC classification number: G01T1/2018 , G01T1/2928
Abstract: 一种提供与针对初级辐射的闪烁体的空间增益分布有关的信息的方法，其不需要利用初级辐射来照射闪烁体。所述方法包括利用次级辐射照射闪烁体，以为所述次级辐射生成闪烁体的空间次级增益分布的图像。所述空间次级增益分布图像与针对初极辐射的空间初级增益分布的图像相对应。在本发明的一个实施例中，即，在初级辐射是X射线辐射的X射线成像设备中，本发明提供X射线探测器的精确校准而不需要利用X射线辐射来照射X射线探测器。而是，利用UV辐射作为次级辐射的照射提供了可用于校准的所期望的空间次级增益分布图像。
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公开(公告)号：CN105717532A
公开(公告)日：2016-06-29
申请号：CN201610081264.3
申请日：2008-04-09
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor： R·M·斯诺尔仁 , H·施泰因豪泽 , N·J·努尔德霍尔克 , M·西蒙
CPC classification number: G01T1/2018 , G01T1/2928
Abstract: 一种提供与针对初级辐射的闪烁体的空间增益分布有关的信息的方法，其不需要利用初级辐射来照射闪烁体。所述方法包括利用次级辐射照射闪烁体，以为所述次级辐射生成闪烁体的空间次级增益分布的图像。所述空间次级增益分布图像与针对初极辐射的空间初级增益分布的图像相对应。在本发明的一个实施例中，即，在初级辐射是X射线辐射的X射线成像设备中，本发明提供X射线探测器的精确校准而不需要利用X射线辐射来照射X射线探测器。而是，利用UV辐射作为次级辐射的照射提供了可用于校准的所期望的空间次级增益分布图像。
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公开(公告)号：CN101534715B
公开(公告)日：2012-01-11
申请号：CN200780041469.8
申请日：2007-10-30
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor： N·J·努尔德霍尔克
IPC: A61B6/00
CPC classification number: A61B6/12 , A61B6/4441 , A61B6/547 , A61B34/20 , A61B2034/2051 , A61B2090/376
Abstract: 本发明涉及用于预防当金属针存在于扫描视场中时，在活检过程中由计算机断层摄影扫描产生的金属伪影的方法和设备。预先确定金属针的方向和电磁场的方向。针对电磁场的确定，考虑电磁场的源位置和探测器位置。当所确定的电磁场的方向和金属针的方向互相对应时，可以警告用户。
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公开(公告)号：CN101652676A
公开(公告)日：2010-02-17
申请号：CN200880011346.4
申请日：2008-04-08
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor： R·M·斯诺尔仁 , H·施泰因豪泽 , N·J·努尔德霍尔克 , M·西蒙
IPC: G01T1/20
CPC classification number: G01T1/2018 , G01T1/20
Abstract: 根据本发明的一个实施例，用于探测初级辐射(6)的辐射探测器设备(10)包括：闪烁体(12)，其响应于入射的初级辐射(6)产生经转换的初级辐射；以及光电探测器(14)，其用于探测所述经转换的初级辐射。所述辐射探测器设备(10)还包括次级辐射源(20)，其用于以次级辐射(22)照射所述闪烁体(12)，所述次级辐射(22)具有的波长不同于所述第一辐射(6)的波长并能够为初级辐射产生闪烁体(12)的空间上更均匀的响应。本发明的一个实施例中，辐射探测器设备(10)是X射线成像设备的X射线探测器，其中初级辐射是X射线辐射，并且次级辐射具有350nm和450nm之间的波长。根据一个实施例，具有次级辐射(例如，UV辐射)的照射产生X射线探测器(10)的均匀增益分布。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101534715A
公开(公告)日：2009-09-16
申请号：CN200780041469.8
申请日：2007-10-30
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor： N·J·努尔德霍尔克
IPC: A61B6/00
CPC classification number: A61B6/12 , A61B6/4441 , A61B6/547 , A61B34/20 , A61B2034/2051 , A61B2090/376
Abstract: 本发明涉及用于预防当金属针存在于扫描视场中时，在活检过程中由计算机断层摄影扫描产生的金属伪影的方法和设备。预先确定金属针的方向和电磁场的方向。针对电磁场的确定，考虑电磁场的源位置和探测器位置。当所确定的电磁场的方向和金属针的方向互相对应时，可以警告用户。
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公开(公告)号：CN101534714A
公开(公告)日：2009-09-16
申请号：CN200780040898.3
申请日：2007-10-24
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor： N·J·努尔德霍尔克
CPC classification number: A61B6/035 , A61B6/4441 , A61B6/4464 , A61B6/4488 , A61B6/56
Abstract: 当前的C形臂检查设备不能够执行360度的旋转。其原因在于将外部机柜连接到探测器、准直器和X射线管的布线不允许这种旋转。根据本发明的示例性实施例，提供一种检查装置，其具有将外部机柜连接到C形臂的连接设备，该连接设备适于实现C形臂多于360度的旋转。这种连接设备可以包括用于卷起线缆的存储设备。
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公开(公告)号：CN102481133B
公开(公告)日：2015-08-12
申请号：CN201080039760.3
申请日：2010-09-01
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor： N·J·努尔德霍尔克 , A·巴尔吉德
IPC: A61B6/00
CPC classification number: A61B6/481 , A61B6/4441 , A61B6/466
Abstract: 一种X射线设备10，其在前向移动F期间执行对象的第一次扫描并且在后向移动B期间执行第二次扫描。由于通过X射线设备10的臂12支撑的X射线成像装置18的扫刷式移动，两次扫描之间的时间可能是非常短的。
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公开(公告)号：CN101534714B
公开(公告)日：2013-09-25
申请号：CN200780040898.3
申请日：2007-10-24
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor： N·J·努尔德霍尔克
CPC classification number: A61B6/035 , A61B6/4441 , A61B6/4464 , A61B6/4488 , A61B6/56
Abstract: 当前的C形臂检查设备不能够执行360度的旋转。其原因在于将外部机柜连接到探测器、准直器和X射线管的布线不允许这种旋转。根据本发明的示例性实施例，提供一种检查装置，其具有将外部机柜连接到C形臂的连接设备，该连接设备适于实现C形臂多于360度的旋转。这种连接设备可以包括用于卷起线缆的存储设备。
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公开(公告)号：CN101652676B
公开(公告)日：2013-02-13
申请号：CN200880011346.4
申请日：2008-04-08
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor： R·M·斯诺尔仁 , H·施泰因豪泽 , N·J·努尔德霍尔克 , M·西蒙
IPC: G01T1/20
CPC classification number: G01T1/2018 , G01T1/20
Abstract: 根据本发明的一个实施例，用于探测初级辐射(6)的辐射探测器设备(10)包括：闪烁体(12)，其响应于入射的初级辐射(6)产生经转换的初级辐射；以及光电探测器(14)，其用于探测所述经转换的初级辐射。所述辐射探测器设备(10)还包括次级辐射源(20)，其用于以次级辐射(22)照射所述闪烁体(12)，所述次级辐射(22)具有的波长不同于所述第一辐射(6)的波长并能够为初级辐射产生闪烁体(12)的空间上更均匀的响应。本发明的一个实施例中，辐射探测器设备(10)是X射线成像设备的X射线探测器，其中初级辐射是X射线辐射，并且次级辐射具有350nm和450nm之间的波长。根据一个实施例，具有次级辐射(例如，UV辐射)的照射产生X射线探测器(10)的均匀增益分布。
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