叠层结构薄膜热流传感器的制备方法

    公开(公告)号:CN114659657A

    公开(公告)日:2022-06-24

    申请号:CN202210309541.7

    申请日:2022-03-28

    Abstract: 叠层结构薄膜热流传感器的制备方法,涉及传感器技术。本发明包括下述步骤:1)通过真空镀膜的方式在第一热电材料薄膜上生长第二热电材料薄膜,获得复合单元层,第一热电材料的厚度是第二热电材料薄膜的3~5倍;2)将预设数量的复合单元层重叠后,真空下烧结形成一个复合结构体;3)切割复合结构体,形成由各复合单元层斜向重叠构成的传感结构体;4)在传感结构体两端设置电极。本发明可以在有限尺寸条件下,使用微加工工艺,减小金属薄膜厚度,提高金属叠层数量,使得人造倾斜叠层结构薄膜热流传感器的灵敏度大大提升。

    一种热流与温度的单点同时测量方法

    公开(公告)号:CN114608717B

    公开(公告)日:2022-12-20

    申请号:CN202210276343.5

    申请日:2022-03-21

    Abstract: 本发明属于薄膜特种传感器技术领域,具体涉及一种热流与温度的单点同时测量方法。本发明基于原子层热电堆热流传感器,利用其功能层薄膜电阻值随温度变化而改变,将其视为热电阻传感器,根据测得原子层热流传感器功能层薄膜电阻值的大小来表征其温度。并将功能层薄膜同时作为热流敏感元件和温度敏感元件,实现了温度和热流在同一点的同时测量,通过温度值修正热流特性曲线,使得热流测量更加准确。本发明消除了现有技术使用两种不同传感器时由传感器尺寸、传感器安装位置不同等因素引起的误差,并且薄膜传感器体积小,实际测量位置更加精准。

    一种热流与温度的单点同时测量方法

    公开(公告)号:CN114608717A

    公开(公告)日:2022-06-10

    申请号:CN202210276343.5

    申请日:2022-03-21

    Abstract: 本发明属于薄膜特种传感器技术领域,具体涉及一种热流与温度的单点同时测量方法。本发明基于原子层热电堆热流传感器,利用其功能层薄膜电阻值随温度变化而改变,将其视为热电阻传感器,根据测得原子层热流传感器功能层薄膜电阻值的大小来表征其温度。并将功能层薄膜同时作为热流敏感元件和温度敏感元件,实现了温度和热流在同一点的同时测量,通过温度值修正热流特性曲线,使得热流测量更加准确。本发明消除了现有技术使用两种不同传感器时由传感器尺寸、传感器安装位置不同等因素引起的误差,并且薄膜传感器体积小,实际测量位置更加精准。

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