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公开(公告)号：CN100425017C
公开(公告)日：2008-10-08
申请号：CN200510124513.4
申请日：2005-12-08
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于预编码的并行卷积LDPC码的编码方法。该方法通过设计并行卷积LDPC码编码器实现对并行卷积LDPC码的编码，并获得所述LDPC码的校验矩阵H。其编码过程是：首先将信息序列分组存入存储器中，把存储器中的信息序列通过不同的随机交织器交织后送入对应的模2和运算器进行预编码，然后将预编码得到的校验比特分别送入不同的递归卷积编码器进行卷积编码，最后将卷积编码器输出的校验比特和存储器中的信息比特重组生成一个码率为R＝M/(M+N)、码长为(M+N)L的并行卷积LDPC码字。本发明在能保证性能的前提下，实现高速编码，且所需要的存储空间较低，设计和应用比较灵活，可用于快速数据传输的有效编码。
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公开(公告)号：CN116246690A
公开(公告)日：2023-06-09
申请号：CN202310319689.3
申请日：2023-03-28
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明属于数据存储技术领域，具体提供一种EEPROM数据可靠性校验方法，用于判断EEPROM存储的数据是否发生了非预期的变化。本发明包括：ECC校验与自检功能，EEPROM的最高地址写入对所有数据进行CRC计算的结果；ECC校验包括：ECC编码与ECC解码，ECC编码对待写入数据进行编码并写入；ECC解码对读出数据进行解码校验，并将错误信息反馈至主机；主机发送自检请求并对EEPROM所有地址进行依次读数据操作，读出数据经解码校验后输入至自检模块进行CRC计算，若ECC校验结果未出错且CRC计算结果为0、则判定数据可靠，否则、判定数据不可靠。本发明通过ECC校验与自检功能组合实现了对EEPROM数据可靠性的校验，进而实现提高系统可靠性的目的。
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公开(公告)号：CN1777082A
公开(公告)日：2006-05-24
申请号：CN200510124513.4
申请日：2005-12-08
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于预编码的并行卷积LDPC码的编码方法。该方法通过设计并行卷积LDPC码编码器实现对并行卷积LDPC码的编码，并获得所述LDPC码的校验矩阵H。其编码过程是：首先将信息序列分组存入存储器中，把存储器中的信息序列通过不同的随机交织器交织后送入对应的模2和运算器进行预编码，然后将预编码得到的校验比特分别送入不同的递归卷积编码器进行卷积编码，最后将卷积编码器输出的校验比特和存储器中的信息比特重组生成一个码率为R＝M/(M+N)、码长为(M+N)L的并行卷积LDPC码字。本发明在能保证性能的前提下，实现高速编码，且所需要的存储空间较低，设计和应用比较灵活，可用于快速数据传输的有效编码。
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