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公开(公告)号：CN102541660B
公开(公告)日：2013-09-04
申请号：CN201210006172.0
申请日：2012-01-06
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06F9/50
Abstract: 本发明公开了一种红外实时成像系统的帧缓存调度装置及调度方法，装置包括：调度装置初始单元，用于为缓存初始化对应的调度装置单元，使该调度装置投入使用；读缓存调度单元，用于为读操作分配可读缓存，将读操作缓存对应的链表结点信息返回给申请者；写缓存调度单元，用于为写操作分配缓存，将分配的缓存对应的链表结点信息返回申请者；调度装置回收单元，用于将已经读或写完毕的缓存对应的链表结点插入到正确的链表中。本发明能根据缓存的状态来管理缓存，当存在可写入红外帧数据的缓存时，新的帧缓存总是被写入。
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公开(公告)号：CN102768072A
公开(公告)日：2012-11-07
申请号：CN201210285742.4
申请日：2012-08-13
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01J5/00
Abstract: 本发明实施例公开了一种红外热像仪的校正装置，包括：第一驱动装置；具有第一温度的第一黑体挡片，连接到第一驱动装置的输出端；第二驱动装置；具有第二温度的第二黑体挡片，连接到第二驱动装置的输出端；控制器，连接到第一驱动装置和第二驱动装置，并控制第一黑体挡片在第一位置和第二位置之间运动，以及控制第二黑体挡片在第三位置和第四位置之间运动。本发明实施例中，分别使第一黑体挡片和第二黑体挡片运动到红外焦平面探测器和红外镜头之间，获得第一和第二红外原始图像，从而获得红外图像的校正参数。可以实时地对红外热像仪进行校正参数更新，以适应不同的条件和环境的变化。
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公开(公告)号：CN101774530B
公开(公告)日：2012-06-06
申请号：CN201010104941.1
申请日：2010-02-03
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 一种微测辐射热计，包括微桥结构，该微桥结构中的热敏电阻材料和红外吸收材料层为碳纳米管-非晶硅复合膜，该碳纳米管-非晶硅复合膜是由一维碳纳米管和两维非晶硅薄膜复合而成，另该微桥结构为三层夹心结构：最底层是非晶氮化硅薄膜，作为微桥的支撑与绝缘材料；中间层是一层或者多层碳纳米管-非晶硅复合膜，其应力与底层氮化硅膜的性质相反，作为微测辐射热计的热敏感层和红外光吸收层；表层是非晶氮化硅薄膜，其应力与中间碳纳米管-非晶硅复合膜的性质相反，作为红外敏感薄膜的钝化层以及应力的调控层。该微测辐射热计及其制备方法能克服现有技术中所存在的缺陷，提高了器件的工作性能，降低了原料成本，适宜大规模产业化生产。
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公开(公告)号：CN101886261A
公开(公告)日：2010-11-17
申请号：CN201010222514.3
申请日：2010-07-09
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种用于微测辐射热计的氧化钒薄膜的制备方法，其特征在于，包括以下步骤：①清洗衬底，吹干后备用；②把事先制备好的原始、或已经功能化处理的碳纳米管放在烧杯当中，与有机溶剂混合，超声分散，然后，把分散液转移到经清洁处理的衬底的表面，使溶剂挥发，形成交错、互联的碳纳米管膜；③把步骤②得到的分散有碳纳米管膜的衬底放入抽为真空的反应器中，利用反应器生长一层氧化钒膜，所生长的氧化钒膜分散在碳纳米管的表面、以及管与管的间隙当中，退火，形成氧化钒-碳纳米管复合膜结构；④冷却至室温后，从反应器中取出；⑤根据需要，依次重复碳纳米管分散、氧化钒沉积和退火步骤，形成氧化钒-碳纳米管多层复合膜结构。
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公开(公告)号：CN101774530A
公开(公告)日：2010-07-14
申请号：CN201010104941.1
申请日：2010-02-03
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 一种微测辐射热计，包括微桥结构，该微桥结构中的热敏电阻材料和红外吸收材料层为碳纳米管-非晶硅复合膜，该碳纳米管-非晶硅复合膜是由一维碳纳米管和两维非晶硅薄膜复合而成，另该微桥结构为三层夹心结构：最底层是非晶氮化硅薄膜，作为微桥的支撑与绝缘材料；中间层是一层或者多层碳纳米管-非晶硅复合膜，其应力与底层氮化硅膜的性质相反，作为微测辐射热计的热敏感层和红外光吸收层；表层是非晶氮化硅薄膜，其应力与中间碳纳米管-非晶硅复合膜的性质相反，作为红外敏感薄膜的钝化层以及应力的调控层。该微测辐射热计及其制备方法能克服现有技术中所存在的缺陷，提高了器件的工作性能，降低了原料成本，适宜大规模产业化生产。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102564598B
公开(公告)日：2013-09-25
申请号：CN201210003527.0
申请日：2012-01-06
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01J5/00
Abstract: 本发明公开了一种红外探测器测温的定标和校正方法及相应的测温方法，其中测温定标和非均匀校正的流程是非均匀校正先开始，进行到生成校正参数和之后，进行测温定标，但此时非均匀校正的过程没有停止，一直在进行循环判断参数是否发生漂移，若漂移则对参数进行校正，否则继续判断，测温定标过程是每采集一个温度的探测器响应，对其利用之前计算非均匀参数进行一次非均匀校正，然后记录下该温度和探测器响应数据，重复该过程，直到采集到足够数据，然后对数据进行拟合，得到探测器温度响应函数。本发明将红外探测器非均匀校正和测温的定标步骤简化为一个步骤，可方便地实现之前需要两个步骤才能实现的校正和定标，另一方面更能够提高测温的精度。
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公开(公告)号：CN102831573A
公开(公告)日：2012-12-19
申请号：CN201210286867.9
申请日：2012-08-14
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06T3/20
Abstract: 本发明实施例公开了一种红外图像的线性拉伸方法，包括：获取红外图像；用红外图像的像素点灰度值构建最大二叉堆和最小二叉堆；以最大二叉堆的根节点为暗点灰度值；以最小二叉堆的根节点为亮点灰度值；根据亮点灰度值和暗点灰度值获得拉伸参数；用拉伸参数拉伸红外图像。本发明的实施例中，用红外图像的像素点灰度值构建最大二叉堆和最小二叉堆，并用最小二叉堆的根节点作为亮点灰度值，用最大二叉堆的根节点作为暗点灰度值，避免了噪声对亮点灰度值和暗点灰度值的干扰，能够更好地反应红外图像的亮点和暗点；根据该亮点灰度值和暗点灰度值生成红外图像的拉伸参数，能够更准确地拉伸红外图像。
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公开(公告)号：CN101900607B
公开(公告)日：2012-07-25
申请号：CN201010208486.X
申请日：2010-06-24
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01J5/20
Abstract: 本发明公开了一种用于红外探测器的氧化钒薄膜及其制作方法，该薄膜为氧化钒-碳纳米管复合膜，即由一维碳纳米管与两维氧化钒膜复合而成，构成红外探测器的热敏电阻材料及红外吸收材料。采用这种氧化钒-碳纳米管复合膜用于红外探测器的制作，克服了现有制造技术对敏感薄膜化学结构造成的负面影响，同时，还能够克服单纯的碳纳米管、或单纯的氧化钒材料在电学和光学等性能的不足，提高器件的综合性能。本发明公开的氧化钒-碳纳米管复合膜的制备方法简单，无需复杂、昂贵的成膜设备，降低了制造成本，提高了红外探测器的工作性能，适宜大规模产业化生产。
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公开(公告)号：CN101900607A
公开(公告)日：2010-12-01
申请号：CN201010208486.X
申请日：2010-06-24
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01J5/20
Abstract: 本发明公开了一种用于红外探测器的氧化钒薄膜及其制作方法，该薄膜为氧化钒-碳纳米管复合膜，即由一维碳纳米管与两维氧化钒膜复合而成，构成红外探测器的热敏电阻材料及红外吸收材料。采用这种氧化钒-碳纳米管复合膜用于红外探测器的制作，克服了现有制造技术对敏感薄膜化学结构造成的负面影响，同时，还能够克服单纯的碳纳米管、或单纯的氧化钒材料在电学和光学等性能的不足，提高器件的综合性能。本发明公开的氧化钒-碳纳米管复合膜的制备方法简单，无需复杂、昂贵的成膜设备，降低了制造成本，提高了红外探测器的工作性能，适宜大规模产业化生产。
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公开(公告)号：CN101881667B
公开(公告)日：2015-09-09
申请号：CN201010208522.2
申请日：2010-06-24
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种非制冷微测辐射热计，包括用于非制冷探测器的微测辐射热计微桥结构，该微桥结构中的热敏电阻材料和光吸收材料为氧化钒-碳纳米管复合膜，该氧化钒-碳纳米管复合膜是由一维碳纳米管和两维氧化钒薄膜复合而成，另该微桥结构为三层夹心结构：最底层是非晶氮化硅薄膜，作为微桥的支撑与绝缘材料；中间层是一层或者多层氧化钒-碳纳米管复合膜，作为微测辐射热计的热敏感层和光吸收层；表层是另外一层非晶氮化硅薄膜，作为热敏薄膜的钝化层以及应力的调控层。该微测辐射热计及其制备方法能克服现有技术中所存在的缺陷，提高了器件的工作性能，降低了原料成本，适宜大规模产业化生产。
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