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公开(公告)号：CN1195216C
公开(公告)日：2005-03-30
申请号：CN02133994.5
申请日：2002-10-31
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明提供了一种检测光学仪器内部元件的方法，它采用了激光光源，利用激光良好的会聚性，减少了镜面之间信号的相互干扰；通过观测激光在被检测光学表面的反射光，利用反射光在有损伤时呈现出的高对比度，能够容易地检测出的损伤。本发明的方法主要是检测透镜损伤(包括镜面上的污点和缺隙)，它特别适用于复杂光路内部光学元件表面污点、间隙损伤的检测。采用本发明的方法，观测者不需要特殊的专门技巧，一般的人员能够方便地实施检测。
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公开(公告)号：CN1493918A
公开(公告)日：2004-05-05
申请号：CN02133995.3
申请日：2002-10-31
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明提供了一种测量扫描式转镜高速摄影机瞬时扫描速度的方法，它是通过激光脉冲序列在底片上曝光形成一列时标点，采用底片分析仪分析底片时，对应于有效记录过程中的不同时刻，根据相邻时标点间的距离L和时间间隔T，便可测得该时刻的扫描速度(V＝L/T)。因此，采用本发明方法可以高精度、实时测量扫描式转镜高速摄影机瞬时扫描速度。
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公开(公告)号：CN1493868A
公开(公告)日：2004-05-05
申请号：CN02133994.5
申请日：2002-10-31
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明提供了一种检测光学仪器内部元件的方法，它采用了激光光源，利用激光良好的会聚性，减少了镜面之间信号的相互干扰；通过观测激光在被检测光学表面的反射光，利用反射光在有损伤时呈现出的高对比度，能够容易地检测出的损伤。本发明的方法主要是检测透镜损伤(包括镜面上的污点和缺隙)，它特别适用于复杂光路内部光学元件表面污点、间隙损伤的检测。采用本发明的方法，观测者不需要特殊的专门技巧，一般的人员能够方便地实施检测。
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公开(公告)号：CN100373257C
公开(公告)日：2008-03-05
申请号：CN02133995.3
申请日：2002-10-31
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明提供了一种测量扫描式转镜高速摄影机瞬时扫描速度的方法，它是通过激光脉冲序列在底片上曝光形成一列时标点，采用底片分析仪分析底片时，对应于有效记录过程中的不同时刻，根据相邻时标点间的距离L和时间间隔T，便可测得该时刻的扫描速度(V＝L/T)。因此，采用本发明方法可以高精度、实时测量扫描式转镜高速摄影机瞬时扫描速度。
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