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公开(公告)号:CN116735976A
公开(公告)日:2023-09-12
申请号:CN202310502656.2
申请日:2023-05-06
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R27/26
Abstract: 本发明公开了一种用于小区域微波测试的高灵敏度同轴谐振测试装置,属于微波、毫米波材料电磁参数测试技术领域。该装置是在传统同轴谐振腔的基础上,引入探针结构,以此构造出一端开路、一端短路的四分之一波长同轴谐振器。由于同轴谐振腔尺寸较大且没有介质填充,使得该装置有着高品质因数,测试灵敏度高;结构中探针与同轴谐振腔内导体采用插接方式连接,使其可以根据需求更换。通过更换不同长度的探针,调整装置长度来适用于宽频测试,解决了宽频测试的问题;相比传统的半波长或四分之一波长谐振器,本发明充分兼顾了高灵敏度和小区域检测的测试需求。
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公开(公告)号:CN117214485A
公开(公告)日:2023-12-12
申请号:CN202311084115.9
申请日:2023-08-25
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明的目的在于提供一种基于背馈式共面波导的微波探针,属于微波、毫米波材料电磁参数测试技术领域。该微波探针包括共面波导测试探针与测试夹具两部分;共面波导测试探针采用背馈式双端口设计,同时引入短路板构成谐振结构,可以避免端口匹配问题,在保证小测试区域的前提下,可以从矢量网络分析仪中提取出包括S11在内的多种S参数,便于后续介电常数的计算。
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