一种用于小区域微波测试的高灵敏度同轴谐振测试装置

    公开(公告)号:CN116735976A

    公开(公告)日:2023-09-12

    申请号:CN202310502656.2

    申请日:2023-05-06

    Abstract: 本发明公开了一种用于小区域微波测试的高灵敏度同轴谐振测试装置,属于微波、毫米波材料电磁参数测试技术领域。该装置是在传统同轴谐振腔的基础上,引入探针结构,以此构造出一端开路、一端短路的四分之一波长同轴谐振器。由于同轴谐振腔尺寸较大且没有介质填充,使得该装置有着高品质因数,测试灵敏度高;结构中探针与同轴谐振腔内导体采用插接方式连接,使其可以根据需求更换。通过更换不同长度的探针,调整装置长度来适用于宽频测试,解决了宽频测试的问题;相比传统的半波长或四分之一波长谐振器,本发明充分兼顾了高灵敏度和小区域检测的测试需求。

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