公开(公告)号：CN115436713A

公开(公告)日：2022-12-06

申请号：CN202211029896.7

申请日：2022-08-25

Applicant: 电子科技大学

Inventor： 朱辉 ,  高冲 ,  张梦华 ,  李恩 ,  潘俊文 ,  宋兆宁 ,  王培屹 ,  徐鑫杰 ,  余承勇

IPC: G01R27/26

Abstract: 本发明的目的在于提供一种基于差分相位的介电常数计算方法，属于微波电磁参数计算技术领域。该计算方法在在传统差分相位法计算公式基础上，先对存在相位模糊的传输相位在宽频带内进行解缠，获得真实的相位；再基于提出的修正函数，对计算得到的介电常数进行降元修正，从而实现准确的介电常数计算结果的获取。

公开(公告)号：CN115436713B

公开(公告)日：2024-11-22

申请号：CN202211029896.7

申请日：2022-08-25

Applicant: 电子科技大学

Inventor： 朱辉 ,  高冲 ,  张梦华 ,  李恩 ,  潘俊文 ,  宋兆宁 ,  王培屹 ,  徐鑫杰 ,  余承勇

IPC: G01R27/26

Abstract: 本发明的目的在于提供一种基于差分相位的介电常数计算方法，属于微波电磁参数计算技术领域。该计算方法在在传统差分相位法计算公式基础上，先对存在相位模糊的传输相位在宽频带内进行解缠，获得真实的相位；再基于提出的修正函数，对计算得到的介电常数进行降元修正，从而实现准确的介电常数计算结果的获取。

公开(公告)号：CN115420957B

公开(公告)日：2024-11-22

申请号：CN202211028551.X

申请日：2022-08-25

Applicant: 电子科技大学

Inventor： 高冲 ,  彭湘杰 ,  宋兆宁 ,  潘俊文 ,  王培屹 ,  宋鑫 ,  石林峰 ,  李恩

IPC: G01R27/26 ,  G01R29/10

Abstract: 本发明的目的在于提供一种适用于曲面材料的复介电常数计算方法，属于微波、毫米波材料电磁参数测试计算技术领域。该计算方法根据射线综合的思路，将待测曲面材料表面的入射电磁波进行射线分解，对每条分解后的射线传播建立楔形计算模型，从而计算得到放置待测曲面材料前后空间电场的变化，基于空间电场的变化计算出待测曲面材料的复介电常数；并且计算方法中综合考虑了天线照射范围内所有电磁场的传播过程，使得最终的计算结果具有较高的准确性。

公开(公告)号：CN117214485A

公开(公告)日：2023-12-12

申请号：CN202311084115.9

申请日：2023-08-25

Applicant: 电子科技大学

Inventor： 高冲 ,  张梦华 ,  胡嫁琪 ,  宋兆宁 ,  潘俊文 ,  王培屹 ,  张云鹏 ,  高勇 ,  余承勇 ,  李恩

IPC: G01R1/067 ,  G01R27/26

Abstract: 本发明的目的在于提供一种基于背馈式共面波导的微波探针，属于微波、毫米波材料电磁参数测试技术领域。该微波探针包括共面波导测试探针与测试夹具两部分；共面波导测试探针采用背馈式双端口设计，同时引入短路板构成谐振结构，可以避免端口匹配问题，在保证小测试区域的前提下，可以从矢量网络分析仪中提取出包括S11在内的多种S参数，便于后续介电常数的计算。

公开(公告)号：CN116577564A

公开(公告)日：2023-08-11

申请号：CN202310549850.6

申请日：2023-05-16

Applicant: 电子科技大学

Inventor： 高冲 ,  石林峰 ,  彭湘杰 ,  宋兆宁 ,  王培屹 ,  李恩 ,  高勇 ,  张云鹏 ,  余承勇

IPC: G01R27/26

Abstract: 本发明公开了一种天线罩介电性能分布测试系统及校准方法，属于微波、毫米波材料电磁参数测试技术领域。该系统包括发射天线、接收天线、放置待测天线罩的水平转台、矢量网络分析仪、计算机、六轴机械臂、微波电缆、待测天线罩、底部二维旋转台以及数据线。本发明测试系统采用了六轴机械臂、底部二维旋转台以及水平转台对天线罩进行各方位扫描，对天线罩的测试灵活性更高，不仅适用于天线罩介电性能的测试，同时可拓展应用于天线罩透波率、插入相位等电性能的测试；此外，利用本发明的校准方法，实现了对天线罩曲面区域的准确补偿校准，进而可以实现对天线罩整罩介电性能的准确测试。

公开(公告)号：CN115420957A

公开(公告)日：2022-12-02

申请号：CN202211028551.X

申请日：2022-08-25

Applicant: 电子科技大学

Inventor： 高冲 ,  彭湘杰 ,  宋兆宁 ,  潘俊文 ,  王培屹 ,  宋鑫 ,  石林峰 ,  李恩

IPC: G01R27/26 ,  G01R29/10

Abstract: 本发明的目的在于提供一种适用于曲面材料的复介电常数计算方法，属于微波、毫米波材料电磁参数测试计算技术领域。该计算方法根据射线综合的思路，将待测曲面材料表面的入射电磁波进行射线分解，对每条分解后的射线传播建立楔形计算模型，从而计算得到放置待测曲面材料前后空间电场的变化，基于空间电场的变化计算出待测曲面材料的复介电常数；并且计算方法中综合考虑了天线照射范围内所有电磁场的传播过程，使得最终的计算结果具有较高的准确性。