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公开(公告)号:CN106233451A
公开(公告)日:2016-12-14
申请号:CN201580006538.6
申请日:2015-01-30
Applicant: 瓦里安半导体设备公司 , 安堤格里斯公司
IPC: H01L21/687 , H01L21/205
Abstract: 在一个实施例中,一种制造静电夹的方法包含:形成绝缘体主体;在所述绝缘体主体上形成电极;以及在所述电极上沉积层堆叠,所述层堆叠包括使用原子层沉积(ALD)而沉积的氧化铝层。
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公开(公告)号:CN106233451B
公开(公告)日:2020-06-30
申请号:CN201580006538.6
申请日:2015-01-30
Applicant: 瓦里安半导体设备公司 , 安堤格里斯公司
IPC: H01L21/687 , H01L21/205
Abstract: 本发明提供一种制造静电夹的方法、一种静电夹及一种静电夹系统。在一个实施例中,一种制造静电夹的方法包含:形成绝缘体主体;在所述绝缘体主体上形成电极;以及在所述电极上沉积层堆叠,所述层堆叠包括使用原子层沉积(ALD)而沉积的氧化铝层。抗扩散层堆叠设置在静电夹的电极与将由静电夹固持的衬底之间。可在操作期间抑制金属从静电夹滤出,避免污染衬底。
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