一种电子产品中硬件控制器的测试装置及其使用方法

    公开(公告)号:CN119045454A

    公开(公告)日:2024-11-29

    申请号:CN202411151647.4

    申请日:2024-08-21

    Abstract: 本发明公开了一种电子产品中硬件控制器的测试装置及其使用方法,该装置包括:每个形变采集模块设置在硬件控制器上的对应测试点,在硬件控制器受到压力的情况下采集每个测试点的形变数据;FPGA主控单元,根据每个测试点的形变数据和硬件控制器所受压力的压力数据,确定每个测试点发生形变的当前形变值和所受压力的当前压力值,进而,确定每个测试点所受压力的最小压力值和最大压力值、以及每个测试点发生形变的最小形变值和最大形变值;显示单元,对每个测试点所受压力的压力参数和发生形变的形变参数进行显示。该方案,通过对硬件控制器上每个测试点进行压力测试并获取形变值,保护硬件控制器自身的安全性,提升电子产品的安全性。

    一种数控机床主轴热膨胀测量结构及测量系统和补偿系统

    公开(公告)号:CN118046243A

    公开(公告)日:2024-05-17

    申请号:CN202410285757.3

    申请日:2024-03-13

    Abstract: 本申请公开了一种数控机床主轴热膨胀测量结构及测量系统和补偿系统,属于测量领域,通过电流激励源为线圈提供交变电流,这样线圈能够为主轴提供一个变化磁场,当主轴热膨胀时,线圈电感发生变化,通过电感传感器芯片检测其电感变化得到代表主轴因热膨胀带来的位移量的电信号。然后将电信号输入到单片机内转换为数字信号。最后经输出模块输出给数控系统。本申请方案通过电器和电感传感器芯片能够准确测量主轴因热膨胀产生的位移量,有效保证了后续热膨胀补偿的准确,提高了数控机床的加工精度,且不需要高精度相机以及图像处理软件,成本较低。

    一种电路板运行测试系统及其测试方法

    公开(公告)号:CN116540067A

    公开(公告)日:2023-08-04

    申请号:CN202310375087.X

    申请日:2023-04-10

    Abstract: 本发明公开了一种电路板运行测试系统及其测试方法。所述系统包括:主控板、屏蔽箱及设置在屏蔽箱内的环境控制模块和支架,电路板固定在支架上,其中:环境控制模块,用于对屏蔽箱内的实验环境参数进行控制和调整,使电路板能够在多种实验环境参数下进行测试;主控板,根据测试要求对环境控制模块发出多种不同实验环境参数的控制指令,使电路板可在不同的测试环境下进行测试。本实施例提供了一种多环境参数可控的硬件测试、调试平台,方便研究电路板在不同环境参数下的状态,能够更加贴近硬件工作的环境来反应硬件的运行结果。

    数控系统测试方法、装置、计算机设备及存储介质

    公开(公告)号:CN115543849A

    公开(公告)日:2022-12-30

    申请号:CN202211370021.3

    申请日:2022-11-03

    Abstract: 本发明实施例公开了一种数控系统测试方法、装置、计算机设备及存储介质。方法应用于数控系统测试平台,数控系统测试平台用于对数控系统中的硬件进行检测方法包括:获取目标硬件的测试指令,测试指令指示对数控系统中的目标硬件进行测试;响应于测试指令,根据预设的硬件与控制信号的对应关系从预设的多个控制信号中确定与目标硬件对应的目标控制信号;根据目标控制信号控制目标硬件,使得目标硬件根据目标控制信号生成实际响应数据;获取实际响应数据;对实际响应数据与目标标准响应数据进行比对验证处理,输出验证结果,目标标准响应数据为预设的与目标控制信号对应的标准响应数据。本方案可以对数控系统的硬件进行全面测试,以及提高测试效率。

    一种电磁继电器测试装置及测试方法

    公开(公告)号:CN117434436A

    公开(公告)日:2024-01-23

    申请号:CN202311439883.1

    申请日:2023-10-31

    Abstract: 本发明涉及一种电磁继电器测试装置及测试方法,包括:电源模块、各个通道的电磁继电器测试模块、FPGA主控模块;电源模块与各个通道的电磁继电器测试模块、FPGA主控模块电连接,各个通道的电磁继电器测试模块与FPGA主控模块电连接;电源模块用于向各个通道的电磁继电器测试模块、以及FPGA主控模块进行供电;FPGA主控模块用于对于每个通道的电磁继电器测试模块,按照该通道对应的目标运行模式确定与该通道相匹配的电磁继电器测试结果。通过电磁继电器测试装置实现对各个通道进行相应的电磁继电器测试,得到可靠的测试结果(电磁继电器参数测试结果、电流测试结果、回跳测试结果),基于可靠的继电器测试结果,辅助继电器电路元器件的选型以及后续研发设计。

    测试头结构及具有其的测试装置
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119165210A

    公开(公告)日:2024-12-20

    申请号:CN202411531928.2

    申请日:2024-10-30

    Abstract: 本发明提供了一种测试头结构及具有其的测试装置。测试头结构包括:连接组件,包括相互连接的第一连接件和第二连接件;抵推结构,抵推结构的至少部分用于与连接组件连接,抵推结构的抵推端与第一连接件相对设置,抵推结构沿第一方向可移动地设置,以靠近或远离第一连接件并带动第一连接件运动;连接组件相对于抵推结构沿第二方向可移动地设置,以使第二连接件靠近或远离抵推结构,以使连接组件运动至与待测试端口的大小适配的插接位置。通过本发明提供的技术方案,能够解决现有技术中的测试头结构不便于快速进行插拔的技术问题。

    锁存器误导通的消除电路、其控制方法以及控制装置

    公开(公告)号:CN116094494A

    公开(公告)日:2023-05-09

    申请号:CN202211418930.X

    申请日:2022-11-14

    Abstract: 本申请提供了一种锁存器误导通的消除电路、其控制方法以及控制装置,控制器用于向锁存器的使能端提供预定电压,在预定电压为低电平的情况下,锁存器导通,消除电路包括:滤波结构,包括分压器件以及储能器件,分压器件的一端用于与预定电源电连接,分压器件的另一端用于与控制器和使能端的连接支路电连接,储能器件并联在分压器件两端,滤波结构用于在预定电压为高电平的情况下,对预定电压进行滤波,以至少减小预定电压的尖脉冲;测量结构,与分压器件的另一端电连接,测量结构用于测量分压器件的电性参数以及储能器件的电性参数,测量结构还用于测量经滤波结构滤波后的预定电压的电压值。本申请解决了锁存器上电误导通的问题。

    机床多I/O控制装置及方法
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115755675A

    公开(公告)日:2023-03-07

    申请号:CN202211340512.3

    申请日:2022-10-28

    Inventor: 沈俐 张宇辉 郑睿

    Abstract: 本发明涉及数控机床智能控制技术领域,提供一种机床多I/O控制装置及方法,能够通过I/O扩展模块实现多I/O控制,进而能够利用较少的主芯片资源实现机床控制,节约了控制器资源,同时利用强弱电隔离模块实现了强弱电分离,避免强弱电间产生相互干扰,对主控CPU起到了保护作用,确保数控机床操作的稳定性与安全性。

    按键测试装置及按键测试方法
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118962287A

    公开(公告)日:2024-11-15

    申请号:CN202411024367.7

    申请日:2024-07-29

    Abstract: 本申请实施例公开了一种按键测试装置及按键测试方法,属于测试领域。其中,所述按键测试装置包括处理模块、动作模块和电信号检测模块;所述处理模块用于获取测试数据并基于所述测试数据控制所述动作模块动作;所述动作模块用于触动所述待测设备的所述按键,以使所述按键被按动;所述电信号检测模块用于检测所述按键被按动时所述待测设备的电信号;所述处理模块用于根据所述电信号生成第一测试结果。本申请实施例具有减少测试步骤,提高测试效率以及提高按键测试装置的通用性的技术效果。

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