公开(公告)号：CN104535577A

公开(公告)日：2015-04-22

申请号：CN201410735986.7

申请日：2014-12-05

Applicant: 燕山大学

Inventor： 张玉燕 ,  温银堂 ,  王振春 ,  战再吉 ,  吕坤坤 ,  王大正 ,  周阳

IPC: G01N21/88

Abstract: 本发明公开了一种工件质量损失检测设备及工件质量损失检测方法，包括：载荷平台，固定在载荷平台上的型材构架，安装在型材构架上且能够在型材构架上移动的定位装置，以及固定安装在定位装置上的激光扫描传感器；检测设备还包括与激光扫描传感器相连的计算机控制模块；激光扫描传感器，用于由定位装置带动沿位于载荷平台上的细长形状的被测工件平滑移动，在移动的过程中对被测工件的轮廓线进行扫描，得到检测数据，并将检测数据传输给计算机控制模块；计算机控制模块，用于基于接收的检测数据确定被测工件的质量损失。基于该检测设备采用相应的检测方法，实现了对细长形状工件的表面质量损失检测。

公开(公告)号：CN104535577B

公开(公告)日：2017-03-08

申请号：CN201410735986.7

申请日：2014-12-05

Applicant: 燕山大学

Inventor： 张玉燕 ,  温银堂 ,  王振春 ,  战再吉 ,  吕坤坤 ,  王大正 ,  周阳

IPC: G01N21/88

Abstract: 本发明公开了一种工件质量损失检测设备及工件质量损失检测方法，包括：载荷平台，固定在载荷平台上的型材构架，安装在型材构架上且能够在型材构架上移动的定位装置，以及固定安装在定位装置上的激光扫描传感器；检测设备还包括与激光扫描传感器相连的计算机控制模块；激光扫描传感器，用于由定位装置带动沿位于载荷平台上的细长形状的被测工件平滑移动，在移动的过程中对被测工件的轮廓线进行扫描，得到检测数据，并将检测数据传输给计算机控制模块；计算机控制模块，用于基于接收的检测数据确定被测工件的质量损失。基于该检测设备采用相应的检测方法，实现了对细长形状工件的表面

公开(公告)号：CN205120742U

公开(公告)日：2016-03-30

申请号：CN201520796360.7

申请日：2015-10-15

Applicant: 燕山大学

Inventor： 王振春 ,  鲍志勇 ,  张晓林 ,  张佳宇 ,  王大正

IPC: G01P3/66

Abstract: 本实用新型公开了一种B探针，包括PCB，位于该PCB上的线圈、同轴电缆的连接器以及角度传感器，其中，线圈的两端分别与连接器的两个引脚相连，且角度传感器用于测量线圈的偏移角度。采用本实用新型提供的B探针，由于线圈采用PCB印刷的方式，保证了所有线圈的同一性，并且，通过角度传感器测量线圈的偏移角度，可以保证所有线圈在轨道炮膛中的位置和方向一致，从而保证了B探针的参数一致，进而提高了B探针的测量精度。