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公开(公告)号:CN119486192A
公开(公告)日:2025-02-18
申请号:CN202411661217.7
申请日:2024-11-20
Applicant: 燕山大学
Abstract: 本发明公开了一种功率MOSFET及其制备方法,属于微电子技术领域。功率MOSFET,包括自下而上设置的衬底层、AlN缓冲层、Ga2O3缓冲层和Ga2O3外延层;其中,Ga2O3外延层的顶面设置有沟槽,沟槽中设置有氧化隔离层;漏电极设置在Ga2O3外延层的一侧与氧化隔离层相邻;源电极设置在Ga2O3外延层的另一侧中间区域;源电极两侧设置有第二沟槽;第二沟槽上自下而上设置有NiO层和绝缘栅介质层;绝缘栅介质层上设置有非平面栅结构的栅电极;第二沟槽和栅电极周围的间隙部分填充有第一氧化隔离层。本发明通过结构的设计以及材料的选择,解决了现有同类器件散热和栅电极漏电严重的问题,提高了器件的耐压性能。