一种电芯极片孔隙率的测试方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119044024A

    公开(公告)日:2024-11-29

    申请号:CN202411133075.7

    申请日:2024-08-19

    Abstract: 本发明涉及电芯极片孔隙率测定技术领域,公开一种电芯极片孔隙率的测试方法,该方法包括:排出电芯极片孔隙中的气体,将测试液体充满电芯极片的孔隙,确保最终电芯极片的孔隙中的气体充分被测试液体所替代;对电芯极片上的测试液体进行固化;计算获得电芯极片的孔隙率k=(m2‑m1)/(ρ*V),其中,m1表示电芯极片吸附测试液体前的质量,m2表示电芯极片吸附测试液体后的质量,ρ表示测试液体的密度,V表示电芯极片的总体积。对电芯极片上的测试液体进行固化,则可以确保使测试液体固化在电芯极片的孔隙中不再流出,避免后续称重过程中测试液体流失,有利于获得精准的孔隙率。

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