测量设备的校准间隔确定方法、系统、介质及电子设备

    公开(公告)号:CN117573642A

    公开(公告)日:2024-02-20

    申请号:CN202311486115.1

    申请日:2023-11-08

    Abstract: 本申请公开了一种测量设备的校准间隔确定方法、系统、介质及电子设备,方法包括:获取待分析测量设备的历史工作时长和待分析测量设备中各元器件的元器件参数;根据历史工作时长和预先构建的精度影响因素表,确定待分析测量设备对应的多个精度影响因素;根据各元器件的元器件参数,分析各精度影响因素的级别标签;基于各精度影响因素的级别标签,确定待分析测量设备的校准间隔发送至客户端。由于本申请将测量设备的精度影响因素进行量化,通过各元器件的元器件参数可快速分析出测量设备所属精度影响因素的级别标签,能准确快速的确定出测量设备的校准间隔上报至客户端,该方式不需要专业人员就能快速确定,从而提升了测量设备的校准间隔上报效率。

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