测量设备的校准间隔确定方法、系统、介质及电子设备

    公开(公告)号:CN117573642A

    公开(公告)日:2024-02-20

    申请号:CN202311486115.1

    申请日:2023-11-08

    Abstract: 本申请公开了一种测量设备的校准间隔确定方法、系统、介质及电子设备,方法包括:获取待分析测量设备的历史工作时长和待分析测量设备中各元器件的元器件参数;根据历史工作时长和预先构建的精度影响因素表,确定待分析测量设备对应的多个精度影响因素;根据各元器件的元器件参数,分析各精度影响因素的级别标签;基于各精度影响因素的级别标签,确定待分析测量设备的校准间隔发送至客户端。由于本申请将测量设备的精度影响因素进行量化,通过各元器件的元器件参数可快速分析出测量设备所属精度影响因素的级别标签,能准确快速的确定出测量设备的校准间隔上报至客户端,该方式不需要专业人员就能快速确定,从而提升了测量设备的校准间隔上报效率。

    一种屏蔽装置及检测房
    2.
    实用新型

    公开(公告)号:CN222782232U

    公开(公告)日:2025-04-22

    申请号:CN202420498369.9

    申请日:2024-03-14

    Abstract: 本实用新型公开了一种屏蔽装置及检测房,该屏蔽装置包括四面侧面屏蔽墙以及顶面屏蔽墙;侧面屏蔽墙包括内层屏蔽板、外层屏蔽板和中间屏蔽层,内层屏蔽板临近密封空间,中间屏蔽层填充于内层屏蔽板与外层屏蔽板之间,中间屏蔽层包括第一铅构层以及第一混凝土屏蔽层,第一铅构层临近内层屏蔽板设置,第一混凝土屏蔽层位于第一铅构层背离内层屏蔽板的一侧;顶面屏蔽墙包括顶面屏蔽板、第二铅构层以及第二混凝土屏蔽层,第二铅构层位于顶面屏蔽板背离侧面屏蔽墙的一侧,第二混凝土屏蔽层位于第二铅构层背离顶面屏蔽板的一侧。该屏蔽装置能够更加精准、有效的防护特定的辐射种类,使得结构紧凑,缩短建造工期。

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