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公开(公告)号：CN102456227B
公开(公告)日：2015-05-27
申请号：CN201010529974.0
申请日：2010-10-28
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G06T11/00
CPC classification number: G06T11/006 , G06T2211/421
Abstract: 本发明公开了一种CT图像重建方法及装置。本发明CT图像重建方法包括步骤：选取与扫描圆轨道近似曲率的曲线上的同高度的投影数据；对所选取的投影数据进行加权处理；对经过加权处理的投影数据沿水平方向进行滤波；对滤波后的投影数据沿射线方向进行三维反投影。本发明CT图像重建装置包括重排单元、加权单元、滤波单元和反投影单元。采用本发明的技术方案能够有效地消除大锥角下的锥束伪影。
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公开(公告)号：CN102376096B
公开(公告)日：2014-01-29
申请号：CN201010257010.5
申请日：2010-08-18
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: A61B6/03 , G06T11/006 , G06T2211/416 , G06T2211/421
Abstract: 本发明公开了一种PI线选取和采样方法和装置以及CT图像重建方法和装置。本发明PI线选取和采样方法包括步骤：在螺旋轨道上选取在XY平面上投影互相平行且等间距分布的PI线和在所述PI线上等距离选取采样点。本发明CT图像重建方法的技术方案根据本发明PI线选取和采样方法所得到的PI线所相关的投影数据重建所选取的采样点并把上述重建结果采样成直角坐标系下的均匀像素。本发明PI线选取和采样装置以及CT图像重建装置的技术方案分别对应于本发明PI线选取和采样方法以及CT图像重建方法的技术方案。采样本发明的技术方案能够得到全局一致性的采样点。
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公开(公告)号：CN101532969B
公开(公告)日：2013-04-17
申请号：CN200810166472.9
申请日：2008-10-09
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
CPC classification number: A61B6/484
Abstract: 本申请涉及X射线光栅相衬成像系统及方法，包括：X射线装置，向被检测物体发射X射线束；第一和第二吸收光栅，位于X射线束方向上，被检测物体折射的X射线经该第一和/或第二吸收光栅形成强度变化的X射线信号；检测单元，接收强度变化的X射线并转换为电信号；和数据处理单元，处理并提取该电信号中折射角信息，并利用折射角信息计算出像素信息；成像单元，构建物体的图像。另外，还可用旋转结构旋转物体来实现CT成像，获得多个投影方向的折射角及相应图像，并使用CT重建算法计算出该被检测物体的折射率断层图像。根据本发明，使用通常的X光机、多缝准直器如源光栅，以及两个吸收光栅能够实现近分米量级视场的非相干条件下的相衬成像。
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公开(公告)号：CN102080986B
公开(公告)日：2012-11-14
申请号：CN200910238681.4
申请日：2009-11-30
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01H9/00
Abstract: 本发明公开一种光纤光栅振动传感部件，包括：基部；端部，所述端部构成振动质量块；悬臂梁，所述悬臂梁连接在基部和端部之间，所述悬臂梁构成振动放大臂；和光纤光栅应变片，所述光纤光栅应变片的两端分别固定在基部和端部上，用于检测悬臂梁的应变。本发明还涉及光纤光栅振动传感装置和测振系统及方法。
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公开(公告)号：CN101726503B
公开(公告)日：2012-08-29
申请号：CN200810224362.3
申请日：2008-10-17
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/083 , G01N23/04 , A61B6/03
Abstract: 涉及X射线层析相衬成像系统及方法，包括：X射线装置，向被检测物体发射X射线束；光栅子系统，包括第一和第二吸收光栅，位于X射线束方向上，被检测物体折射的X射线经该第一和第二吸收光栅形成强度变化的X射线信号；检测单元，接收强度变化的X射线并转换为电信号；和数据处理单元，处理并提取该电信号中折射角信息，并利用折射角信息计算出像素信息；相对移动装置，用于使得所述被检测的物体相对于所述成像系统相对地移动。在所述成像系统与被检测物体的一定相对移动范围内，在多个位置处，所述成像系统对被检测物体进行相衬成像，由此取得被检测物体的多个图像。所述多个图像经过转换变成同一个重建平面上的图像，并由此进行三维图像重建。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101943668B
公开(公告)日：2013-03-27
申请号：CN200910088662.8
申请日：2009-07-07
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04
CPC classification number: G01N23/04 , B82Y10/00 , G01N23/20075 , G21K2201/061 , G21K2207/005
Abstract: 一种X射线成像技术，利用包括：X射线源、两吸收光栅G1和G2、X射线探测器、控制器和数据处理单元的成像系统对被测物体进行X射线暗场CT成像，包括：向被测物体发射X射线；使得所述两块吸收光栅G1和G2之一在其至少一个周期范围内进行相位步进运动；在每个相位步进步骤，探测器接收X射线，并转化为电信号；其中，经过至少一个周期的相位步进，探测器上每个像素点处的X射线光强表示为一个光强曲线；根据探测器上每个像素点处的光强曲线与不存在被检测物体情况下的光强曲线的对比度，计算得到每个像素的散射角分布的二阶矩；在多个角度拍摄物体的图像，然后根据CT重建算法可以得物体的散射信息图像。
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公开(公告)号：CN101576515B
公开(公告)日：2012-07-04
申请号：CN200810005766.3
申请日：2008-02-04
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/083
CPC classification number: A61B6/484
Abstract: 一种X射线光栅相衬成像系统及方法，包括：X射线发射装置，向被检测物体发射X射线束；第一和第二吸收光栅，位于X射线束发射方向上，被检测物体折射的X射线经由该第一和/或第二吸收光栅形成强度变化的X射线信号；检测单元，用于接收强度变化的X射线，并转换为电信号；以及数据处理单元，处理并提取该电信号中折射角信息，并利用折射角信息计算出像素信息；成像单元，用于构建物体的图像。另外，还可利用一旋转结构，旋转物体实现CT成像模式，获得多个投影方向的折射角及相应图像，并使用CT重建算法计算出该被检测物体的折射率断层图像。本发明使用通常的X光机，以及十微米量级以上周期的光栅实现近分米量级视场的相衬成像。
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公开(公告)号：CN102456227A
公开(公告)日：2012-05-16
申请号：CN201010529974.0
申请日：2010-10-28
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G06T11/00
CPC classification number: G06T11/006 , G06T2211/421
Abstract: 本发明公开了一种CT图像重建方法及装置。本发明CT图像重建方法包括步骤：选取与扫描圆轨道近似曲率的曲线上的同高度的投影数据；对所选取的投影数据进行加权处理；对经过加权处理的投影数据沿水平方向进行滤波；对滤波后的投影数据沿射线方向进行三维反投影。本发明CT图像重建装置包括重排单元、加权单元、滤波单元和反投影单元。采用本发明的技术方案能够有效地消除大锥角下的锥束伪影。
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公开(公告)号：CN102376096A
公开(公告)日：2012-03-14
申请号：CN201010257010.5
申请日：2010-08-18
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: A61B6/03 , G06T11/006 , G06T2211/416 , G06T2211/421
Abstract: 本发明公开了一种PI线选取和采样方法和装置以及CT图像重建方法和装置。本发明PI线选取和采样方法包括步骤：在螺旋轨道上选取在XY平面上投影互相平行且等间距分布的PI线和在所述PI线上等距离选取采样点。本发明CT图像重建方法的技术方案根据本发明PI线选取和采样方法所得到的PI线所相关的投影数据重建所选取的采样点并把上述重建结果采样成直角坐标系下的均匀像素。本发明PI线选取和采样装置以及CT图像重建装置的技术方案分别对应于本发明PI线选取和采样方法以及CT图像重建方法的技术方案。采样本发明的技术方案能够得到全局一致性的采样点。
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公开(公告)号：CN102221565A
公开(公告)日：2011-10-19
申请号：CN201010149869.4
申请日：2010-04-19
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04 , G01N23/083 , G01N23/20 , G03B42/02
CPC classification number: G01N23/046 , A61B6/4291 , A61B6/484 , G01N2223/419
Abstract: 一种X射线成像系统，包括：X射线源、源光栅、固定光栅模块和X射线探测器，依次位于X射线的传播方向上；被检测物体位于所述源光栅和固定光栅模块之间；所述源光栅可在垂直于光路方向和光栅条纹的方向上作步进移动；其中，该系统还包括计算机工作站，其控制所述X射线源、源光栅、X射线探测器从而实现下述过程：源光栅在其至少一个周期范围内进行步进运动；在每个步进步骤，X射线源向被测物体发射X射线，同时所述探测器接收X射线；其中，经过至少一个周期的步进和数据采集，探测器上每个像素点处的X射线的光强表示为一个光强曲线；将探测器上每个像素点处的光强曲线与不存在被检测物体情况下的光强曲线相比较，由所述光强曲线的变化计算得出在每个像素点的像素值；根据所计算得出的像素值重建被检测物体的图像。
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