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公开(公告)号：CN101576515B
公开(公告)日：2012-07-04
申请号：CN200810005766.3
申请日：2008-02-04
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/083
CPC classification number: A61B6/484
Abstract: 一种X射线光栅相衬成像系统及方法，包括：X射线发射装置，向被检测物体发射X射线束；第一和第二吸收光栅，位于X射线束发射方向上，被检测物体折射的X射线经由该第一和/或第二吸收光栅形成强度变化的X射线信号；检测单元，用于接收强度变化的X射线，并转换为电信号；以及数据处理单元，处理并提取该电信号中折射角信息，并利用折射角信息计算出像素信息；成像单元，用于构建物体的图像。另外，还可利用一旋转结构，旋转物体实现CT成像模式，获得多个投影方向的折射角及相应图像，并使用CT重建算法计算出该被检测物体的折射率断层图像。本发明使用通常的X光机，以及十微米量级以上周期的光栅实现近分米量级视场的相衬成像。
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公开(公告)号：CN102376096A
公开(公告)日：2012-03-14
申请号：CN201010257010.5
申请日：2010-08-18
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: A61B6/03 , G06T11/006 , G06T2211/416 , G06T2211/421
Abstract: 本发明公开了一种PI线选取和采样方法和装置以及CT图像重建方法和装置。本发明PI线选取和采样方法包括步骤：在螺旋轨道上选取在XY平面上投影互相平行且等间距分布的PI线和在所述PI线上等距离选取采样点。本发明CT图像重建方法的技术方案根据本发明PI线选取和采样方法所得到的PI线所相关的投影数据重建所选取的采样点并把上述重建结果采样成直角坐标系下的均匀像素。本发明PI线选取和采样装置以及CT图像重建装置的技术方案分别对应于本发明PI线选取和采样方法以及CT图像重建方法的技术方案。采样本发明的技术方案能够得到全局一致性的采样点。
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公开(公告)号：CN104346820B
公开(公告)日：2017-05-17
申请号：CN201310318608.4
申请日：2013-07-26
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G01N23/046 , G06T11/006 , G06T2207/10081 , G06T2207/20182 , G06T2207/30004 , G06T2211/408 , G06T2211/424
Abstract: 本发明涉及一种基于自先验信息的X光双能CT重建方法，能够利用数据内在的信息提供先验模型，从而获得高质量的重建图像。本发明的X光双能CT重建方法具有如下步骤：（a）进行能谱标定和双能查找表建立；（b）利用双能CT成像系统的探测器采集得到双能CT成像系统的高能数据pH以及低能数据pL；（c）根据所得到的所述高能数据pH以及所述低能数据pL得到比例图像r1以及r2的投影图像R1以及R2；（d）利用第一局部平滑限制条件重建比例图像r2，由此，得到电子密度图；（e）利用第二局部平滑限制条件重建比例图像r1，由此，得到等效原子序数图像。在本发明中，有效地利用数据固有信息，能够在保持分辨率的情况下有效地抑制双能重建图像的噪声。
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公开(公告)号：CN104346820A
公开(公告)日：2015-02-11
申请号：CN201310318608.4
申请日：2013-07-26
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G01N23/046 , G06T11/006 , G06T2207/10081 , G06T2207/20182 , G06T2207/30004 , G06T2211/408 , G06T2211/424
Abstract: 本发明涉及一种基于自先验信息的X光双能CT重建方法，能够利用数据内在的信息提供先验模型，从而获得高质量的重建图像。本发明的X光双能CT重建方法具有如下步骤：（a）进行能谱标定和双能查找表建立；（b）利用双能CT成像系统的探测器采集得到双能CT成像系统的高能数据pH以及低能数据pL；（c）根据所得到的所述高能数据pH以及所述低能数据pL得到比例图像r1以及r2的投影图像R1以及R2；（d）利用第一局部平滑限制条件重建比例图像r2，由此，得到电子密度图；（e）利用第二局部平滑限制条件重建比例图像r1，由此，得到等效原子序数图像。在本发明中，有效地利用数据固有信息，能够在保持分辨率的情况下有效地抑制双能重建图像的噪声。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102376096B
公开(公告)日：2014-01-29
申请号：CN201010257010.5
申请日：2010-08-18
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: A61B6/03 , G06T11/006 , G06T2211/416 , G06T2211/421
Abstract: 本发明公开了一种PI线选取和采样方法和装置以及CT图像重建方法和装置。本发明PI线选取和采样方法包括步骤：在螺旋轨道上选取在XY平面上投影互相平行且等间距分布的PI线和在所述PI线上等距离选取采样点。本发明CT图像重建方法的技术方案根据本发明PI线选取和采样方法所得到的PI线所相关的投影数据重建所选取的采样点并把上述重建结果采样成直角坐标系下的均匀像素。本发明PI线选取和采样装置以及CT图像重建装置的技术方案分别对应于本发明PI线选取和采样方法以及CT图像重建方法的技术方案。采样本发明的技术方案能够得到全局一致性的采样点。
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公开(公告)号：CN101532969B
公开(公告)日：2013-04-17
申请号：CN200810166472.9
申请日：2008-10-09
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
CPC classification number: A61B6/484
Abstract: 本申请涉及X射线光栅相衬成像系统及方法，包括：X射线装置，向被检测物体发射X射线束；第一和第二吸收光栅，位于X射线束方向上，被检测物体折射的X射线经该第一和/或第二吸收光栅形成强度变化的X射线信号；检测单元，接收强度变化的X射线并转换为电信号；和数据处理单元，处理并提取该电信号中折射角信息，并利用折射角信息计算出像素信息；成像单元，构建物体的图像。另外，还可用旋转结构旋转物体来实现CT成像，获得多个投影方向的折射角及相应图像，并使用CT重建算法计算出该被检测物体的折射率断层图像。根据本发明，使用通常的X光机、多缝准直器如源光栅，以及两个吸收光栅能够实现近分米量级视场的非相干条件下的相衬成像。
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公开(公告)号：CN101576515A
公开(公告)日：2009-11-11
申请号：CN200810005766.3
申请日：2008-02-04
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/083
CPC classification number: A61B6/484
Abstract: 一种X射线光栅相衬成像系统及方法，包括：X射线发射装置，向被检测物体发射X射线束；第一和第二吸收光栅，位于X射线束发射方向上，被检测物体折射的X射线经由该第一和/或第二吸收光栅形成强度变化的X射线信号；检测单元，用于接收强度变化的X射线，并转换为电信号；以及数据处理单元，处理并提取该电信号中折射角信息，并利用折射角信息计算出像素信息；成像单元，用于构建物体的图像。另外，还可利用一旋转结构，旋转物体实现CT成像模式，获得多个投影方向的折射角及相应图像，并使用CT重建算法计算出该被检测物体的折射率断层图像。本发明使用通常的X光机，以及十微米量级以上周期的光栅实现近分米量级视场的相衬成像。
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公开(公告)号：CN101532969A
公开(公告)日：2009-09-16
申请号：CN200810166472.9
申请日：2008-10-09
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
CPC classification number: A61B6/484
Abstract: 本申请涉及X射线光栅相衬成像系统及方法，包括：X射线装置，向被检测物体发射X射线束；第一和第二吸收光栅，位于X射线束方向上，被检测物体折射的X射线经该第一和/或第二吸收光栅形成强度变化的X射线信号；检测单元，接收强度变化的X射线并转换为电信号；和数据处理单元，处理并提取该电信号中折射角信息，并利用折射角信息计算出像素信息；成像单元，构建物体的图像。另外，还可用旋转结构旋转物体来实现CT成像，获得多个投影方向的折射角及相应图像，并使用CT重建算法计算出该被检测物体的折射率断层图像。根据本发明，使用通常的X光机、多缝准直器如源光栅，以及两个吸收光栅能够实现近分米量级视场的非相干条件下的相衬成像。
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公开(公告)号：CN201191275Y
公开(公告)日：2009-02-04
申请号：CN200720190341.5
申请日：2007-11-23
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
CPC classification number: A61B6/484 , A61B6/4291 , G21K2207/005
Abstract: 本实用新型提供一种X射线光栅相衬成像系统，用于对物体进行检测，包括：X射线发射装置，用于向被检测物体发射X射线；第一和第二吸收光栅，二者平行地依次位于X射线方向上，被检测物体折射的X射线经由该第一和/或第二吸收光栅形成强度变化的X射线信号，其中该X射线信号包含被折射X射线的折射角信息；检测单元，用于接收强度变化的X射线，并将X射线信号转换为电信号；以及数据处理单元用于从检测单元接收电信号，提取该电信号中折射角信息，并根据折射角信息利用预定算法来重构物体内部的折射率分布的断层图像。通过本实用新型，可以摆脱对射线源相干性的依赖，没有Tablot距离的限制，能使用十微米量级以上周期的光栅实现近分米量级视场的相衬成像。
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