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公开(公告)号：CN105699234B
公开(公告)日：2019-03-01
申请号：CN201610057617.6
申请日：2016-01-27
Applicant: 清华大学
IPC: G01N3/58
Abstract: 本发明公开了一种实现高速切削的实验装置，实验装置设在加热炉内，包括：分离式霍普金森压杆系统，分离式霍普金森压杆系统的入射杆与透射杆间隔开设置且相对于透射杆可活动，驱动件被构造成可驱动入射杆向透射杆所在方向活动；加工件，加工件设在透射杆的朝向入射杆的一端上，加工件内限定有腔室，加工件的内壁面上设有沿腔室的径向向内突出的凸部；套筒，套筒设在入射杆的朝向加工件的一端上，套筒上设有切削刃，切削刃与凸部的位置对应，驱动件驱动入射杆产生脉冲应力波并驱动切削刃切削凸部。根据本发明实施例的实现高速切削的实验装置，可以实现加工件的高速切削的目的，从而便于研究加工件的材料特性和切削加工特性，安全、可靠性高。
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公开(公告)号：CN103290419B
公开(公告)日：2015-04-15
申请号：CN201310257642.5
申请日：2013-06-25
Applicant: 清华大学
Abstract: 本发明提出了齿轮处理方法，该方法包括：将齿轮进行加热处理；将加热处理后的齿轮进行真空渗碳处理；将经过真空渗碳处理的齿轮进行气淬处理；将经过气淬处理的齿轮进行至少一次高温回火-气淬处理；将经过高温回火-气淬处理的齿轮进行淬火处理；将经过淬火处理的齿轮进行深冷处理；以及将经过深冷处理的齿轮进行低温回火处理。利用该方法可以显著提高齿轮表面硬度（64HRC以上），处理得到的齿轮表层材料不容易脆裂，从而提高了齿轮的耐磨性和接触疲劳强度。
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公开(公告)号：CN103290419A
公开(公告)日：2013-09-11
申请号：CN201310257642.5
申请日：2013-06-25
Applicant: 清华大学
Abstract: 本发明提出了齿轮处理方法，该方法包括：将齿轮进行加热处理；将加热处理后的齿轮进行真空渗碳处理；将经过真空渗碳处理的齿轮进行气淬处理；将经过气淬处理的齿轮进行至少一次高温回火-气淬处理；将经过高温回火-气淬处理的齿轮进行淬火处理；将经过淬火处理的齿轮进行深冷处理；以及将经过深冷处理的齿轮进行低温回火处理。利用该方法可以显著提高齿轮表面硬度（64HRC以上），处理得到的齿轮表层材料不容易脆裂，从而提高了齿轮的耐磨性和接触疲劳强度。
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公开(公告)号：CN111256859B
公开(公告)日：2021-09-07
申请号：CN201910386431.9
申请日：2019-05-09
Applicant: 清华大学
IPC: G01K7/06
Abstract: 本申请提出了一种检测热影响区温度的系统和方法及存储介质，其中，在预估的基体的热影响区的不同位置设置有不同深度的多个测温点，通过激光器对基体进行激光熔覆，所述系统包括：与多个测温点一一对应设置的多个温度传感器，用于检测对应测温点的温度；数据装置，用于获取温度检测数据，记录熔覆时间，根据温度检测数据和熔覆时间获得熔覆方向上各个测温点的温度时间曲线，以及根据熔覆速度将不同时刻的温度时间曲线转换为同一时刻热影响区的温度空间分布，根据温度空间分布获得热影响区的温度数据。本申请的检测热影响区温度的方法和系统，可以直接测量获得准确可靠的温度参数，为研究材料的组织梯度、力学性能演化提供数据基础。
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公开(公告)号：CN105277486B
公开(公告)日：2018-08-28
申请号：CN201510753401.9
申请日：2015-11-06
Applicant: 清华大学
IPC: G01N19/04
Abstract: 本发明公开了一种用于测量试样的涂层界面结合强度的测量装置和用于测量试样的涂层界面结合强度的测量方法。试样包括基体和设在基体的端面上的涂层，基体的端面的边沿位于涂层的边沿的内侧。所述用于测量试样的涂层界面结合强度的测量装置包括：第一支撑架，第一支撑架具有夹持部；和第二支撑架，第二支撑架可拆卸地设在第一支撑架上，第一支撑架与第二支撑架之间形成用于容纳涂层的容纳腔，其中第二支撑架上设有用于通过基体的第一部分的通孔，通孔在第一方向上与夹持部相对，通孔的边沿适于位于涂层的边沿的内侧。根据本发明实施例的用于测量试样的涂层界面结合强度的测量装置具有结构简单、易于制造、测试效率高等优点。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103674328A
公开(公告)日：2014-03-26
申请号：CN201310677102.2
申请日：2013-12-11
Applicant: 清华大学
Abstract: 本发明提出一种基于Labview的热电偶自动测温分析方法，包括以下步骤：将数据采集卡分别与温度检测装置和上位机进行连接；待连接完成后，通过上位机选择数据采集卡占用的端口以及温度检测装置在数据采集卡上占用的采集通道；上位机接收数据采集卡采集的由温度检测装置检测到的被测设备的温度数据；根据采样点的温度数据生成温度随时间的变化图以及温度变化速度曲线图；根据温度随时间的变化图以及温度变化速度曲线图对被测设备进行性能分析。本发明的方法，通过上位机触发温度采样频率指令和/或采集通道切换指令来调整数据采集卡的温度采样频率和/或切换数据采集卡的采样通道，使得Labview软件能够普遍适用于不同的数据采集卡。
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公开(公告)号：CN111256859A
公开(公告)日：2020-06-09
申请号：CN201910386431.9
申请日：2019-05-09
Applicant: 清华大学
IPC: G01K7/06
Abstract: 本申请提出了一种检测热影响区温度的系统和方法及存储介质，其中，在预估的基体的热影响区的不同位置设置有不同深度的多个测温点，通过激光器对基体进行激光熔覆，所述系统包括：与多个测温点一一对应设置的多个温度传感器，用于检测对应测温点的温度；数据装置，用于获取温度检测数据，记录熔覆时间，根据温度检测数据和熔覆时间获得熔覆方向上各个测温点的温度时间曲线，以及根据熔覆速度将不同时刻的温度时间曲线转换为同一时刻热影响区的温度空间分布，根据温度空间分布获得热影响区的温度数据。本申请的检测热影响区温度的方法和系统，可以直接测量获得准确可靠的温度参数，为研究材料的组织梯度、力学性能演化提供数据基础。
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公开(公告)号：CN103674328B
公开(公告)日：2016-06-29
申请号：CN201310677102.2
申请日：2013-12-11
Applicant: 清华大学
Abstract: 本发明提出一种基于Labview的热电偶自动测温分析方法，包括以下步骤：将数据采集卡分别与温度检测装置和上位机进行连接；待连接完成后，通过上位机选择数据采集卡占用的端口以及温度检测装置在数据采集卡上占用的采集通道；上位机接收数据采集卡采集的由温度检测装置检测到的被测设备的温度数据；根据采样点的温度数据生成温度随时间的变化图以及温度变化速度曲线图；根据温度随时间的变化图以及温度变化速度曲线图对被测设备进行性能分析。本发明的方法，通过上位机触发温度采样频率指令和/或采集通道切换指令来调整数据采集卡的温度采样频率和/或切换数据采集卡的采样通道，使得Labview软件能够普遍适用于不同的数据采集卡。
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公开(公告)号：CN105699234A
公开(公告)日：2016-06-22
申请号：CN201610057617.6
申请日：2016-01-27
Applicant: 清华大学
IPC: G01N3/58
CPC classification number: G01N3/58
Abstract: 本发明公开了一种实现高速切削的实验装置，实验装置设在加热炉内，包括：分离式霍普金森压杆系统，分离式霍普金森压杆系统的入射杆与透射杆间隔开设置且相对于透射杆可活动，驱动件被构造成可驱动入射杆向透射杆所在方向活动；加工件，加工件设在透射杆的朝向入射杆的一端上，加工件内限定有腔室，加工件的内壁面上设有沿腔室的径向向内突出的凸部；套筒，套筒设在入射杆的朝向加工件的一端上，套筒上设有切削刃，切削刃与凸部的位置对应，驱动件驱动入射杆产生脉冲应力波并驱动切削刃切削凸部。根据本发明实施例的实现高速切削的实验装置，可以实现加工件的高速切削的目的，从而便于研究加工件的材料特性和切削加工特性，安全、可靠性高。
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公开(公告)号：CN105277486A
公开(公告)日：2016-01-27
申请号：CN201510753401.9
申请日：2015-11-06
Applicant: 清华大学
IPC: G01N19/04
Abstract: 本发明公开了一种用于测量试样的涂层界面结合强度的测量装置和用于测量试样的涂层界面结合强度的测量方法。试样包括基体和设在基体的端面上的涂层，基体的端面的边沿位于涂层的边沿的内侧。所述用于测量试样的涂层界面结合强度的测量装置包括：第一支撑架，第一支撑架具有夹持部；和第二支撑架，第二支撑架可拆卸地设在第一支撑架上，第一支撑架与第二支撑架之间形成用于容纳涂层的容纳腔，其中第二支撑架上设有用于通过基体的第一部分的通孔，通孔在第一方向上与夹持部相对，通孔的边沿适于位于涂层的边沿的内侧。根据本发明实施例的用于测量试样的涂层界面结合强度的测量装置具有结构简单、易于制造、测试效率高等优点。
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