公开(公告)号：CN113591948A

公开(公告)日：2021-11-02

申请号：CN202110808135.0

申请日：2021-07-16

Applicant: 清华大学

Inventor： 刘华平 ,  耿升 ,  王峰 ,  黄耀 ,  吴雨培

IPC: G06K9/62 ,  G06N3/04 ,  G06N3/08

Abstract: 本公开提出一种缺陷模式识别方法、装置、电子设备和存储介质，属于缺陷检测技术领域和无监督学习技术领域。其中，所述方法包括：采集生产过程中的产品图像；根据预设的缺陷模式识别模型，对所述产品图像中产品的缺陷模式进行识别；其中，所述预设的缺陷模式识别模型输出所述产品图像中产品对应各缺陷模式的概率，并选取概率最大的缺陷模式作为所述产品的缺陷模式识别结果。本公开有效提高了缺陷模式的识别精度和效率并且能够大大降低人工成本，在工业生产方面有着巨大的应用前景。

公开(公告)号：CN113591948B

公开(公告)日：2024-09-27

申请号：CN202110808135.0

申请日：2021-07-16

Applicant: 清华大学

Inventor： 刘华平 ,  耿升 ,  王峰 ,  黄耀 ,  吴雨培

IPC: G06V10/774 ,  G06V10/764 ,  G06N3/0464 ,  G06V10/82 ,  G06N3/08

Abstract: 本公开提出一种缺陷模式识别方法、装置、电子设备和存储介质，属于缺陷检测技术领域和无监督学习技术领域。其中，所述方法包括：采集生产过程中的产品图像；根据预设的缺陷模式识别模型，对所述产品图像中产品的缺陷模式进行识别；其中，所述预设的缺陷模式识别模型输出所述产品图像中产品对应各缺陷模式的概率，并选取概率最大的缺陷模式作为所述产品的缺陷模式识别结果。本公开有效提高了缺陷模式的识别精度和效率并且能够大大降低人工成本，在工业生产方面有着巨大的应用前景。