透明介质折射率的测量装置及测量方法

    公开(公告)号:CN103105377B

    公开(公告)日:2015-05-13

    申请号:CN201210502623.X

    申请日:2012-11-30

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明提供一种透明介质折射率的测量装置,包括:一半外腔激光器,所述半外腔激光器包括一增益管及一输出腔镜,所述输出腔镜与所述增益管间隔并沿半外腔激光器的输出激光轴线共轴设置;一待测样品架,所述待测样品架位于所述增益管和所述输出腔镜之间并与两者间隔;一稳频激光器,所述稳频激光器的输出激光轴线与所述半外腔激光器的输出轴线垂直设置;以及一信号采集与处理系统,所述信号采集与处理系统包括分光棱镜、偏振片、光电探测器及一拍频处理显示系统。本发明进一步提供一种利用所述测量装置测量透明介质折射率的方法。

    透明介质折射率的测量装置及测量方法

    公开(公告)号:CN103278475A

    公开(公告)日:2013-09-04

    申请号:CN201310174525.2

    申请日:2013-05-13

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明提供一种透明介质折射率的测量装置,包括:一半外腔激光器,输出多纵模、基横模的连续激光,包括一增益管及一输出腔镜;一腔镜驱动装置与所述输出腔镜连接并驱动所述输出腔镜沿输出激光轴线往返移动;一拍频合成及探测模组设置于所述输出激光的光路上以获得所述输出激光的纵模间隔;一光电探测模组用于将所述输出激光的两个纵模分开形成两路激光信号号;一样品承载及测量模组用于承载待测样品并带动待测样品绕垂直于输出激光轴线的轴转动,并测量所述待测样品的转动角度;一信号处理与控制系统获取所述拍频合成及探测模组以及光电探测模组的电信号并进行处理。本发明进一步提供一种应用所述测量装置测量透明介质折射率的测量方法。

    透明介质折射率的测量装置及测量方法

    公开(公告)号:CN103105377A

    公开(公告)日:2013-05-15

    申请号:CN201210502623.X

    申请日:2012-11-30

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明提供一种透明介质折射率的测量装置,包括:一半外腔激光器,所述半外腔激光器包括一增益管及一输出腔镜,所述输出腔镜与所述增益管间隔并沿半外腔激光器的输出激光轴线共轴设置;一待测样品架,所述待测样品架位于所述增益管和所述输出腔镜之间并与两者间隔;一稳频激光器,所述稳频激光器的输出激光轴线与所述半外腔激光器的输出轴线垂直设置;以及一信号采集与处理系统,所述信号采集与处理系统包括分光棱镜、偏振片、光电探测器及一拍频处理显示系统。本发明进一步提供一种利用所述测量装置测量透明介质折射率的方法。

    光学材料折射率的测量系统及测量方法

    公开(公告)号:CN104807780A

    公开(公告)日:2015-07-29

    申请号:CN201510215062.9

    申请日:2015-04-30

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明提供一种光学材料折射率的测量系统,包括:一激光模组;一分光镜将激光器输出的激光分为反射光及透射光;一光电探测模组将反射光转换为电信号;一信号处理系统将光电探测模组输入的电信号进行处理;一声光移频模组对透射光进行移频,形成一参考光及一测量光;一参考回馈镜将参考光反射,使参考光沿从声光移频模组出射的测量光的光路返回;一测量回馈镜与所述参考回馈镜间隔设置,从参考回馈镜出射的测量光经过测量回馈镜反射后沿原光路返回;一位移装置,用于承载待测样品并驱动待测样品产生位移;以及一位移测量系统,用于探测待测样品的位移Δl,并将测量结果导入信号处理系统。本发明进一步提供光学材料折射率的测量方法。

    透明介质折射率的监测装置及监测方法

    公开(公告)号:CN103018200A

    公开(公告)日:2013-04-03

    申请号:CN201210501999.9

    申请日:2012-11-30

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明提供一种透明介质折射率的监测装置,其中,所述监测装置包括:一半外腔激光器,其包括一增益管及一输出腔镜,所述输出腔镜与所述增益管间隔并沿半外腔激光器的输出激光轴线共轴设置,形成激光谐振腔;一样品室,所述样品室位于所述增益管和所述输出腔镜之间,并与两者间隔;一稳频激光器,所述稳频激光器的输出激光轴线与所述半外腔激光器的输出激光轴线垂直设置;以及一信号采集与处理系统,所述信号采集与处理系统包括分光棱镜、偏振片、光电探测器及一拍频处理显示系统,所述半外腔激光器、稳频激光器与所述分光棱镜共轭设置。本发明进一步提供一种利用所述监测装置监测透明介质折射率的方法。

    液体折射率的测量系统及测量方法

    公开(公告)号:CN104749137A

    公开(公告)日:2015-07-01

    申请号:CN201510159761.6

    申请日:2015-04-07

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明提供一种液体折射率测量系统,包括:一激光模组包括一第一激光器及一第二激光器间隔设置;一分光镜,分别将第一激光器及第二激光器输出的激光分为第一反射光及第一透射光,以及第二反射光及第二透射光;一光电探测模组,将第一反射光及第二反射光转换为电信号;一信号处理系统将光电探测模组输入的电信号进行处理;一声光移频模组对第一透射光及第二透射光进行移频;一样品池,所述样品池包括一底面与所述水平面形成一夹角;以及一反射模组设置于第二透射光的光路上,经过反射模组反射及待测液体折射后的第二透射光的传输方向垂直于样品池的底面。

    液体折射率的测量系统及测量方法

    公开(公告)号:CN104749137B

    公开(公告)日:2017-09-22

    申请号:CN201510159761.6

    申请日:2015-04-07

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明提供一种液体折射率测量系统,包括:一激光模组包括一第一激光器及一第二激光器间隔设置;一分光镜,分别将第一激光器及第二激光器输出的激光分为第一反射光及第一透射光,以及第二反射光及第二透射光;一光电探测模组,将第一反射光及第二反射光转换为电信号;一信号处理系统将光电探测模组输入的电信号进行处理;一声光移频模组对第一透射光及第二透射光进行移频;一样品池,所述样品池包括一底面与所述水平面形成一夹角;以及一反射模组设置于第二透射光的光路上,经过反射模组反射及待测液体折射后的第二透射光的传输方向垂直于样品池的底面。

    光学材料折射率的测量系统及测量方法

    公开(公告)号:CN104807780B

    公开(公告)日:2017-07-18

    申请号:CN201510215062.9

    申请日:2015-04-30

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明提供一种光学材料折射率的测量系统,包括:一激光模组;一分光镜将激光器输出的激光分为反射光及透射光;一光电探测模组将反射光转换为电信号;一信号处理系统将光电探测模组输入的电信号进行处理;一声光移频模组对透射光进行移频,形成一参考光及一测量光;一参考回馈镜将参考光反射,使参考光沿从声光移频模组出射的测量光的光路返回;一测量回馈镜与所述参考回馈镜间隔设置,从参考回馈镜出射的测量光经过测量回馈镜反射后沿原光路返回;一位移装置,用于承载待测样品并驱动待测样品产生位移;以及一位移测量系统,用于探测待测样品的位移Δl,并将测量结果导入信号处理系统。本发明进一步提供光学材料折射率的测量方法。

Patent Agency Ranking