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公开(公告)号：CN100392732C
公开(公告)日：2008-06-04
申请号：CN200510022067.6
申请日：2005-11-09
Applicant: 清华大学深圳研究生院 , 东莞宏威数码机械有限公司
Abstract: 一种涉及光学的光盘驱动单元的聚焦偏置调整方法和装置，采用如下步骤：A、向光盘驱动单元中的聚焦力矩器施加驱动电压，使光盘驱动单元中的物镜与光盘之间的距离以一基准间距为中心相对抖动，B、射在光盘上的激光光斑反射于光学头探测器上，C、光学头探测器对接收到的光斑进行光电转换，计算模块接收转换后的电信号，计算聚焦误差信号量，发送至存储模块，取得聚焦误差信号曲线，D、根据所述聚焦误差信号曲线中的极值发生时间，取得所述极值发生时间的对应驱动电压值，该驱动电压值为极值发生电压值，E、通过调整所述基准间距使得所述极值发生电压值处于一设定的容限之内，获取调整结果间距，本发明调整精度高，成本低，实用性强，可靠性好。
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公开(公告)号：CN1687988A
公开(公告)日：2005-10-26
申请号：CN200510066028.6
申请日：2005-04-22
Applicant: 清华大学 , 江苏银河电子股份有限公司
Abstract: 本发明涉及一种多状态测试光学头力矩器动态参数的方法，属于光存储设备性能测试技术领域。首先使力矩器处于自由状态；在不同频率下输出正弦信号；驱动力矩器在聚焦方向或循迹方向产生抖动；使一束激光照射到力矩器物镜的反射点上，测得该反射点处的抖动速度；对速度信号进行积分，得到该点在正弦信号激励下的位移响应信号，绘制力矩器聚焦线圈或循迹线圈的幅值频率和相位频率特性曲线，得到力矩器聚焦线圈或循迹线圈的各项动态参数；在力矩器聚焦线圈和循迹线圈上施加不同的偏置电压，分别测试力矩器的动态参数。本发明的方法，更贴近力矩器的实际工作状态，测试结果更全面、准确地反映力矩器的实际工作性能。
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公开(公告)号：CN100375175C
公开(公告)日：2008-03-12
申请号：CN200510066028.6
申请日：2005-04-22
Applicant: 清华大学 , 江苏银河电子股份有限公司
Abstract: 本发明涉及一种多状态测试光学头力矩器动态参数的方法，属于光存储设备性能测试技术领域。首先使力矩器处于自由状态；在不同频率下输出正弦信号；驱动力矩器在聚焦方向或循迹方向产生抖动；使一束激光照射到力矩器物镜的反射点上，测得该反射点处的抖动速度；对速度信号进行积分，得到该点在正弦信号激励下的位移响应信号，绘制力矩器聚焦线圈或循迹线圈的幅值频率和相位频率特性曲线，得到力矩器聚焦线圈或循迹线圈的各项动态参数；在力矩器聚焦线圈和循迹线圈上施加不同的偏置电压，分别测试力矩器的动态参数。本发明的方法，更贴近力矩器的实际工作状态，测试结果更全面、准确地反映力矩器的实际工作性能。
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公开(公告)号：CN1758347A
公开(公告)日：2006-04-12
申请号：CN200510102403.8
申请日：2005-09-09
Applicant: 清华大学
Abstract: 本发明涉及一种基于聚焦误差的高倍速高密度盘片的质量检测方法，属于光存储技术领域。首先设待测盘片的转速为n倍速，将光盘上的激光反射光斑分成四个光斑区，对每个光斑区对应的四个电压信号进行四则运算得到聚焦误差信号；设定待测盘片质量所期望的抖晃值，并测定与该抖晃值所对应的标准盘片的聚焦偏置值；将标准盘片的聚焦偏置值设定为待测盘片聚焦信号的峰峰值阀值，将上述待测盘片的聚焦误差信号与峰峰值阀值进行比较，若聚焦误差信号位于阀值内，则待测盘片质量合格，若聚焦误差信号位于阀值外，则待测盘片质量不合格。本发明的方法，对待测盘片的评价参数少，因此检测速度快，适于在线、大批量快速检测盘片的质量，提高盘片检测效率。
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公开(公告)号：CN1687990A
公开(公告)日：2005-10-26
申请号：CN200510066030.3
申请日：2005-04-22
Applicant: 清华大学 , 江苏银河电子股份有限公司
Abstract: 本发明涉及一种光学头力矩器的轴向旋转缺陷的检测方法，属于光存储设备性能测试技术领域。首先在不同频率下输出正弦信号；驱动力矩器在聚焦方向或循迹方向产生抖动；使一束激光照射到力矩器物镜的反射点上，测得该点处的抖动速度；对速度信号进行积分，得到该点在正弦信号激励下的位移响应信号，绘制力矩器聚焦线圈和循迹线圈的幅值频率特性曲线，并得到力矩器聚焦线圈和循迹线圈的一阶共振频率；根据力矩器聚焦线圈和循迹线圈的幅值频率特性曲线判断力矩器的轴向旋转缺陷。本发明提出的光学头力矩器的轴向旋转缺陷的检测方法，用于及时改进生产工艺，保证产品质量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN100375182C
公开(公告)日：2008-03-12
申请号：CN200510066029.0
申请日：2005-04-22
Applicant: 清华大学 , 江苏银河电子股份有限公司
Abstract: 本发明涉及一种光学头力矩器动态参数的测试方法，属于光存储设备性能测试技术领域。首先在由低到高的不同频率f下分别输出固定幅值A的正弦信号；力矩器在正弦信号的驱动下产生抖动；使一束激光照射到力矩器物镜的反射点上，测得该反射点处的抖动速度；对速度信号进行积分，得到该点在上述频率f的正弦信号激励下的位移响应信号；分别绘制力矩器的幅值频率和相位频率特性曲线，在幅值频率和相位特性曲线上，得到力矩器动态参数。本发明的方法，测试速度快、测试精度高、可以测试低频至高频各个频段的动态特性，全面高精度地测试力矩器的动态性能曲线，用于评价力矩器的工作性能，实用性强。
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公开(公告)号：CN100345192C
公开(公告)日：2007-10-24
申请号：CN200510103290.3
申请日：2005-09-23
Applicant: 清华大学
Abstract: 本发明涉及一种高倍速数字通用光盘的聚焦、循迹及偏心性能检测装置，属于光存储技术领域。本检测装置中，待测盘片通过压盖夹持在托盘上，托盘安装在电机的主轴上。光学头位于被测光盘下部，光学头通过支架安装在进给平台底座上，同时与进给平台相互联动。仪器箱通过信号线分别与光学头和进给平台相连。计算机通过信号线与仪器箱相连。本发明检测装置的优点是对待测盘片的评价参数少，因此检测速度快，适于在线、大批量快速检测盘片的质量，提高盘片检测效率。该装置可应用在DVD盘片的工业生产过程中在线检测盘片质量，以对盘片质量时进行实时管理与控制。
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公开(公告)号：CN1801347A
公开(公告)日：2006-07-12
申请号：CN200510022067.6
申请日：2005-11-09
Applicant: 清华大学深圳研究生院 , 东莞宏威数码机械有限公司
Abstract: 一种涉及光学的光盘驱动单元的聚焦偏置调整方法和装置，采用如下步骤：A.向光盘驱动单元中的聚焦力矩器施加驱动电压，使光盘驱动单元中的物镜与光盘之间的距离以一基准间距为中心相对抖动，B.射在光盘上的激光光斑反射于光学头探测器上，C.光学头探测器对所接收到的光斑进行光电转换，取得聚焦误差信号曲线，D.根据所述聚焦误差信号曲线中的极值发生时间，取得所述极值发生时间的对应驱动电压值，该驱动电压值为极值发生电压值，E.通过调整所述基准间距使得所述极值发生电压值处于一设定的容限之内，获取调整结果间距；本发明调整精度高，成本低，实用性强，可靠性好。
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公开(公告)号：CN1770271A
公开(公告)日：2006-05-10
申请号：CN200510103290.3
申请日：2005-09-23
Applicant: 清华大学
Abstract: 本发明涉及一种高倍速数字通用光盘的聚焦、循迹及偏心性能检测装置，属于光存储技术领域。本检测装置中，待测盘片通过压盖夹持在托盘上，托盘安装在电机的主轴上。光学头位于被测光盘下部，光学头通过支架安装在进给平台底座上，同时与进给平台相互联动。仪器箱通过信号线分别与光学头和进给平台相连。计算机通过信号线与仪器箱相连。本发明检测装置的优点是对待测盘片的评价参数少，因此检测速度快，适于在线、大批量快速检测盘片的质量，提高盘片检测效率。该装置可应用在DVD盘片的工业生产过程中在线检测盘片质量，以对盘片质量进行实时管理与控制。
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公开(公告)号：CN100369139C
公开(公告)日：2008-02-13
申请号：CN200510066030.3
申请日：2005-04-22
Applicant: 清华大学 , 江苏银河电子股份有限公司
Abstract: 本发明涉及一种光学头力矩器的轴向旋转缺陷的检测方法，属于光存储设备性能测试技术领域。首先在不同频率下输出正弦信号；驱动力矩器在聚焦方向或循迹方向产生抖动；使一束激光照射到力矩器物镜的反射点上，测得该点处的抖动速度；对速度信号进行积分，得到该点在正弦信号激励下的位移响应信号，绘制力矩器聚焦线圈和循迹线圈的幅值频率特性曲线，并得到力矩器聚焦线圈和循迹线圈的一阶共振频率；根据力矩器聚焦线圈和循迹线圈的幅值频率特性曲线判断力矩器的轴向旋转缺陷。本发明提出的光学头力矩器的轴向旋转缺陷的检测方法，用于及时改进生产工艺，保证产品质量。
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