公开(公告)号：CN104133747B

公开(公告)日：2017-02-15

申请号：CN201410341980.1

申请日：2014-07-17

Applicant: 清华大学

Inventor： 张双悦 ,  王红 ,  杨士元 ,  苗巍

IPC: G06F11/22

Abstract: 本发明涉及一种现场可编程门阵列芯片应用电路的测试方法，属于电路设计技术领域。对于电路中的两个直接相连的查找表单元，若两个查找表单元满足特定的条件，则可以在保证电路逻辑功能正确的情况下，对前查找表单元添加后向冗余线或对后查找表单元添加前向冗余线。通过添加前向、后向冗余线，可以减少该局部电路所需的测试向量数，从而在整体上减少全电路所需的总测试向量数。同时，该方法能够在一定程度上减少原电路测试生成时产生的未知故障，降低电路测试生成的难度。

公开(公告)号：CN104133747A

公开(公告)日：2014-11-05

申请号：CN201410341980.1

申请日：2014-07-17

Applicant: 清华大学

Inventor： 张双悦 ,  王红 ,  杨士元 ,  苗巍

IPC: G06F11/22

Abstract: 本发明涉及一种现场可编程门阵列芯片应用电路的测试方法，属于电路设计技术领域。对于电路中的两个直接相连的查找表单元，若两个查找表单元满足特定的条件，则可以在保证电路逻辑功能正确的情况下，对前查找表单元添加后向冗余线或对后查找表单元添加前向冗余线。通过添加前向、后向冗余线，可以减少该局部电路所需的测试向量数，从而在整体上减少全电路所需的总测试向量数。同时，该方法能够在一定程度上减少原电路测试生成时产生的未知故障，降低电路测试生成的难度。