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公开(公告)号：CN114324240A
公开(公告)日：2022-04-12
申请号：CN202111678234.8
申请日：2021-12-31
Applicant: 清华大学
Abstract: 本申请涉及一种折射率测量装置及方法，激光出射装置出射测量光和探测光，测量光经过光纤环形器进入双光路差动补偿装置，经过分光、差分移频以及光纤光栅的作用形成补偿后的测量光。补偿后的测量光经过光纤环形器回到激光出射装置进行调制形成调制后的探测光，数据处理装置根据调制后的探测光确定折射率变化。本申请采用光纤环形器与双光路差动补偿装置使得补偿后的测量光回到激光发生装置发生激光移频回馈效应。激光移频回馈效应具有高灵敏度特性，可以放大光纤光栅带来的光强信号变化，从而提高折射率测量装置的灵敏度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114324240B
公开(公告)日：2024-04-09
申请号：CN202111678234.8
申请日：2021-12-31
Applicant: 清华大学
Abstract: 本申请涉及一种折射率测量装置及方法，激光出射装置出射测量光和探测光，测量光经过光纤环形器进入双光路差动补偿装置，经过分光、差分移频以及光纤光栅的作用形成补偿后的测量光。补偿后的测量光经过光纤环形器回到激光出射装置进行调制形成调制后的探测光，数据处理装置根据调制后的探测光确定折射率变化。本申请采用光纤环形器与双光路差动补偿装置使得补偿后的测量光回到激光发生装置发生激光移频回馈效应。激光移频回馈效应具有高灵敏度特性，可以放大光纤光栅带来的光强信号变化，从而提高折射率测量装置的灵敏度。
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公开(公告)号：CN113465550A
公开(公告)日：2021-10-01
申请号：CN202110744795.7
申请日：2021-06-30
Applicant: 清华大学
IPC: G01B11/26
Abstract: 本申请涉及一种非接触式转动角位移测量装置及测量方法，激光光束经过测量组件，即形成第一频率激光光束和第二频率激光光束，并在待测圆台一交点上散射形成第一测量回馈光束和第二测量回馈光束，随后回到激光发射装置并与激光发射装置内的原光场发生干涉效应，调制激光器的输出功率得到调制光束。探测器接收调制光束，并将调制光束由光信号转换为电信号。处理装置根据电信号计算待测圆台的角位移。通过激光的回馈调制现象进行测量，具有高精度、高分辨率，因此解决了容栅式角位移传感器在使用过程中出现安装误差的问题。此外，探测器通过实时检测调制光束中的光强和相位的变化，就可以动态测量一个待测圆台的角位移。
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公开(公告)号：CN111678892B
公开(公告)日：2021-07-27
申请号：CN202010564044.2
申请日：2020-06-19
Applicant: 清华大学
IPC: G01N21/552 , G01N21/01
Abstract: 本申请涉及一种折射率传感装置及测量方法，当所述第一激光光束和所述第二激光光束经过差分移频，回到所述激光器并与所述激光器内的原光场发生干涉，调制所述激光器的输出功率得到调制光束。该过程会存在一个106量级的增益放大，使微弱的回馈信号也能拥有足够的调制深度，依然可用于测量，这便是微片激光器移频光回馈具有高灵敏度的原因。因此便于精确地从调制光束中检测所述第一激光光束的光强或相位和所述第二激光束的光强或相位，而通过所述第一激光光束和所述第二激光光束的光强变化或相位变化可以反应所述待测介质折射率变化，因而可以提高对待测介质折射率变化测量的灵敏度和分辨率。
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公开(公告)号：CN113465550B
公开(公告)日：2022-08-05
申请号：CN202110744795.7
申请日：2021-06-30
Applicant: 清华大学
IPC: G01B11/26
Abstract: 本申请涉及一种非接触式转动角位移测量装置及测量方法，激光光束经过测量组件，即形成第一频率激光光束和第二频率激光光束，并在待测圆台一交点上散射形成第一测量回馈光束和第二测量回馈光束，随后回到激光发射装置并与激光发射装置内的原光场发生干涉效应，调制激光器的输出功率得到调制光束。探测器接收调制光束，并将调制光束由光信号转换为电信号。处理装置根据电信号计算待测圆台的角位移。通过激光的回馈调制现象进行测量，具有高精度、高分辨率，因此解决了容栅式角位移传感器在使用过程中出现安装误差的问题。此外，探测器通过实时检测调制光束中的光强和相位的变化，就可以动态测量一个待测圆台的角位移。
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公开(公告)号：CN111678892A
公开(公告)日：2020-09-18
申请号：CN202010564044.2
申请日：2020-06-19
Applicant: 清华大学
IPC: G01N21/552 , G01N21/01
Abstract: 本申请涉及一种折射率传感装置及测量方法，当所述第一激光光束和所述第二激光光束经过差分移频，回到所述激光器并与所述激光器内的原光场发生干涉，调制所述激光器的输出功率得到调制光束。该过程会存在一个106量级的增益放大，使微弱的回馈信号也能拥有足够的调制深度，依然可用于测量，这便是微片激光器移频光回馈具有高灵敏度的原因。因此便于精确地从调制光束中检测所述第一激光光束的光强或相位和所述第二激光束的光强或相位，而通过所述第一激光光束和所述第二激光光束的光强变化或相位变化可以反应所述待测介质折射率变化，因而可以提高对待测介质折射率变化测量的灵敏度和分辨率。
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