公开(公告)号：CN119374541A

公开(公告)日：2025-01-28

申请号：CN202411503267.2

申请日：2024-10-25

Applicant: 海宁集成电路与先进制造研究院

Inventor： 姚依笛 ,  龙康 ,  郭政建 ,  张文昊 ,  彭辉 ,  陈天洋

IPC: G01B21/22 ,  B08B1/34 ,  B08B13/00

Abstract: 本申请提供一种用于机床设备检测的校准平台，包括检测台、移动组件和清扫组件，其中，检测台包括底板和设置在底板上的加工台；移动组件设置在底板上，沿加工台的长度方向移动；清扫组件，通过升降组件设置在移动组件上，并沿加工台的高度方向升降，以使清扫组件位于加工台的上方对加工台进行清扫。升降组件可以带动清扫组件上下移动，从而可以使清扫组件适应不同高度的加工台，移动组件可以带动清扫组件沿加工台的长度方向移动，能够使清扫组件对加工台的端面进行全面清扫，通过升降组件设置在移动组件上，两者配合能够带动清扫组件对不同大小的加工台进行全面清扫，提高加工台的工作精度。

公开(公告)号：CN119327734A

公开(公告)日：2025-01-21

申请号：CN202411503265.3

申请日：2024-10-25

Applicant: 海宁集成电路与先进制造研究院

Inventor： 龙康 ,  姚依笛 ,  葛天飞 ,  许燚赟

IPC: B07C5/02 ,  B07C5/342 ,  B07C5/36

Abstract: 本申请提供一种基于机器视觉应用的校准平台，包括：基座、第一校准平台、第一视觉校准机构、离散机构、换向机构和第二校准平台。通过在第一校准平台和第二校准平台之间设置换向机构，换向机构不仅能够直接将正常工件平稳输送到第二校准平台右边末端直接送出，同时换向机构能够当第一校准平台上视觉校准机构检测到异常工件时，可以将异常工件的工件集群整体导入到离散机构上进行进一步检测确定，将异常工件自动送入到第二校准平台上。离散机构能够在接收到异常的工件集群后，将密集的工件分散，通过第二校准平台的第二视觉校准机构进行检测，进一步确认工件是否异常，解决了传统的检测设备无法精准判断工件是否存在瑕疵，造成误判或者漏判的问题。