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    测量装置
    1.
    发明公开
    测量装置 审中-实审

    公开(公告)号：CN117480378A

    公开(公告)日：2024-01-30

    申请号：CN202280042180.2

    申请日：2022-02-18

    Applicant: 浜松光子学株式会社

    Inventor： 池村贤一郎 ,  铃木健吾 ,  井口和也 ,  中村明裕

    IPC: G01N21/64

    Abstract: 本发明的测量装置(1)具备：积分球(4)，其在内部配置有测量物(S)；激发光学系统(3)，其将激发光(L1)朝向配置于积分球(4)的测量物(S)导光；光检测器(6)，其检测通过激发光(L1)的照射而由积分球(4)内的测量物(S)产生的被测量光(L2)；以及第1检测光学系统(7)，其将被测量光(L2)从积分球(4)朝向光检测器(6)导光。在激发光学系统(3)中入射于积分球(4)内的测量物(S)的激发光(L1)的光轴、与在第1检测光学系统(7)中从积分球(4)出射的被测量光(L2)的光轴斜交，第1检测光学系统(7)具有：限制光检测器(6)的被测量光(L2)的检测范围的开口部(36)，测量物(S)上的激发光(L1)的照射点(La)与开口部(36)为光学共轭关系。

    光测量装置及光测量方法
    2.
    发明授权
    光测量装置及光测量方法 有权

    公开(公告)号：CN106461463B

    公开(公告)日：2018-04-10

    申请号：CN201580025951.7

    申请日：2015-04-07

    Applicant: 浜松光子学株式会社

    Inventor： 江浦茂 ,  铃木健吾 ,  池村贤一郎 ,  井口和也

    IPC: G01J3/443 ,  G01N21/64

    CPC classification number: G01N21/64 ,  G01J3/0254 ,  G01J3/443 ,  G01N2201/12753

    Abstract: 光测量装置向配置有试样的积分球内输入激发光，使激发光以规定的光束截面照射至试样，并利用光检测器检测来自积分球的测量光而取得试样的强度数据。光测量装置包括：存储部，其存储有修正数据；及光特性计算部，其基于试样的强度数据及修正数据，计算出试样的光特性。修正数据基于对第1光吸收构件以规定的光束截面照射激发光而检测出的第1修正用强度数据、以及对第2光吸收构件以规定的光束截面照射激发光而检测出的第2修正用强度数据而计算出。规定的光束截面被第1光吸收构件覆盖并且覆盖第2光吸收构件。

    分光测定装置及分光测定方法
    3.
    发明公开
    分光测定装置及分光测定方法 有权

    公开(公告)号：CN107003183A

    公开(公告)日：2017-08-01

    申请号：CN201580065427.2

    申请日：2015-11-19

    Applicant: 浜松光子学株式会社

    Inventor： 铃木健吾 ,  井口和也

    IPC: G01J3/36 ,  G01N21/64

    CPC classification number: G01J3/36 ,  G01J3/0254 ,  G01J3/4406 ,  G01N21/64 ,  G01N21/645 ,  G01N2021/6421 ,  G01N2021/6469 ,  G01N2021/6484 ,  G01N2201/065

    Abstract: 分光测定装置(1)具备光源(10)、积分器(20)、第1分光检测器(41)、第2分光检测器(42)及解析部(50)。积分器(20)包含：内部空间(21)，其配置有测定对象物；光输入部(22)，其将光输入到内部空间(21)；光输出部(23)，其将光自内部空间(21)输出；及试样安装部(24)，其安装测定对象物。第1分光检测器(41)接收自积分器(20)输出的光，对该光中的第1波段的光进行分光而取得第1光谱数据。第2分光检测器(42)接收自积分器(20)输出的光，对该光中的第2波段的光进行分光而取得第2光谱数据。第1波段与第2波段包含一部分重叠的波段。由此，实现了可分光测定更宽的波段的被测定光的分光测定装置及分光测定方法。

    分光测定装置、分光测定方法以及分光测定程序
    6.
    发明公开
    分光测定装置、分光测定方法以及分光测定程序 有权

    公开(公告)号：CN102187203A

    公开(公告)日：2011-09-14

    申请号：CN200980140897.5

    申请日：2009-09-08

    Applicant: 浜松光子学株式会社

    Inventor： 渡边元之 ,  井口和也 ,  铃木健吾

    IPC: G01N21/63 ,  G01J3/443

    CPC classification number: G01N21/645 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/0267 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/4406 ,  G01J3/443 ,  G01N2201/0632 ,  G01N2201/065

    Abstract: 本发明涉及分光测定装置、分光测定方法以及分光测定程序。具备在内部配置试料(S)的积分球(20)、对来自试料(S)的被测定光进行分光从而取得波长光谱的分光分析装置(30)以及数据解析装置(50)从而构成分光测定装置(1A)。解析装置(50)具有在波长光谱中设定对应于激励光的第1对象区域以及对应于来自试料(S)的发光的第2对象区域的对象区域设定部、以及求得试料(S)的发光量子收率的试料信息解析部，根据参照测定以及样品测定的结果求得发光量子收率的测定值φ0，并且使用与参照测定中的杂散光相关的系数β、γ，并由φ＝βφ0+γ求得降低了杂散光的影响的发光量子收率的解析值φ。由此，实现了可以降低在分光器内所发生的杂散光的影响的分光测定装置、测定方法以及测定程序。

    光测量装置
    7.
    发明公开
    光测量装置 有权

    公开(公告)号：CN109477797A

    公开(公告)日：2019-03-15

    申请号：CN201780046021.9

    申请日：2017-05-12

    Applicant: 浜松光子学株式会社

    Inventor： 铃木健吾 ,  井口和也 ,  田边康行

    IPC: G01N21/64 ,  G01J1/02

    Abstract: 光测量装置(1)是对试样照射激发光而检测测量光的光测量装置。光测量装置(1)具备：积分器(20)，其形成有入射激发光的入射开口(22)、及出射测量光的出射开口(23)，且配置有试样；导光部(30)，其引导自出射开口(23)出射的测量光；及光检测部(40)，其检测由导光部(30)引导的测量光。导光部(30)具有以入射端面(32a)经由出射开口(23)而朝向积分器(20)内的方式配置的多个导光构件(32)。光检测部(40)检测由多个导光构件(32)的至少一个引导的测量光。多个导光构件(32)的入射端面(32a)侧的受光区域在积分器(20)内彼此重叠。

    分光测定方法
    8.
    发明授权
    分光测定方法 有权

    公开(公告)号：CN102187203B

    公开(公告)日：2013-06-12

    申请号：CN200980140897.5

    申请日：2009-09-08

    Applicant: 浜松光子学株式会社

    Inventor： 渡边元之 ,  井口和也 ,  铃木健吾

    IPC: G01N21/63 ,  G01J3/443

    CPC classification number: G01N21/645 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/0267 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/4406 ,  G01J3/443 ,  G01N2201/0632 ,  G01N2201/065

    Abstract: 本发明涉及分光测定装置、分光测定方法以及分光测定程序。具备在内部配置试料(S)的积分球(20)、对来自试料(S)的被测定光进行分光从而取得波长光谱的分光分析装置(30)以及数据解析装置(50)从而构成分光测定装置(1A)。解析装置(50)具有在波长光谱中设定对应于激励光的第1对象区域以及对应于来自试料(S)的发光的第2对象区域的对象区域设定部、以及求得试料(S)的发光量子收率的试料信息解析部，根据参照测定以及样品测定的结果求得发光量子收率的测定值φ0，并且使用与参照测定中的杂散光相关的系数β、γ，并由φ＝βφ0+γ求得降低了杂散光的影响的发光量子收率的解析值φ。由此，实现了可以降低在分光器内所发生的杂散光的影响的分光测定装置、测定方法以及测定程序。

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