热辐射光检测装置及激光加工装置

    公开(公告)号:CN115667865A

    公开(公告)日:2023-01-31

    申请号:CN202180035715.9

    申请日:2021-04-07

    Abstract: 本发明的热辐射光检测装置具备:框体,其具有多个壁部;光入射部,其安装于多个壁部中的1个壁部,并使热辐射光入射于框体内;光提取部,其配置于框体内,并从热辐射光提取第1波长的光及与第1波长不同的第2波长的光;第1光检测部,其安装于多个壁部中的1个壁部,并检测第1波长的光;第2光检测部,其安装于多个壁部中的1个壁部,并检测第2波长的光;及第1温度检测部,其安装于多个壁部中的、与安装有第1光检测部的壁部不同的壁部。

    半导体激光器模块、半导体激光器光源和半导体激光器系统

    公开(公告)号:CN104914518A

    公开(公告)日:2015-09-16

    申请号:CN201510106541.7

    申请日:2015-03-11

    Abstract: 本发明提供半导体激光器模块、半导体激光器光源和半导体激光器系统。半导体激光器模块(1)具备射出激光(L)的半导体激光器(21)、以及与半导体激光器(21)光学耦合并将激光(L)进行导波而射出的光纤(3),光纤(3)具有一个端面(4a)与半导体激光器(21)光学耦合的第一光纤(4),以及一个端面(5a)熔接于第一光纤(4)的另一个端面(4b)并从另一个端面(5b)射出激光(L)的第二光纤(5),第二光纤(5)包含弯曲部(7),芯的截面积比第一光纤(4)的芯的截面积大且数值孔径(NA2)等于第一光纤(4)的数值孔径(NA1)。

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