一种亮度不均匀图像的自适应增强方法

    公开(公告)号:CN111968065B

    公开(公告)日:2021-04-06

    申请号:CN202011144095.6

    申请日:2020-10-23

    Abstract: 本发明公开了一种亮度不均匀图像的自适应增强方法,包括对原始图像的色彩空间转换后,通过分别增强图像亮度的照度分量和反射分量,并对照度分量进行校正,在空间域中将校正后的照度分量与原照度分量合理合并,实现对照度分量的自适应校正,使其在增大暗像素亮度值的同时不会过度改变量亮像素的亮度值,实现亮度不均匀图像的自适应增强。本发明不仅可以提高图像暗区域亮度的同时保持图像亮区域亮度的稳定,而且图像增强后无色彩失真,具有较强的普适性。

    一种基于SD-OCT图像的青瓷釉层厚度自动测量方法

    公开(公告)号:CN110298857A

    公开(公告)日:2019-10-01

    申请号:CN201910576067.2

    申请日:2019-06-28

    Abstract: 本发明公开一种基于SD-OCT图像的青瓷釉层厚度自动测量方法。对青瓷釉层的SD-OCT图像进行降噪和二值化处理,检测图像中包含像素最多的目标定位釉层上边界并通过拉格朗日插值法优化所定位的釉层上边界;对图像的背景及目标进行分离并进行图像扁平化处理;通过形态学操作定位釉层下边界;通过SD-OCT系统测量釉层厚度定标不同类型青瓷釉层SD-OCT图像的像素轴向分辨率;计算釉层上下边界之间的像素距离并结合所对应的像素轴向分辨率,计算釉层厚度。本发明通过定标不同类型青瓷釉层SD-OCT图像的像素轴向分辨率,实现了对各种类型青瓷釉层厚度的测量,具有较强的鲁棒性和适用性,有效的提高了对青瓷釉层厚度测量的效率。

    一种SD-OCT图像的青瓷釉层厚度测量方法

    公开(公告)号:CN110146027A

    公开(公告)日:2019-08-20

    申请号:CN201910491840.5

    申请日:2019-06-06

    Abstract: 本发明公开了一种SD-OCT图像的青瓷釉层厚度测量方法。通过测量样本青瓷釉层的厚度,建立不同类型青瓷釉层折射率的数据库;采集青瓷釉层的SD-OCT图像;通过对青瓷釉层的SD-OCT图像滤波和二值化,定位釉层的上边界;再边缘检测设计结构元素,使用结构元素对边缘检测后的图像进行闭运算,提取青瓷釉层下边界;釉层上下边界像素的差值乘以每个像素的物理深度计算青瓷釉层的厚度。本发明方法实现了青瓷釉层厚度的无损实时测量,测量精度达到微米级,精确度高,根据建立的青瓷釉层折射率数据库,能够测量各种青瓷的釉层厚度,具有较强的适应性,提高了测量的效率。

    一种基于强化学习的股票预测方法及系统

    公开(公告)号:CN110059896A

    公开(公告)日:2019-07-26

    申请号:CN201910401544.1

    申请日:2019-05-15

    Abstract: 本发明公开了一种基于强化学习的股票预测方法及系统,按下述步骤进行:a、获取目标股票的历史数据,并对所述历史数据进行归一化处理,使历史数据中各类数值缩放到同一尺度,形成训练集;b、基于强化学习理论构建股票预测模型,所述的股票预测模型中包括一层输入层、一层隐含层和一层输出层;再将训练集输入至股票预测模型进行训练;c、利用训练后的股票预测模型进行股票预测,并以夏普比率和最大回撤率作为依据对股票预测模型进行评价;本发明能够达到预测股票价格趋势方向的目的,帮助股票市场投资者降低股票投资的风险度,获得期望收益。

    一种基于SD-OCT的水果近皮下细胞无损成像方法

    公开(公告)号:CN110264472B

    公开(公告)日:2021-05-04

    申请号:CN201910458419.4

    申请日:2019-05-29

    Abstract: 本发明公开了一种基于SD‑OCT的水果近皮下细胞无损成像方法。SD‑OCT仪器定标,在体扫描模式下采集水果近皮下细胞多张连续的切面图像并构建组成三维数据集,压缩每一幅切面图像;平滑图像然后使用灰度阈值结合二值化处理;使用分水岭算法区域分割,将连通的体素点归为一个初步细胞区域;对初步细胞区域进行形态学闭运算;计算每个初步细胞区域的三维空间的形态学参数,通过显微图像确定细胞筛选条件筛选。本发明实现了水果近皮下细胞成像,以及三维形态学参数的统计,对不同水果的近皮下细胞成像,三维形态学参数的统计具有普适性,交互式的选择细胞区域,提高了参数的准确性,为水果皮下细胞形态学分析奠定技术基础。

    一种SD-OCT图像的青瓷釉层厚度测量方法

    公开(公告)号:CN110146027B

    公开(公告)日:2021-02-02

    申请号:CN201910491840.5

    申请日:2019-06-06

    Abstract: 本发明公开了一种SD‑OCT图像的青瓷釉层厚度测量方法。通过测量样本青瓷釉层的厚度,建立不同类型青瓷釉层折射率的数据库;采集青瓷釉层的SD‑OCT图像;通过对青瓷釉层的SD‑OCT图像滤波和二值化,定位釉层的上边界;再边缘检测设计结构元素,使用结构元素对边缘检测后的图像进行闭运算,提取青瓷釉层下边界;釉层上下边界像素的差值乘以每个像素的物理深度计算青瓷釉层的厚度。本发明方法实现了青瓷釉层厚度的无损实时测量,测量精度达到微米级,精确度高,根据建立的青瓷釉层折射率数据库,能够测量各种青瓷的釉层厚度,具有较强的适应性,提高了测量的效率。

    一种基于光学相干断层扫描图像的真空包装漏气检测方法

    公开(公告)号:CN109580099A

    公开(公告)日:2019-04-05

    申请号:CN201811583909.9

    申请日:2018-12-24

    Abstract: 本发明公开了一种基于光学相干断层扫描图像的真空包装漏气检测方法。针对抽真空后物品包装,包装包括包覆于物品两侧的两层膜型结构,通过光学相干断层扫描采集获取包装内空间位于物品周围附近且位于非物品所在处的两层膜型结构的OCT图像,利用OCT图像处理分析获得包装内空间的两层膜型结构的关系,进而进行真空包装漏气检测。本发明可以弥补现有压差法、真空衰减测试法、CO2示踪气体法和超声波测试法等真空包装泄露测试法存在的设备体积大,检测时间长,附加设备设施要求高等缺点,通过对包装层快速成像完成漏气判别,提高了后期真空包装泄露检测的准确性和普适性。

    一种基于SD-OCT图像的青瓷釉层厚度自动测量方法

    公开(公告)号:CN110298857B

    公开(公告)日:2021-06-04

    申请号:CN201910576067.2

    申请日:2019-06-28

    Abstract: 本发明公开一种基于SD‑OCT图像的青瓷釉层厚度自动测量方法。对青瓷釉层的SD‑OCT图像进行降噪和二值化处理,检测图像中包含像素最多的目标定位釉层上边界并通过拉格朗日插值法优化所定位的釉层上边界;对图像的背景及目标进行分离并进行图像扁平化处理;通过形态学操作定位釉层下边界;通过SD‑OCT系统测量釉层厚度定标不同类型青瓷釉层SD‑OCT图像的像素轴向分辨率;计算釉层上下边界之间的像素距离并结合所对应的像素轴向分辨率,计算釉层厚度。本发明通过定标不同类型青瓷釉层SD‑OCT图像的像素轴向分辨率,实现了对各种类型青瓷釉层厚度的测量,具有较强的鲁棒性和适用性,有效的提高了对青瓷釉层厚度测量的效率。

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