-
公开(公告)号:CN119050116A
公开(公告)日:2024-11-29
申请号:CN202411165869.1
申请日:2024-08-23
Applicant: 浙江大学
IPC: H01L27/092 , H01L21/8238
Abstract: 本发明公开一种堆叠互补场效应晶体管(Complementary Field‑Effect Transistor,CFET)及其逻辑器件,包括纳米线,源极半导体,漏极半导体,沟道半导体,栅极结构和绝缘隔离介质。纳米线上分布有多个环绕柱状沟道结构半导体纳米线场效应晶体管,通过分别对其进行n型掺杂或p型掺杂形成堆叠互补场效应晶体管CFET结构,通过不同的电学连接,进而组成CMOS反相器等逻辑器件。本发明旨在提供一种由新的3D结构的堆叠互补场效应晶体管及其形成的逻辑器件。
-
公开(公告)号:CN119050144A
公开(公告)日:2024-11-29
申请号:CN202411165873.8
申请日:2024-08-23
Applicant: 浙江大学
IPC: H01L29/78 , H01L29/06 , H01L21/336 , H01L29/423 , H01L29/417 , H01L29/10 , H01L27/092
Abstract: 本发明公开一种环绕柱状沟道结构半导体纳米线场效应晶体管,包括衬底,源极半导体,漏极半导体,沟道半导体,栅极结构。源极半导体和漏极半导体通过隔离介质连接,形成源/漏极,沟道半导体环绕包裹源极半导体和漏极半导体和隔离介质,形成环绕柱状沟道结构,栅极结构环绕包裹柱状沟道。本发明旨在通过全新的沟道结构设计,实现在相同沟道长度下,晶体管得以进一步微缩,从而减小器件寄生电容和寄生电阻,减少信号传播延迟,有助于提高器件的速度和性能,提高芯片的单片集成密度,同时降低芯片功耗。
-
公开(公告)号:CN119133226A
公开(公告)日:2024-12-13
申请号:CN202411216765.9
申请日:2024-09-02
Applicant: 浙江大学
IPC: H01L29/775 , H01L21/335 , H01L27/085 , B82Y10/00
Abstract: 本发明涉及一种高度集成的晶体管,其包括位于衬底上的柱状主干结构,以及从所述柱状主干结构上外延生长的一个或多个分支结构;柱状主干和分支结构组成树状结构;单个分支结构或多个分支结构组成一个晶体管。现存普通晶体管所占衬底面积2.8um2(宽1.14um长2.44um),基于本发明,在相同面积下,集成度可以至少提高到144(4个树状结构,每个树状结构36个分支)通过改变树状结构的间距和分支层数,不断提高集成度。基于集成度和器件排布优化,可实现无需额外布线,实现3D空间不同器件连接的空间布局。本发明通过分支结构进行环栅场效应晶体管的制造,减少环栅场效应晶体管的制造步骤和难点,解决单一Ⅲ‑Ⅴ族材料制作的晶体管优缺点过于明显、综合性能较差的现象。
-
-