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公开(公告)号：CN118857694B
公开(公告)日：2025-01-07
申请号：CN202411345849.2
申请日：2024-09-26
Applicant: 泉州装备制造研究所
Abstract: 本发明适用于光学检测技术领域，提供了一种光学检测方法所述光学检测方法，包括如下步骤：获取二维光电传感器与被测光学元件的坐标，建构直角平面坐标的映射关系；分别获取所述二维光电传感器中x及y方向的剪切干涉图，分别选择18幅干涉条纹图进行相位提取；对所述相位提取结果解包裹，分别得到x方向和y方向的差分波前，进行剪切干涉波前重建，获得被测光学系统波前。本发明的光学检测方法测量被测光学系统的波像差，消除朗奇剪切干涉仪检测过程中0级与前±19级衍射产生的多级寄生干涉的影响，提高被测光学系统的波像差检测准确度，检测精度比现有的八步相移法高至少20倍。
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公开(公告)号：CN119091231A
公开(公告)日：2024-12-06
申请号：CN202411561760.X
申请日：2024-11-05
Applicant: 泉州装备制造研究所
IPC: G06V10/764 , G06V10/24 , G06V10/26 , G06V20/68
Abstract: 本发明适用于计算机视觉技术领域，提供了一种茶叶异物检测方法及系统。所述茶叶异物检测方法包括：获取被测茶叶的高光谱图像，利用SVM算法建构分类模型；利用超像素分割对所述分类模型的预测结果进行指导校正；利用校正后的所述分类模型检测茶叶中的异物。本发明对高光谱的图像的空间信息加以利用，采用超像素分割结合多数投票策略对误分类像素进行校正，超像素指导校正后，分类效果得到了进一步提升，提高了分类准确率，为茶叶异物的识别和去除提供了可行的方案。
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公开(公告)号：CN118362581B
公开(公告)日：2024-09-10
申请号：CN202410777111.7
申请日：2024-06-17
Applicant: 泉州装备制造研究所
Abstract: 本发明适用于偏振光学检测领域，提供了一种光学表面缺陷检测方法及系统。所述光学表面缺陷检测方法包括如下步骤：获取透射入光学元件表面的偏振态参数；利用所述偏振态参数的斯托克斯矢量计算出光学元件表面的透射穆勒矩阵散射分布曲线；依据所述透射穆勒矩阵散射分布曲线判断光学元件表面是否存在缺陷。本发明以偏振光入射至待测样品表面，通过入射和透射的36种偏振态组合，计算出光学元件待测区域穆勒矩阵，利用穆勒矩阵散射分布曲线实现对光学元件表面缺陷进行检测及分类。该方法检测灵敏度高，能够准确识别元件表面微米缺陷，同时具备出色的定量检测能力，包括缺陷的类别判定和尺寸测量。
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公开(公告)号：CN118857694A
公开(公告)日：2024-10-29
申请号：CN202411345849.2
申请日：2024-09-26
Applicant: 泉州装备制造研究所
Abstract: 本发明适用于光学检测技术领域，提供了一种光学检测方法所述光学检测方法，包括如下步骤：获取二维光电传感器与被测光学元件的坐标，建构直角平面坐标的映射关系；分别获取所述二维光电传感器中x及y方向的剪切干涉图，分别选择18幅干涉条纹图进行相位提取；对所述相位提取结果解包裹，分别得到x方向和y方向的差分波前，进行剪切干涉波前重建，获得被测光学系统波前。本发明的光学检测方法测量被测光学系统的波像差，消除朗奇剪切干涉仪检测过程中0级与前±19级衍射产生的多级寄生干涉的影响，提高被测光学系统的波像差检测准确度，检测精度比现有的八步相移法高至少20倍。
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公开(公告)号：CN118362581A
公开(公告)日：2024-07-19
申请号：CN202410777111.7
申请日：2024-06-17
Applicant: 泉州装备制造研究所
Abstract: 本发明适用于偏振光学检测领域，提供了一种光学表面缺陷检测方法及系统。所述光学表面缺陷检测方法包括如下步骤：获取透射入光学元件表面的偏振态参数；利用所述偏振态参数的斯托克斯矢量计算出光学元件表面的透射穆勒矩阵散射分布曲线；依据所述透射穆勒矩阵散射分布曲线判断光学元件表面是否存在缺陷。本发明以偏振光入射至待测样品表面，通过入射和透射的36种偏振态组合，计算出光学元件待测区域穆勒矩阵，利用穆勒矩阵散射分布曲线实现对光学元件表面缺陷进行检测及分类。该方法检测灵敏度高，能够准确识别元件表面微米缺陷，同时具备出色的定量检测能力，包括缺陷的类别判定和尺寸测量。
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