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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112929470B
公开(公告)日：2023-07-21
申请号：CN202110075985.4
申请日：2021-01-20
Applicant: 武汉科技大学
Abstract: 本发明属于智能手机技术领域，公开了一种智能手机、前置摄像及显示补偿系统及封装方法，智能手机前置摄像及显示补偿系统包括：透明层、主屏OLED发光层、前置摄像及显示补偿模组；透明层包括触摸层和加强层；主屏OLED发光层位于分光棱镜组正上方的部分为一个矩形缺口，用于显示绝大部分的图像和允许外界光通过所述主屏OLED发光层带有的矩形缺口进入前置摄像头成像；所述前置摄像及显示补偿模组由分光棱镜组、左OLED补偿块、右OLED补偿块和前置摄像头构成。本发明提供的OLED补偿块发光光路和前置摄像头的成像光路互不影响，能够实现100％屏占比且能充分发挥前置摄像头的功能。
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公开(公告)号：CN112929470A
公开(公告)日：2021-06-08
申请号：CN202110075985.4
申请日：2021-01-20
Applicant: 武汉科技大学
IPC: H04M1/02 , H04M1/23 , H04M1/22 , H04M1/72448
Abstract: 本发明属于智能手机技术领域，公开了一种智能手机、前置摄像及显示补偿系统及封装方法，智能手机前置摄像及显示补偿系统包括：透明层、主屏OLED发光层、前置摄像及显示补偿模组；透明层包括触摸层和加强层；主屏OLED发光层位于分光棱镜组正上方的部分为一个矩形缺口，用于显示绝大部分的图像和允许外界光通过所述主屏OLED发光层带有的矩形缺口进入前置摄像头成像；所述前置摄像及显示补偿模组由分光棱镜组、左OLED补偿块、右OLED补偿块和前置摄像头构成。本发明提供的OLED补偿块发光光路和前置摄像头的成像光路互不影响，能够实现100％屏占比且能充分发挥前置摄像头的功能。
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公开(公告)号：CN112347527B
公开(公告)日：2022-06-03
申请号：CN202011236042.7
申请日：2020-11-09
Applicant: 武汉科技大学
Abstract: 本发明属于半导体制造的无图案硅片缺陷检测技术领域，公开了一种用于暗场缺陷检测的光罩掩模板图形设计方法，利用微粗糙度表面无颗粒散射模型计算表面无颗粒情况下的光散射信号；利用光滑表面颗粒散射模型计算表面有颗粒污染情况下的光散射信号；根据所得散射光强信号求取表面颗粒散射光与表面无颗粒散射光的信号对比度s；根据信号对比度s求取能用以分离颗粒散射光的透光区域；通过表面散射模型根据透光区域，设计适用的光罩掩模板图形，滤除无法区分颗粒散射信号的散射光。本发明优化了现有的暗场缺陷检测系统中收集散射光的方法，能有效地消除硅片表面由于自身粗糙度的存在在没有颗粒污染的情况下产生的少量的光散射信号。
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公开(公告)号：CN112347527A
公开(公告)日：2021-02-09
申请号：CN202011236042.7
申请日：2020-11-09
Applicant: 武汉科技大学
Abstract: 本发明属于半导体制造的无图案硅片缺陷检测技术领域，公开了一种用于暗场缺陷检测的光罩掩模板图形设计方法，利用微粗糙度表面无颗粒散射模型计算表面无颗粒情况下的光散射信号；利用光滑表面颗粒散射模型计算表面有颗粒污染情况下的光散射信号；根据所得散射光强信号求取表面颗粒散射光与表面无颗粒散射光的信号对比度s；根据信号对比度s求取能用以分离颗粒散射光的透光区域；通过表面散射模型根据透光区域，设计适用的光罩掩模板图形，滤除无法区分颗粒散射信号的散射光。本发明优化了现有的暗场缺陷检测系统中收集散射光的方法，能有效地消除硅片表面由于自身粗糙度的存在在没有颗粒污染的情况下产生的少量的光散射信号。
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公开(公告)号：CN307193690S
公开(公告)日：2022-03-22
申请号：CN202130779268.0
申请日：2021-11-25
Applicant: 武汉科技大学城市学院
Designer： 刘宇飞
Abstract: 1.本外观设计产品的名称：展示架。
2.本外观设计产品的用途：用于展示物品的展示架。
3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。
4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图1。
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