一种用于光电子芯片测试的可配置结构

    公开(公告)号:CN118112395B

    公开(公告)日:2024-09-20

    申请号:CN202410255845.9

    申请日:2024-03-06

    Abstract: 本发明涉及芯片测试技术领域,具体涉及一种用于光电子芯片测试的可配置结构,在使用时,将待检测的光电子芯片放置到两个限位板之间,然后启动驱动电机带动第一螺杆转动,使得第一螺杆带动两个限位板相互靠近,以使得两个限位板将光电子芯片夹紧,然后启动气缸带动滑动板移动以带动光电子芯片靠近导通结构,以使得光电子芯片和高频电路板接触以导通,然后通过接头和外部装置进行连接以对光电子芯片进行测试,从而方便地对光电子芯片进行定位,以使得光电子芯片更加准确地和高频电路板对接,从而提高测试效率。其中导通结构是通过限位板安装到安装台上的,因此若是要测试不同的光电子芯片,则拆下限位块进行更换。

    一种用于光电子芯片测试的可配置结构

    公开(公告)号:CN118112395A

    公开(公告)日:2024-05-31

    申请号:CN202410255845.9

    申请日:2024-03-06

    Abstract: 本发明涉及芯片测试技术领域,具体涉及一种用于光电子芯片测试的可配置结构,在使用时,将待检测的光电子芯片放置到两个限位板之间,然后启动驱动电机带动第一螺杆转动,使得第一螺杆带动两个限位板相互靠近,以使得两个限位板将光电子芯片夹紧,然后启动气缸带动滑动板移动以带动光电子芯片靠近导通结构,以使得光电子芯片和高频电路板接触以导通,然后通过接头和外部装置进行连接以对光电子芯片进行测试,从而方便地对光电子芯片进行定位,以使得光电子芯片更加准确地和高频电路板对接,从而提高测试效率。其中导通结构是通过限位板安装到安装台上的,因此若是要测试不同的光电子芯片,则拆下限位块进行更换。

    一种花式组合弓形折流板换热器

    公开(公告)号:CN221505782U

    公开(公告)日:2024-08-09

    申请号:CN202323065948.9

    申请日:2023-11-09

    Abstract: 本实用新型属于换热器技术领域,提供了一种花式组合弓形折流板换热器,包括换热器筒体、固定设置于所述换热器筒体内部的换热管;所述换热器筒体内壁上固定设有多个上折流板和下折流板,所述上折流板上设有用于所述换热管穿过的上孔状结构,所述下折流板上设有用于所述换热管穿过的下孔状结构,所述上折流板与所述下折流板交替间隔布置,所述上折流板与相邻所述下折流板之间设有中芯折流板,所述中芯折流板设有用于所述换热管穿过的孔状结构,且所述中芯折流板与所述换热管固定。该换热器通过在上折流板和相邻的下折流板之间设置中芯折流板,可以改变壳程流体的流动路线,有效减少流动“死区”,避免污垢附着,降低壳程流体压降,提高换热效率。

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