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公开(公告)号：CN113055068B
公开(公告)日：2022-06-10
申请号：CN202011106904.4
申请日：2020-10-16
Applicant: 武汉大学
IPC: H04B7/0456
Abstract: 本发明公开了一种大规模MIMO快速收敛的低复杂度预编码方法，该方法包括以下步骤：步骤1、启动预编码程序，对MIMO发送天线的相关参数进行初始化；步骤2、根据初始化参数，利用切比雪夫半迭代算法加速对称超松弛算法完成预编码求逆过程；步骤3、根据算法迭代得到的结果，产生MIMO发送天线的待发送信号，预编码程序结束。其中，参数初始化包括参数初始化，设定发送天线数量，单天线用户数，信道传输矩阵。通过计算比较预编码的误码率和传输速率以及运算复杂度，与理论值相比较，本发明提出的方法具有更快的收敛性，更低的复杂度以及更优的性能。
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公开(公告)号：CN112149373B
公开(公告)日：2022-06-03
申请号：CN202011021794.1
申请日：2020-09-25
Applicant: 武汉大学
IPC: G06F30/367 , G06N3/04
Abstract: 本发明公开了一种复杂模拟电路故障识别与估计方法及系统，属于电力电子电路故障预测领域，其中，方法的实现包括：建立待诊断模拟电路的退化仿真模型，进行不同器件的参数老化模拟实验；利用时序变换方法提取输出信号的一系列时域特征，基于角相似度建立器件的健康指数；结合时间滑窗和卷积神经网络对电路是否发生退化及退化起点进行识别；复用前续识别网络中的部分隐含层和长短时记忆循环网络对退化中的模拟电路进行健康状态估计；对预测准确性进行评估。本发明能在准确识别模拟电路的故障状态起点的同时有效估计模拟电路的健康状态，具有运算效率高，识别准确的特点。
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公开(公告)号：CN113055068A
公开(公告)日：2021-06-29
申请号：CN202011106904.4
申请日：2020-10-16
Applicant: 武汉大学
IPC: H04B7/0456
Abstract: 本发明公开了一种大规模MIMO快速收敛的低复杂度预编码方法，该方法包括以下步骤：步骤1、启动预编码程序，对MIMO发送天线的相关参数进行初始化；步骤2、根据初始化参数，利用切比雪夫半迭代算法加速对称超松弛算法完成预编码求逆过程；步骤3、根据算法迭代得到的结果，产生MIMO发送天线的待发送信号，预编码程序结束。其中，参数初始化包括参数初始化，设定发送天线数量，单天线用户数，信道传输矩阵。通过计算比较预编码的误码率和传输速率以及运算复杂度，与理论值相比较，本发明提出的方法具有更快的收敛性，更低的复杂度以及更优的性能。
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公开(公告)号：CN112149373A
公开(公告)日：2020-12-29
申请号：CN202011021794.1
申请日：2020-09-25
Applicant: 武汉大学
IPC: G06F30/367 , G06N3/04
Abstract: 本发明公开了一种复杂模拟电路故障识别与估计方法及系统，属于电力电子电路故障预测领域，其中，方法的实现包括：建立待诊断模拟电路的退化仿真模型，进行不同器件的参数老化模拟实验；利用时序变换方法提取输出信号的一系列时域特征，基于角相似度建立器件的健康指数；结合时间滑窗和卷积神经网络对电路是否发生退化及退化起点进行识别；复用前续识别网络中的部分隐含层和长短时记忆循环网络对退化中的模拟电路进行健康状态估计；对预测准确性进行评估。本发明能在准确识别模拟电路的故障状态起点的同时有效估计模拟电路的健康状态，具有运算效率高，识别准确的特点。
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公开(公告)号：CN113030764B
公开(公告)日：2022-01-25
申请号：CN202110240005.1
申请日：2021-03-04
Applicant: 武汉大学
IPC: G01R31/396 , G01R31/392 , G01R31/367 , G01R31/36 , G01R31/378 , G01R31/00
Abstract: 本发明公开了一种电池组健康状态估计方法及系统，属于电池技术领域，包括：测量锂电池组每个充放电周期的健康状态数据序列以及每个充电阶段锂电池组的端电压以及温度数据序列；计算锂电池组随着充放电周期的电压熵数据序列和温度均值数据序列；基于锂电池组随着充放电周期的电压熵数据序列、温度均值序列与健康状态数据序列，应用粒子群算法对长短期记忆神经网络的学习率进行优化选择；应用粒子群优化获得的学习率，建立长短时记忆神经网络的健康状态估计模型；应用建立的长短时记忆神经网络的健康状态估计模型估计锂电池组的健康状态。本发明通过电压熵与均值温度有效反应锂电池组的容量退化，可精确估计锂电池组的健康状态。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112444759B
公开(公告)日：2021-09-14
申请号：CN202011245559.2
申请日：2020-11-10
Applicant: 武汉大学
IPC: G01R31/54 , G01R31/327 , G01R19/165
Abstract: 本发明公开了一种三相三电平整流器的故障诊断方法及系统，属于电力电子设备故障诊断技术领域，目的是实现对其功率开关器件开路故障的识别与定位。本发明采用相间极电压的期望值和实际值的偏差作为诊断变量，采用一种筛选计算方法对诊断变量进行计算，进而减小了计算误差，保证了诊断的准确性。计算该诊断变量只需要整流器控制系统内已有的电压电流信号，因此无需增加额外硬件即可实现低成本的故障诊断。针对不同的故障特征段采用不同的电压阈值，并根据直流侧电压实时更新电压阈值，提高诊断速度的同时，又能确保较高的鲁棒性。采用一种诊断结果核验的方法扩展了可诊断的故障类型数量，使本发明可以实现对整流器中所有功率开关器件的故障诊断。
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公开(公告)号：CN112084651A
公开(公告)日：2020-12-15
申请号：CN202010927855.4
申请日：2020-09-07
Applicant: 武汉大学
IPC: G06F30/20 , G06F119/02 , G06F119/08
Abstract: 本发明公开了一种计及疲劳损伤的多时间尺度风电IGBT可靠性评估方法及系统，利用多时间尺度来综合提取功率器件的寿命信息；建立IGBT模块的电热耦合模型用以获得结温数据；建立IGBT在不同老化状态下的稳态结温数据库；在短期时间尺度剖面下，基于SCADA监测数据，通过电热耦合模型实时输出结温数据，并计算实时热应力循环次数；在长期时间尺度剖面下，依托风机SCADA监测数据获得风速概率分布曲线；结合Bayerer寿命预测模型和稳态结温数据库预先获得在不同老化阶段IGBT可承受的最大热应力循环次数；以热应力循环次数为衔接不同时间尺度的评估结果，计算风电变流器IGBT的累积损伤度和预估寿命。本发明具备较强的在线监测能力。
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公开(公告)号：CN113884944B
公开(公告)日：2022-07-19
申请号：CN202111061441.9
申请日：2021-09-10
Applicant: 武汉大学
IPC: G01R31/54
Abstract: 本发明公开了一种基于平均相电压模型的非侵入式两电平三相变换器多管开路故障诊断方法及系统，属于电力电子设备故障诊断技术领域。通过空间电压矢量调制技术、伏秒平衡和坐标变换原理，得出开路故障后基本电压矢量的变化规律，基于基尔霍夫电压定律和前向欧拉离散化方法，求取一个开关周期内的平均相电压，得到由网侧平均相电压GAPV模型和变换器侧平均相电压CAPV模型组成的平均相电压APV模型，GAPV和CAPV之间的相电压残差能够用于单管开路故障诊断和双管开路故障诊断。本发明仅需要已有的中间变量，故障定位仅需残差极性判断，避免了复杂的极性序列判断，具备正确性验证能力，增强了鲁棒性，防止了误警报。
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公开(公告)号：CN112798982B
公开(公告)日：2021-12-14
申请号：CN202011591686.8
申请日：2020-12-29
Applicant: 武汉大学
Abstract: 本发明公开了一种基于模型的三相变流器功率管开路故障诊断方法及系统，属于电力电子设备故障诊断技术领域，能够在不增加额外硬件的情况下，实现对三相变流器功率管开路故障的快速、准确的诊断。本发明所述故障诊断方式只需要变流器控制系统中已经存在的采样电流电压信号以及驱动信号，具有实现简单的优点。本发明以变流器功率管开路故障后采样电流与估计电流的差值的周期累加值为诊断变量，可以快速准确的完成对故障功率管的诊断，具有较强的实用性。
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公开(公告)号：CN113221495A
公开(公告)日：2021-08-06
申请号：CN202110425369.7
申请日：2021-04-20
Applicant: 武汉大学
IPC: G06F30/367 , G06F30/373 , G06F111/10 , G06F119/02 , G06F119/12
Abstract: 本发明公开了一种基于时间序列的超辐射发光二极管可靠性建模方法及系统，包括：对试验数据进行收集，并按照时间的顺序对数据进行排列；对序列的特征进行观察，选取合适的模型进行拟合，根据数据拟合模型的拟合口径，对模型进行检验并进行优化；使用拟合后的模型来判断序列其他的统计量属性，预测后面的发展，计算超辐射发光二极管伪失效寿命；使用可靠性模型对超辐射发光二极管建模，计算相关可靠性相关指标并进行预测。本发明根据超辐射发光二极管的数据退化特性选取拟合模型，选取多组参数口径，并根据相关指标进行对比，最后得到最优模型，再根据模型计算超辐射发光二极管伪失效寿命，进行可靠性建模，完成超辐射发光二极管的可靠性建模工作。
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