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公开(公告)号:CN110245386B
公开(公告)日:2022-05-31
申请号:CN201910415255.7
申请日:2019-05-17
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G06F30/20
Abstract: 本发明公开了一种功率器件可靠性的评估方法、装置以及存储介质,涉及半导体器件可靠性评估领域,该方法包括以下步骤:获取待评估的功率器件的属性;基于所述功率器件的属性确定研究因子,并根据所述研究因子建立可靠性评估模型;基于所述可靠性评估模型评估所述功率器件的可靠性。同时还提出一种功率器件可靠性的评估装置,以及提出一种计算机可读存储介质用于实现一种功率器件可靠性的评估方法的步骤。本发明使得所述可靠性评估模型能够专注所述研究因子对功率器件的影响进行可靠性评估,能够准确对功率器件的可靠性进行评估。
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公开(公告)号:CN107607581B
公开(公告)日:2019-09-20
申请号:CN201710915217.9
申请日:2017-09-30
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G01N25/20
Abstract: 本发明公开了一种基于差示扫描量热法对LED元器件的稳定性和可靠性的检测方法,其特征在于包括如下步骤:1)取样;2)拆解分组;3)预处理;4)标准样品比热曲线测试;5)试样测试;6)DSC曲线参数计算;7)自由能计算;8)比较判定。这种方法能够快速准确的对LED元器件各部分的稳定性作出判断并对LED元器件的可靠性进行评估,为LED元器件的构件选材提供参考,从而提高产品质量。
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公开(公告)号:CN109657849A
公开(公告)日:2019-04-19
申请号:CN201811496041.9
申请日:2018-12-07
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G06Q10/04 , G06Q10/06 , F21V19/00 , F21Y115/10
Abstract: 本发明公开了一种基于网络分析法的LED灯阵列布线方法,能够根据用户的使用要求及使用场所,确定灯具结构和节能等级以及LED灯的型号和LED灯的数量,然后运用网络分析法对灯具的总花费成本进行分析;根据所选灯具结构将灯具结构进行网格化划分,并在网格中通过组合排列产生数组LED阵列坐标;然后通过网络分析模型对每组LED阵列坐标对应的LED阵列的照明均匀性、散热效果、光照强度和最低总花费成本进行权重比例分析,并根据所述权重比例选择出最佳的LED阵列坐标,得到最佳LED灯阵列布线。本发明基于网络分析法,能够针对用户使用需求和使用场所要求,提出一种最佳的LED阵列分布方式,能够为用户自动筛选出一种最佳的LED阵列布线方式。
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公开(公告)号:CN109657849B
公开(公告)日:2024-03-22
申请号:CN201811496041.9
申请日:2018-12-07
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G06Q10/04 , G06Q10/0631 , F21V19/00 , F21Y115/10
Abstract: 本发明公开了一种基于网络分析法的LED灯阵列布线方法,能够根据用户的使用要求及使用场所,确定灯具结构和节能等级以及LED灯的型号和LED灯的数量,然后运用网络分析法对灯具的总花费成本进行分析;根据所选灯具结构将灯具结构进行网格化划分,并在网格中通过组合排列产生数组LED阵列坐标;然后通过网络分析模型对每组LED阵列坐标对应的LED阵列的照明均匀性、散热效果、光照强度和最低总花费成本进行权重比例分析,并根据所述权重比例选择出最佳的LED阵列坐标,得到最佳LED灯阵列布线。本发明基于网络分析法,能够针对用户使用需求和使用场所要求,提出一种最佳的LED阵列分布方式,能够为用户自动筛选出一种最佳的LED阵列布线方式。
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公开(公告)号:CN110245386A
公开(公告)日:2019-09-17
申请号:CN201910415255.7
申请日:2019-05-17
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种功率器件可靠性的评估方法、装置以及存储介质,涉及半导体器件可靠性评估领域,该方法包括以下步骤:获取待评估的功率器件的属性;基于所述功率器件的属性确定研究因子,并根据所述研究因子建立可靠性评估模型;基于所述可靠性评估模型评估所述功率器件的可靠性。同时还提出一种功率器件可靠性的评估装置,以及提出一种计算机可读存储介质用于实现一种功率器件可靠性的评估方法的步骤。本发明使得所述可靠性评估模型能够专注所述研究因子对功率器件的影响进行可靠性评估,能够准确对功率器件的可靠性进行评估。
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公开(公告)号:CN107607581A
公开(公告)日:2018-01-19
申请号:CN201710915217.9
申请日:2017-09-30
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G01N25/20
Abstract: 本发明公开了一种基于差示扫描量热法对LED元器件的稳定性和可靠性的检测方法,其特征在于包括如下步骤:1)取样;2)拆解分组;3)预处理;4)标准样品比热曲线测试;5)试样测试;6)DSC曲线参数计算;7)自由能计算;8)比较判定。这种方法能够快速准确的对LED元器件各部分的稳定性作出判断并对LED元器件的可靠性进行评估,为LED元器件的构件选材提供参考,从而提高产品质量。
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公开(公告)号:CN207049672U
公开(公告)日:2018-02-27
申请号:CN201721046678.9
申请日:2017-08-21
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: F21L4/00 , F21V23/04 , F21V23/00 , F21Y115/10
Abstract: 本实用新型公开了一种指环式LED照明装置,包括发光底座和与之可拆卸式连接的指环,所述发光底座设有弹簧开关、电池仓、充电接口、调光控制模块、触摸式调档开关和与发光底座可转动式连接的发光体,所述发光体的一端与弹簧开关靠接并与发光底座铰接,发光体的另一端依次设有突起和LED灯,LED灯与弹簧开关、电池仓、充电接口、调光控制模块、触摸式调档开关电连接。这种指环式LED照明装置结构轻小、携带方便、使用灵活、同时灯光亮度可调并且聚光效果好,成本低、实用性好。
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