公开(公告)号：CN107607581A

公开(公告)日：2018-01-19

申请号：CN201710915217.9

申请日：2017-09-30

Applicant: 桂林电子科技大学

Inventor： 刘东静 ,  樊亚松 ,  张朝阳 ,  郑贵方 ,  杨道国 ,  刘汗青

IPC: G01N25/20

Abstract: 本发明公开了一种基于差示扫描量热法对LED元器件的稳定性和可靠性的检测方法，其特征在于包括如下步骤：1）取样；2）拆解分组；3）预处理；4）标准样品比热曲线测试；5）试样测试；6）DSC曲线参数计算；7）自由能计算；8）比较判定。这种方法能够快速准确的对LED元器件各部分的稳定性作出判断并对LED元器件的可靠性进行评估，为LED元器件的构件选材提供参考，从而提高产品质量。

公开(公告)号：CN107607581B

公开(公告)日：2019-09-20

申请号：CN201710915217.9

申请日：2017-09-30

Applicant: 桂林电子科技大学

Inventor： 刘东静 ,  樊亚松 ,  张朝朝 ,  郑贵方 ,  杨道国 ,  刘汗青

IPC: G01N25/20

Abstract: 本发明公开了一种基于差示扫描量热法对LED元器件的稳定性和可靠性的检测方法，其特征在于包括如下步骤：1）取样；2）拆解分组；3）预处理；4）标准样品比热曲线测试；5）试样测试；6）DSC曲线参数计算；7）自由能计算；8）比较判定。这种方法能够快速准确的对LED元器件各部分的稳定性作出判断并对LED元器件的可靠性进行评估，为LED元器件的构件选材提供参考，从而提高产品质量。