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公开(公告)号：CN110245386B
公开(公告)日：2022-05-31
申请号：CN201910415255.7
申请日：2019-05-17
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G06F30/20
Abstract: 本发明公开了一种功率器件可靠性的评估方法、装置以及存储介质，涉及半导体器件可靠性评估领域，该方法包括以下步骤：获取待评估的功率器件的属性；基于所述功率器件的属性确定研究因子，并根据所述研究因子建立可靠性评估模型；基于所述可靠性评估模型评估所述功率器件的可靠性。同时还提出一种功率器件可靠性的评估装置，以及提出一种计算机可读存储介质用于实现一种功率器件可靠性的评估方法的步骤。本发明使得所述可靠性评估模型能够专注所述研究因子对功率器件的影响进行可靠性评估，能够准确对功率器件的可靠性进行评估。
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公开(公告)号：CN112132160A
公开(公告)日：2020-12-25
申请号：CN202010929421.8
申请日：2020-09-07
Applicant: 桂林电子科技大学
Abstract: 本发明提供了一种破损零件的修复方法、设备和计算机可读存储介质。破损零件的修复方法包括：扫描破损零件，获取破损零件的点云数据；根据原零件的点云数据和破损零件的点云数据，获取破损零件的破损轮廓；根据破损轮廓，获取外部破损轮廓和内部断裂轮廓；根据内部断裂轮廓，修复内部断裂区域；根据外部破损轮廓，修复外部破损区域。本发明所提供的破损零件的修复方法，使得零件可恢复至未破损时的零件形状，进而使得零件可再次使用，减小因更换零件而产生的费用，并且减小了因零件破损而对设备精度的影响，实现了在不浪费破损零件的情况下，确保了设备的精度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112132160B
公开(公告)日：2024-03-01
申请号：CN202010929421.8
申请日：2020-09-07
Applicant: 桂林电子科技大学
Abstract: 本发明提供了一种破损零件的修复方法、设备和计算机可读存储介质。破损零件的修复方法包括：扫描破损零件，获取破损零件的点云数据；根据原零件的点云数据和破损零件的点云数据，获取破损零件的破损轮廓；根据破损轮廓，获取外部破损轮廓和内部断裂轮廓；根据内部断裂轮廓，修复内部断裂区域；根据外部破损轮廓，修复外部破损区域。本发明所提供的破损零件的修复方法，使得零件可恢复至未破损时的零件形状，进而使得零件可再次使用，减小因更换零件而产生的费用，并且减小了因零件破损而对设备精度的影响，实现了在不浪费破损零件的情况下，确保了设备的精度。
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公开(公告)号：CN109657849A
公开(公告)日：2019-04-19
申请号：CN201811496041.9
申请日：2018-12-07
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G06Q10/04 , G06Q10/06 , F21V19/00 , F21Y115/10
Abstract: 本发明公开了一种基于网络分析法的LED灯阵列布线方法，能够根据用户的使用要求及使用场所，确定灯具结构和节能等级以及LED灯的型号和LED灯的数量，然后运用网络分析法对灯具的总花费成本进行分析；根据所选灯具结构将灯具结构进行网格化划分，并在网格中通过组合排列产生数组LED阵列坐标；然后通过网络分析模型对每组LED阵列坐标对应的LED阵列的照明均匀性、散热效果、光照强度和最低总花费成本进行权重比例分析，并根据所述权重比例选择出最佳的LED阵列坐标，得到最佳LED灯阵列布线。本发明基于网络分析法，能够针对用户使用需求和使用场所要求，提出一种最佳的LED阵列分布方式，能够为用户自动筛选出一种最佳的LED阵列布线方式。
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公开(公告)号：CN109657849B
公开(公告)日：2024-03-22
申请号：CN201811496041.9
申请日：2018-12-07
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G06Q10/04 , G06Q10/0631 , F21V19/00 , F21Y115/10
Abstract: 本发明公开了一种基于网络分析法的LED灯阵列布线方法，能够根据用户的使用要求及使用场所，确定灯具结构和节能等级以及LED灯的型号和LED灯的数量，然后运用网络分析法对灯具的总花费成本进行分析；根据所选灯具结构将灯具结构进行网格化划分，并在网格中通过组合排列产生数组LED阵列坐标；然后通过网络分析模型对每组LED阵列坐标对应的LED阵列的照明均匀性、散热效果、光照强度和最低总花费成本进行权重比例分析，并根据所述权重比例选择出最佳的LED阵列坐标，得到最佳LED灯阵列布线。本发明基于网络分析法，能够针对用户使用需求和使用场所要求，提出一种最佳的LED阵列分布方式，能够为用户自动筛选出一种最佳的LED阵列布线方式。
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公开(公告)号：CN112132161A
公开(公告)日：2020-12-25
申请号：CN202010930788.1
申请日：2020-09-07
Applicant: 桂林电子科技大学
Abstract: 本发明提供了一种磨损零件的修复方法、设备和计算机可读存储介质，磨损零件的修复方法包括：扫描磨损零件，获取磨损零件的点云数据；根据原零件的点云数据和磨损零件的点云数据，拟合磨损零件的磨损轮廓和磨损断面；根据磨损轮廓和磨损断面，修复磨损零件的磨损区域。本发明所提供的磨损零件的修复方法，修复零件的磨损区域，使得零件可恢复至未磨损时的零件形状，进而使得零件可再次使用，减小因更换零件而产生的费用，并且减小了因零件磨损而对设备精度的影响，实现了在不浪费磨损零件的情况下，确保了设备的加工精度。
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公开(公告)号：CN110245386A
公开(公告)日：2019-09-17
申请号：CN201910415255.7
申请日：2019-05-17
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种功率器件可靠性的评估方法、装置以及存储介质，涉及半导体器件可靠性评估领域，该方法包括以下步骤：获取待评估的功率器件的属性；基于所述功率器件的属性确定研究因子，并根据所述研究因子建立可靠性评估模型；基于所述可靠性评估模型评估所述功率器件的可靠性。同时还提出一种功率器件可靠性的评估装置，以及提出一种计算机可读存储介质用于实现一种功率器件可靠性的评估方法的步骤。本发明使得所述可靠性评估模型能够专注所述研究因子对功率器件的影响进行可靠性评估，能够准确对功率器件的可靠性进行评估。
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